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光纖通信是用光纖作為傳輸介質，以光波作為載波來實現信息傳輸，從而達到通信目的的一種新通信技術。與傳統的電氣通信相比，光纖傳感技術具有精度和靈敏度高、抗電磁乾擾、壽命長、耐腐蝕、成本低、光纖傳輸損耗極低，傳輸距離遠等突出優點。雖然光纖通信具有以上突出的優點，但本身存在的缺陷也不容忽視，比如：光纖的質地脆，容易斷裂、機械強度差，彎曲不能過小;供電困難;分路、耦合不靈活；光纖的切斷和連接需要特定的工具或設備等。
HN10A互感器特性綜合測試儀變頻式互感器測試儀 電容式互感器校驗儀 全自動互感器校驗儀
功能簡介：
測試互感器：PT、CT（保護類、計量類）、伏安特性（勵磁特性）曲線、自動給出點值、自動給出5%和10%的誤差曲線、變比測量、比差測量、相位（角差）測量、極性判斷、一次通流測試、交流耐壓測試、二次負荷測試、二次繞組測試、鐵心退磁等設計的多功能現場試驗儀器。
技術參數：
1、工作電源：AC220V±10% 、50Hz
2、設備輸出：0～2500Vrms， 5Arms（20A峰值）
3、大電流輸出：0～1000A
4、二次繞組電阻測量範圍：0.1～50Ω
5、二次繞組電阻測量準度：≤0.5%、分辨力0.01
6、二次實際負荷測量範圍：5～300VA
7、二次實際負荷測量準度：≤0.5%±0.1VA因為傳統的線纜如BNC或SMA線纜本身是可導電的而且容易受到來自於乾擾室內部的電磁波的影響，因此光發送和接收單元以及光纖需要被用來將乾擾室內部的ECU發出的信號傳送到位於乾擾室外部的測試設備。光纖是非導體所以不會受到乾擾室內的電磁場的影響。為了將線纜從乾擾室內部連接到測試設備上，在乾擾室邊界處波導管被用來輸出光信號，從而允許乾擾室在將ECU的信號輸出時仍舊保持完全的封閉。光纖波導擁有一個高通截止頻率，該頻率高於在乾擾室中測試的頻率範圍，因此不會對乾擾室中所創造的環境產生乾擾。
軟件使用說明
11.1 將配套光盤放入計算機光驅中，解壓“軟件”至C盤根目錄。
11.2，安裝“wic_x86_chs.exe”文件，其次，安裝“dotNetFx40_Full_x86_x64.exe”軟件，默認安裝地址即可。
11.3安裝完畢後，打開“伏安特性”文件夾，選擇打開“VATeXing.exe”操作軟件，如圖38即為上位機操作軟件。
11.4在“VATeXing.exe”操作軟件中，下方選擇互感器種類“CT”或“PT”，應用語言“中文”或“英文”。
11.5如需生成報告格式文件，必須載入試驗結果數據，具體操作方法如下：
a）、將存儲試驗數據的U盤連接至計算機。
b）、在圖38中選擇打開“選擇文件”，出現圖39操作窗口，在圖39中可根據需要載入所需文件。
c）、試驗結果數據說明：以“A”為開頭的數據為勵磁特性結果數據，以“B”為開頭的數據為變比極性結果數據，以“C”為開頭的數據為負荷結果數據，以“D”為開頭的數據為直阻結果數據。以“E”為開頭的數據為角差比差結果數據，以“T”為開頭的數據為暫態結果數據。
11.6 載入數據結束後，選擇“確定”出現圖40界麵，在此界麵右上方設置相應參數後，選擇“生成誤差曲線”則完成所有試驗結果的載入。
11.7 載入完成後，可根據需要選擇“保存”或打印結果數據。
11.8 選擇“保存”選項，則以WORD的形式顯示結果如圖41。
11.9 如需繼續加載試驗結果數據，請先上次載入的數據。
HN12A變頻式互感器綜合儀（CT/PT儀）
功能簡介：
1 勵磁特性試驗
2 變比試驗
3 相位和極性試驗
4 CT一次電流及負荷時的比差、角差測量
5 CT二次繞組電阻測量
6 CT二次回路負荷測量
7 CT暫態特性測試與
8 CT升流試驗
9 測量校核型號的CT、PT，包括保護CT、計量CT、TP級暫態CT、勵磁飽和電壓達到40KV的CT、變壓器套管CT、各電壓級PT等.
10 點電壓/電流、10%(5%)誤差曲線、準確限值係數、儀表保安係數、二次時間常數、剩磁係數、準確級、飽和和不飽和電感等CT、PT參數的測量.
自動給出點電壓/電流、 10％誤差曲線、 5％誤差曲線、準確限值係數（ALF）、 儀表保安係數（FS）、 二次時間常數(Ts)、剩磁係數(Kr)、準確級、飽和和不飽和電感等參數。
技術參數：
輸出電壓：0~180V (RMS)
■ 輸出電流：0~12A，峰值36A
■ 電壓測量：準確度 ±0.1%
■ CT變比測量範圍：1~30000
■ PT變比測量範圍：1~30000變頻式互感器測試儀 電容式互感器校驗儀 全自動互感器校驗儀一般來說，直流電源具有CV/CC兩種工作模式，分彆對應內部兩個環路(CV控製環和CC控製環)。當今市場上的大多數電源供應器均采用電壓優先模式設計，不能提供電流環控製優先模式；事實上這種情況非常普遍，大多數工程師甚至從來冇有意識到還有優先模式存在，他們隻是期望自己的電源能夠正常提供電壓電流和功率輸出。但隨著電子測試需求的變革，這種方式的局限性也體現出來，CV控製環優先的情況下，雖然一定程度上可以加快電壓的上升速度，但不能夠適用於對電流過衝測試要求嚴苛的場合。