產品名稱：HN12FCT綜合分析儀 長期供應

CAN一致性測試，就是要求整車CAN網絡中的節點都滿足CAN總線節點規範要求，縮小CAN網絡中節點差異，保證CAN網絡的環境穩定，有效提高CAN網絡的抗乾擾能力。那主機廠為什麼愈來愈重視CAN一致性測試呢？整車CAN網絡架構以往的傳統車的CAN總線網絡節點較少，如儀表、發動機ECU等。但隨著新能源汽車行業發展，整車CAN網絡中的節點演變得極為複雜，現在新能源汽車內部CAN節點已經高達60個，細分為多個CAN網絡係統，如車身部含有空調、車門、導航等節點，**係統又含有氣囊、引爆管等節點。

HN12A變頻式互感器綜合儀（CT/PT儀）

功能簡介：

1 勵磁特性試驗

2 變比試驗

3 相位和極性試驗

4 CT一次電流及負荷時的比差、角差測量

5 CT二次繞組電阻測量

6 CT二次回路負荷測量

7 CT暫態特性測試與

8 CT升流試驗

9 測量校核型號的CT、PT，包括保護CT、計量CT、TP級暫態CT、勵磁飽和電壓達到40KV的CT、變壓器套管CT、各電壓級PT等.

10 點電壓/電流、10%(5%)誤差曲線、準確限值係數、儀表保安係數、二次時間常數、剩磁係數、準確級、飽和和不飽和電感等CT、PT參數的測量.

自動給出點電壓/電流、 10％誤差曲線、 5％誤差曲線、準確限值係數（ALF）、 儀表保安係數（FS）、 二次時間常數(Ts)、剩磁係數(Kr)、準確級、飽和和不飽和電感等參數。半導體生產流程由晶圓製造，晶圓測試，芯片封裝和封裝後測試組成，晶圓製造和芯片封裝討論較多，而測試環節的相關知識經常被邊緣化，下麵集中介紹集成電路芯片測試的相關內容，主要集中在WAT，CP和FT三個環節。集成電路設計、製造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數來監控各步工藝是否正常和穩定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成製程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據，測試方法是用ProbeCard紮在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機台上，由WATRecipe自動控製測試位置和內容，測完某條TestKey後，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。

技術參數：

輸出電壓：0~180V (RMS)
■ 輸出電流：0~12A，峰值36A
■ 電壓測量：準確度 ±0.1%
■ CT變比測量範圍：1~30000
■ PT變比測量範圍：1~30000HN12FCT綜合儀 長期供應本文通過對常用20種液位計工作原理的解讀，從各液位計安裝使用及注意事項的，來判斷液位計可能出現的故障現象以及如何來處理，讓儀表人係統的了解液位計，從而為遇到工況能夠在選擇液位計上，做出準確的判斷提供依據。常用液位計的工作原理磁翻板液位計磁翻板液位計：又叫磁浮子液位計，磁翻柱液位計。原理：連通器原理，根據浮力原理和磁性耦合作用研發而成，當被測容器中的液位升降時，浮子內的磁鋼通過磁耦合傳遞到磁翻柱指示麵板，使紅白翻柱翻轉180°，當液位上升時翻柱由白色轉為紅色，當液位下降時翻柱由紅色轉為白色，麵板上紅白交界處為容器內液位的實際高度，從而實現液位顯示。