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根據上圖顯示,固晶層缺陷會造成的熱阻增大,影響散熱性能,具體的影響程度與缺陷的大小有關。測量結殼熱阻:這兩次測試的分彆:次測量,器件直接接觸到基板熱沉上;次測量,器件和基板熱沉中間夾著導熱雙麵膠。由於兩次散熱路徑的改變僅僅發生在器件封裝殼之外,因此結構函數上兩次測量的分界處就代表了器件的殼。如下圖所示的曲線變化,可得出器件的熱阻。結構無損檢測:同批次產品,取固晶層完好、邊緣缺陷以及中間缺陷的樣品測試。
HN7080A變壓器綜合測試係統華能 變壓器綜合測試台 三相電容電流測試儀 操作
兩種操作模式:自動模式、按鈕模式,且兩種操作模式自動互鎖;
自動化程度高,具有一鍵啟動可自動完成空載試驗、負載試驗、變比測量、直流電阻測量、工頻試驗、感應試驗;
集成度高、功能齊全,滿足10kV、20kV、35kV、110kV、220kV、330kV、500kV等不同電壓等級電力變壓器和特種變壓器出廠試驗、型式試驗、試驗;
試驗項目:
空載損耗測量、空載電流百分比(自動換算到額定電壓下數值);
負載損耗測量、阻抗電壓百分比(自動換算到額定電流參考溫度下數值);
繞組直流電阻快速測量;
變比組彆自動測量(電壓比測量,連接組標號試驗);
外施耐壓試驗(工頻耐壓試驗);
感應耐壓試驗(倍頻倍壓試驗);
絕緣電阻測量;
雷電衝擊試驗;
絕緣油試驗(擊穿電壓、閃點、酸值、體積電阻率、水分等);
局部放電試驗;
溫升試驗;
可完成10kV、20kV、35kV、110kV、220kV、330kV、500kV及特種變壓器的出廠試驗、型式試驗和試驗;華能 變壓器綜合測試台 三相電容電流測試儀 操作係統基於全製式全覆蓋的測試能力可解決物聯網產業鏈的測試難題,具體包括芯片模組測試、綜合測試、產線測試等多個環節。典型測試場景如下:發射機指標測試:UE發射功率UE指的是NB-IOT的終端產品,包括NB-IOT模塊以及使用了這些模塊的終端。UE占用帶寬,占用帶寬指的是分配信道之內測量的99%積分平均功率時對應的信號帶寬。NB-IOT下行信號占用帶寬典型測試UE發射ACLR相鄰信道泄漏比,這個測來判定終端產品是否有可能對相鄰(或高或低)信道中的接收機產生乾擾。