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但在下方和上方中間的變化情況,以及它的線性度則需要後邊仿真來確定。輸出電壓1.2全橋式改進電路普通全橋電路,傳感器上下兩線圈分彆與匹配電阻R3和R4相連,在L1=L2時電橋平衡,當向上發生△X的位移時,鐵芯上移,L1增大△L,L2減小△L,Uout的變化會比半橋方式增加近兩倍,輸出電壓如和對上下兩線圈分彆采用並聯和串聯電容C1和C2的方式,形成諧振回路I和回路II,通過後續仿真觀察這兩種方式電路性能的變化情況。
HN7030A變壓器絕緣油介質損耗測試儀
用於絕緣油等液體絕緣介質的介質損耗因數和直流電阻率的測量,內部集成了介損油杯、溫控儀、溫度傳感器、介損測試電橋、交流試驗電源、標準電容器、高阻計、直流高壓源等主要部件。,該儀器應用先進的測控技術,全自動完成升溫、控溫、高速數據采樣、運算、顯示、打印及存儲等過程.
技術指標
測 量 範 圍: 電容量 5pF~200pF
感謝您選擇了絕緣油介質損耗及體積電阻率測試儀!為方便您儘早儘快地熟練操作本儀器,我們特隨機配備了內容詳實的操作手冊,從中您可以獲取有關產品介紹、使用方法、儀器性能以及**注意事項等諸多方麵的信息。
在次使用儀器之前,請務必仔細閱讀本操作手冊,並按本手冊對儀器進行操作和維護,這會有助於您更好的使用該產品,並且可以延長該儀器的使用壽命。
在編寫本手冊時,雖然我們本著科學和嚴謹的態度進行了工作,並認為本手冊中所提供的信息是正確和可靠的。然而,智者千慮必有一失,本手冊也難免會有錯誤和疏漏之處。如果您發現了手冊中的錯誤,請務必於百忙之中抽時間,儘快設法告知我們,並煩請監督我們迅速改正錯誤!本公司全體職員將不勝感激!ITECH款雙極性電源IT64215年上市後,即得到廣泛好評。作為一款雙極性電源/電池模擬器,IT64特有的雙極性電壓/電流輸出,可用作雙極電源或雙極電子負載,廣泛應用在便攜式電池供電產品、移動電源、LEIC半導體、物聯網等測試領域。一轉眼4年過去,一起來盤點IT64經典應用案例。1電池測試——鋰電池充放電循環測試鋰離子電池的充電過程為先恒流充電,到接近終止電壓時改為恒壓充電,且要保證終止電壓精度在1%之內。
本公司保留對儀器使用功能進行改進的權力,如發現儀器在使用過程中其功能與操作手冊介紹的不一致,請以儀器的實際功能為準。我們希望本儀器能使您的工作變得輕鬆、愉快,願您在繁忙的工作之中體會到辦公自動化的輕鬆而美好的感覺!直流電子負載定義G29843-213直流電子負載通用規範中對直流電子負載的定義是:能吸收直流電能,並將吸收的直流電能耗散、儲存或回饋電網的一種電子電路裝置,該裝置所吸收的電流大小可以調節或設置,其端口輸入特性符合歐姆定律。電子負載,顧名思義,是用電子器件實現的“負載”功能。具體地說,電子負載是通過控製內部功率器件MOSFET或晶體管的導通量,使功率管耗散功率,消耗電能的設備。電子負載類似於可以拉載電流的輸入設備,如同一個可編程的功率電阻。
注意事項
1.遵守高壓試驗**工作規程。
2.因儀器內部有高壓及高溫,在工作過程中,禁止打開油杯罩。
3.儀器在使用過程中要可靠接地。
4.要注意儀器使用環境的清潔。
5.油杯安裝和清洗應嚴格按規定進行,否則將造成油杯放電,致使儀器無法正常工作。
6.管損壞,必須更換相同規格管。每天下班都能看到,天黑得越早,路燈就越早點亮,但卻不知道背後是怎麼控製調節的。原來如此。在漫漫黑夜之中路燈為大家照亮了前行的道路,當黑夜降臨路燈便亮了起來,隨著道路上的行人越多,天色越黑路燈也就越亮;當進入深夜,道路行人變少時,路燈開始變暗,節約城市照明的能源。:燈光可調節那麼路燈是如何控製亮度協調工作的呢?下圖則是路燈控製係統的整體係統示意圖,在每個路燈節點上由終端設備將路況和環境信息通過ZigBee無線傳送給二級終端ZigBee集中器,通過它將信號轉為公網用的GPRS信號,終傳遞給我們的管理中心,管理中心人員根據傳回來的信號,做出相應的控製,調節每個節點的亮滅及亮度。
相對電容率 1.000~30.000
介質損耗因數 0.00001~100
直流電阻率 2.5 MΩm~20 TΩm
測 量 準 度: 電容量 ±(1%讀數+0.5pF)
相對電容率 ±1%讀數
介質損耗因數 ±(1%讀數+0.0001)
直流電阻率 ±10%讀數
分 辨 率: 電容量 0.01pF
相對電容率 0.001
介質損耗因數 0.00001
測 溫 範 圍: 0~125℃
溫度測量誤差: ±0.5℃
交流實驗電壓: 500~2200V 連續可調,頻率50Hz
直流試驗電壓: 0~500V 連續可調HN7030型 絕緣油介質損耗測試儀 配電網電容電流測試儀 定製定做無論是實驗室環境還是生產車間,都需要采用更的半導體測試方法。半導體測試是NI的戰略重點。我們正在擴展我們的軟件平台和PXI功能,以幫助芯片製造商應對他們麵臨的挑戰,這一點通過NI的PXISMU可以完全體現出來。”由於其高吞吐量、高性價比和占地麵積小,NI的半導體測試係統(STS)正在快速應用到芯片生產中。全新的PXIe-4163SMU則進一步增強了這些功能,它能提供更高的直流通道密度,使多站點應用具有更高的並行性,以及在生產中提供實驗室級彆的測量質量。