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廣島大學納米材料與生物結合科學研究所(RNBS)的小出哲士準教授研究團隊,擔任的是對農作物栽培過程中的數據進行采集和這部分的科研工作。使用紅外熱成像攝像機FLIRAX8獲取的農作物栽培過程的溫度圖像,使得至今為止無法看到的以時間為序列的農作物表麵溫度實現了“可視化”,對農業的化和自動化研究起到了非常重要的作用。農業人口老年化與生產經驗按照廣島大學納米材料與生物結合科學研究所小出哲士準教授的話來說,“要想真正繼承到農家老把式的經驗和技巧,就必須對數據進行必要的采集”。
HN10A互感器特性綜合測試儀互感器特性測試儀 電流互感器現場測試儀 全自動互感器試驗台
功能簡介:
測試互感器:PT、CT(保護類、計量類)、伏安特性(勵磁特性)曲線、自動給出點值、自動給出5%和10%的誤差曲線、變比測量、比差測量、相位(角差)測量、極性判斷、一次通流測試、交流耐壓測試、二次負荷測試、二次繞組測試、鐵心退磁等設計的多功能現場試驗儀器。
技術參數:
1、工作電源:AC220V±10% 、50Hz
2、設備輸出:0~2500Vrms, 5Arms(20A峰值)
3、大電流輸出:0~1000A
4、二次繞組電阻測量範圍:0.1~50Ω
5、二次繞組電阻測量準度:≤0.5%、分辨力0.01
6、二次實際負荷測量範圍:5~300VA
7、二次實際負荷測量準度:≤0.5%±0.1VA本期大講台將詳細解讀直流有刷電機和直流無刷電機的優缺點、設計要素等相關內容。有刷DC電機刷式直流電機是現有曆史久的電機拓撲之一。它們將固定刷子安裝在定子機座上,摩擦轉子上的換向片,而後者又連接至旋轉的線圈段。隨著電機旋轉,不同轉子線圈不斷連接和斷開,這樣轉子產生的淨磁場相對於定子機座就是固定的,且通過定子磁場正確定向,從而產生扭矩。當換向片旋轉過刷子時,這些特定轉子線圈段的電觸頭將會斷開。由於轉子線圈是電感的,而電感器生成高回掃電壓來抵抗電流變化,因此刷子和斷開的換向片之間會產生火花。
軟件使用說明
11.1 將配套光盤放入計算機光驅中,解壓“軟件”至C盤根目錄。
11.2,安裝“wic_x86_chs.exe”文件,其次,安裝“dotNetFx40_Full_x86_x64.exe”軟件,默認安裝地址即可。
11.3安裝完畢後,打開“伏安特性”文件夾,選擇打開“VATeXing.exe”操作軟件,如圖38即為上位機操作軟件。
11.4在“VATeXing.exe”操作軟件中,下方選擇互感器種類“CT”或“PT”,應用語言“中文”或“英文”。
11.5如需生成報告格式文件,必須載入試驗結果數據,具體操作方法如下:
a)、將存儲試驗數據的U盤連接至計算機。
b)、在圖38中選擇打開“選擇文件”,出現圖39操作窗口,在圖39中可根據需要載入所需文件。
c)、試驗結果數據說明:以“A”為開頭的數據為勵磁特性結果數據,以“B”為開頭的數據為變比極性結果數據,以“C”為開頭的數據為負荷結果數據,以“D”為開頭的數據為直阻結果數據。以“E”為開頭的數據為角差比差結果數據,以“T”為開頭的數據為暫態結果數據。
11.6 載入數據結束後,選擇“確定”出現圖40界麵,在此界麵右上方設置相應參數後,選擇“生成誤差曲線”則完成所有試驗結果的載入。
11.7 載入完成後,可根據需要選擇“保存”或打印結果數據。
11.8 選擇“保存”選項,則以WORD的形式顯示結果如圖41。
11.9 如需繼續加載試驗結果數據,請先上次載入的數據。
HN12A變頻式互感器綜合儀(CT/PT儀)
功能簡介:
1 勵磁特性試驗
2 變比試驗
3 相位和極性試驗
4 CT一次電流及負荷時的比差、角差測量
5 CT二次繞組電阻測量
6 CT二次回路負荷測量
7 CT暫態特性測試與
8 CT升流試驗
9 測量校核型號的CT、PT,包括保護CT、計量CT、TP級暫態CT、勵磁飽和電壓達到40KV的CT、變壓器套管CT、各電壓級PT等.
10 點電壓/電流、10%(5%)誤差曲線、準確限值係數、儀表保安係數、二次時間常數、剩磁係數、準確級、飽和和不飽和電感等CT、PT參數的測量.
自動給出點電壓/電流、 10%誤差曲線、 5%誤差曲線、準確限值係數(ALF)、 儀表保安係數(FS)、 二次時間常數(Ts)、剩磁係數(Kr)、準確級、飽和和不飽和電感等參數。
技術參數:
輸出電壓:0~180V (RMS)
■ 輸出電流:0~12A,峰值36A
■ 電壓測量:準確度 ±0.1%
■ CT變比測量範圍:1~30000
■ PT變比測量範圍:1~30000互感器特性測試儀 電流互感器現場測試儀 全自動互感器試驗台所謂源測量單元(SourceMeasureUnit,簡稱SMU),顧名思義就是可編程電源和測量儀表的結合體,既可以有電源輸出,又可以進行測量。隨著應用領域對供給電源和測量同步性要求的不斷提高,SMU在生物化學、超導材料、光電器件測試、半導體研究等領域起到了越來越大的作用。尤其是高性能的源表,可以更地檢測器件特性,提升整個測試係統的效率,從而提高設計和生產效率。橫河測試測量公號之前的推文介紹了源測量單元SMU一些重要的性能指標。