產品名稱：全自動伏安特性測試儀 電壓互感器校驗儀 全自動互感器校驗台

孔板流量計選型逐漸的趨向現代化和智能化，主要特點表現在以下幾個方麵：要重視可靠性設計可靠性理論廣泛應用於工程技術的各個領域，其分支——可靠性和設計更是在先進的孔板流量計設計中得到重視和應用。我們必須深刻認識到高水平的產品離開高可靠性做保證就是廢品。國外先進的孔板流量計，在設計階段就十分注意可靠性的與設計。運用可靠性分配理論，將可靠性指標從係統整機到部件級、元器件級逐級分配，從而使整機的可靠性得到保證。
HN10A互感器特性綜合測試儀全自動伏安特性測試儀 電壓互感器校驗儀 全自動互感器校驗台

功能簡介：

測試互感器：PT、CT（保護類、計量類）、伏安特性（勵磁特性）曲線、自動給出點值、自動給出5%和10%的誤差曲線、變比測量、比差測量、相位（角差）測量、極性判斷、一次通流測試、交流耐壓測試、二次負荷測試、二次繞組測試、鐵心退磁等設計的多功能現場試驗儀器。

技術參數：

1、工作電源：AC220V±10% 、50Hz

2、設備輸出：0～2500Vrms， 5Arms（20A峰值）

3、大電流輸出：0～1000A

4、二次繞組電阻測量範圍：0.1～50Ω

5、二次繞組電阻測量準度：≤0.5%、分辨力0.01

6、二次實際負荷測量範圍：5～300VA

7、二次實際負荷測量準度：≤0.5%±0.1VA目前，大多數蜂窩采用時分多址(TDMA)標準，這種複用技術以217Hz的頻率對高頻載波進行通/斷脈衝調製。容易受到RF乾擾的IC會對該載波信號進行解調，再生出217Hz及其諧波成分的信號。由於這些頻譜成分的絕大多數都落入音頻範圍，因此它們會產生令人生厭的“嗡嗡”聲。由此可見，RF抗乾擾能力較差的電路會對蜂窩的RF信號解調，並會產生不希望聽到的低頻噪音。作為質量保證的測試手段，測量時需要將電路置於RF環境中，該環境要與正常操作時電路的工作環境相當。

軟件使用說明 

11.1 將配套光盤放入計算機光驅中，解壓“軟件”至C盤根目錄。

11.2，安裝“wic_x86_chs.exe”文件，其次，安裝“dotNetFx40_Full_x86_x64.exe”軟件，默認安裝地址即可。

11.3安裝完畢後，打開“伏安特性”文件夾，選擇打開“VATeXing.exe”操作軟件，如圖38即為上位機操作軟件。

11.4在“VATeXing.exe”操作軟件中，下方選擇互感器種類“CT”或“PT”，應用語言“中文”或“英文”。

11.5如需生成報告格式文件，必須載入試驗結果數據，具體操作方法如下：

a）、將存儲試驗數據的U盤連接至計算機。

b）、在圖38中選擇打開“選擇文件”，出現圖39操作窗口，在圖39中可根據需要載入所需文件。

c）、試驗結果數據說明：以“A”為開頭的數據為勵磁特性結果數據，以“B”為開頭的數據為變比極性結果數據，以“C”為開頭的數據為負荷結果數據，以“D”為開頭的數據為直阻結果數據。以“E”為開頭的數據為角差比差結果數據，以“T”為開頭的數據為暫態結果數據。

11.6 載入數據結束後，選擇“確定”出現圖40界麵，在此界麵右上方設置相應參數後，選擇“生成誤差曲線”則完成所有試驗結果的載入。

11.7 載入完成後，可根據需要選擇“保存”或打印結果數據。

11.8  選擇“保存”選項，則以WORD的形式顯示結果如圖41。

11.9  如需繼續加載試驗結果數據，請先上次載入的數據。

HN12A變頻式互感器綜合儀（CT/PT儀）

功能簡介：

1 勵磁特性試驗

2 變比試驗

3 相位和極性試驗

4 CT一次電流及負荷時的比差、角差測量

5 CT二次繞組電阻測量

6 CT二次回路負荷測量

7 CT暫態特性測試與

8 CT升流試驗

9 測量校核型號的CT、PT，包括保護CT、計量CT、TP級暫態CT、勵磁飽和電壓達到40KV的CT、變壓器套管CT、各電壓級PT等.

10 點電壓/電流、10%(5%)誤差曲線、準確限值係數、儀表保安係數、二次時間常數、剩磁係數、準確級、飽和和不飽和電感等CT、PT參數的測量.

自動給出點電壓/電流、 10％誤差曲線、 5％誤差曲線、準確限值係數（ALF）、 儀表保安係數（FS）、 二次時間常數(Ts)、剩磁係數(Kr)、準確級、飽和和不飽和電感等參數。

技術參數：

輸出電壓：0~180V (RMS)
■ 輸出電流：0~12A，峰值36A
■ 電壓測量：準確度 ±0.1%
■ CT變比測量範圍：1~30000
■ PT變比測量範圍：1~30000全自動伏安特性測試儀 電壓互感器校驗儀 全自動互感器校驗台目前T/R組件測試大多采用串行順序測試的模式，即執行完一個測試任務，再啟動另一個測試任務，直至完成測試。這相當於要求幾個人累計完成1千米的跑步，現在采用的是接力跑模式，為什麼不能根據每個人的能力一起跑呢？豈不是更快？多T/R組件並行測試模式就是在同一時刻，不同的T/R組件以多線程的方式執行不同的測試任務，測試任務之間所需的儀器和通道並不衝突。並行測試難點不同於數字和低頻測試儀器，當今射頻微波測試儀器自身的測試通道還比較少，一般也隻能完成某一類性能參數的測試。