產品詳情
  • 產品名稱:微型互感器校驗儀 微型互感器誤差檢定裝置 變頻式互感器測試儀

  • 產品型號:HN10A
  • 產品廠商:華能
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簡單介紹:
CT勵磁/直阻/變比/極性/角差/比差試驗,接CT二次側; PT變比/極性/角差/比差試驗,接被測PT一次側(高壓側); PT勵磁/直阻試驗時,接被測PT二次繞組(低壓側)微型互感器校驗儀 微型互感器誤差檢定裝置 變頻式互感器測試儀
詳情介紹:

半導體材料研究和器件測試通常要測量樣本的電阻率和霍爾電壓。半導體材料的電阻率主要取決於體摻雜,在器件中,電阻率會影響電容、串聯電阻和閾值電壓。霍爾電壓測量用來推導半導體類型(n還是p)、自由載流子密度和遷移率。為確定半導體範德堡法電阻率和霍爾電壓,進行電氣測量時需要一個電流源和一個電壓表。為自動進行測量,一般會使用一個可編程開關,把電流源和電壓表切換到樣本的所有側。A-SCS參數儀擁有4個源測量單元(SMUs)和4個前置放大器(用於高電阻測量),可以自動進行這些測量,而不需可編程開關。

HN17A極速互感器檢定裝置 

微型互感器校驗儀 微型互感器誤差檢定裝置 變頻式互感器測試儀微型互感器校驗儀 微型互感器誤差檢定裝置 變頻式互感器測試儀
該裝置由
HN17A極速互感器校驗儀、電流負載箱、控製櫃、電流互感器測試台等幾個部分組成。在保持原技術特點的前提下,在電流互感器的快速測量、測試點的快速、以及負荷箱、變比的互感器覆蓋等方麵有了很大的提高。

智能技術讓監控設備具備自主感知、圖像識彆、深度學習能力,將安防監控的事後取證延伸到事前預警、事中快速處置、事後海量數據的證據鏈的檢索等,從而程度提升監控的效率。在紅外攝像機上加入智能功能,限度的解放了人力,目前它不僅實現對事件結果的和融合應用,還可以形成對事件內在發展規律的結果輸出,輔助科學決策,快速解決實際的問題。為了將熱成像與人工智能進行結合,擴充熱成像技術的延展性,FLIR將其世界的長波紅外(LWIR)技術和Movidius行業的視覺處理單元(VPU)集成到一個熱成像內核中,使其能夠在低功耗下進行先進的圖像處理,為其熱成像產品帶來人工智能。微型互感器校驗儀 微型互感器誤差檢定裝置 變頻式互感器測試儀

 主要特點     

1、該互感器檢定裝置細調節采用了程控源技術,使測試點的更加快速、準確。

2、該互感器檢定裝置在多隻電流互感器測量速度方麵有了質的提高,在3-5分鐘的時間裡可測量十二隻任何變比的電流互感器。

3、極速互感器檢定裝置配置了1A、5A的標準電流互感器,電流負荷箱配置了1A、5A負載值2.5VA-80VA,電壓負載箱配置了100V、100/1.732負載值從1.25VA-158.75VA基本上可滿足用戶的要求。負載箱在測量時可進行自動切換。

 4、此互感器檢定裝置可進行互感器的規程和非規程的測量,測量時用戶可對任何百分點的測量。

有冇有一個曝光時間能夠**涵蓋一個場景的溫度變化,並測量該場景的所有冷熱物體?冇有,但有另一個選項。解決方案:FLIR超幀技術FLIR超幀技術指的是,在一個快速的連續時間內,以逐漸加快的曝光時間拍攝一組4幅具有代表性的場景圖像(子幀),然後重複這個循環。每次循環的子幀被合並為一個超幀,如我們所知,這個超幀結合了曝光時間不同的4個子幀的特性。這一過程稱為疊加。采用這種方式,疊加算法生成的超幀圖像對比度高,溫度範圍廣。微型互感器校驗儀 微型互感器誤差檢定裝置 變頻式互感器測試儀技術參數

2、測量範圍:
   同相分量(%):0.0001~200.0       分辨率:0.0001
   正交分量(分):0.001~700.0       分辨率:0.001
   阻抗(W):0.0001~20.0         分辨率:0.0001
   導納(ms):0.0001~20.0        分辨率:0.0001

20世紀80年始,非製冷紅外焦平麵陣列探測器在美國支持下發展起來的,在1992年研發完成後才對布。初期技術路線包括德州儀器研製的BST熱釋電探測器和霍尼韋爾研製的氧化釩(VOx)微測輻射熱計探測器。後來由於熱釋電技術本身的一些局限性,微測輻射熱計探測器逐漸勝出。2009年,L-3公司終宣布停止繼續生產熱釋電探測器。之後,法國的CEA/LETI以及德州儀器公司又分彆研製了非晶矽(a-Si)微測輻射熱計探測器。微型互感器校驗儀 微型互感器誤差檢定裝置 變頻式互感器測試儀

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