產品詳情
  • 產品名稱:青島電子式熱繼電器測試儀 KX303A馬達保護器測試儀 可定製

  • 產品型號:KX303A
  • 產品廠商:華能
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簡單介紹:
適用於熱繼電器,電動機保護器測試。適用於試驗室對熱繼電器的試驗。 適用於生產熱繼電器廠家進行產品質量校驗、出廠試驗調試
詳情介紹:

測試LED光通量在CIE121:1966Clause6.CIE127-2007Clause6.2和IES-LM-79-08Clause9.0都有提到兩種測試方法:一種是采用積分球加光度計或光譜輻射計測試的積分法,這個是總光通量的相對測量方法(CIE121:1966Clause6.1.CIE127-2007Clause6.2.2和IES-LM-79-08Clause9.0);另外一種是采用分布光度計的光度法,這個是總光通量的測量方法。
KX303A熱繼電器校驗儀/電動機保護器校驗儀

青島電子式熱繼電器測試儀 KX303A馬達保護器測試儀 可定製功能簡介:

適用於單相、三相熱繼電器及有源或無源電動機保護器的過壓、過流、缺相、不平衡、堵轉及時間測試,還可測試電流繼電器的動作電流及額定電流的動作時間。

技術參數:

可長時間輸出050A0500A電流

三相電流可均衡輸出,具有細調功能

常開、常閉接點自動識彆

可同時串接若乾隻校驗,提高工作效率

2、主要技術指標

電源輸入:AC  380/220V  50Hz  三相四線

儀表等級:0.2

輸出電流:3×50A3×500A

時間測試:0.001S-999.999S青島電子式熱繼電器測試儀 KX303A馬達保護器測試儀 可定製為得到對比度和成像清晰度,需要用到幾種光源,檢查時由程序來選擇光源、顏色組合和光強,以達到視覺效果。為了確保識彆的正確性,元件的高度必須小於8mm(從PCB板表麵到元件頂端)。由於矢量成像技術用到的是幾何信息,所以元件是否旋轉、得到的圖形與參考模型大小是否一致都冇有影響,而且也和產品顏色、光照和背景等的變化無關。矢量成像檢查分三部進行:矢量成像係統在元件影像圖上找出主要特征並將其分離出來,然後對這些顯著特征進行測量,包括形狀、尺寸、角度、弧度和明暗度等;檢查合成圖象和被測元件圖像主要特征的空間關係;後,不論元件旋轉角度、大小或相對其背景的總體外觀如何,它在線路板上的x、y和θ值都可通過計算確定下來。青島電子式熱繼電器測試儀 KX303A馬達保護器測試儀 可定製

使用說明:  

選用足夠**載流量的電源線接通容量足夠的220V電源,把各功能開關選到需要位置,輸出調節手輪旋轉至零位,即可接被測器件,儀器即可開始工作。當輸出電流較大時,應選用內阻較小的電源,若電源內阻過大,輸出電流不易升到設定值。

  1、測試熱繼電器

測試時應蓋好熱繼電器蓋,小電流值熱繼電器用小電流檔位,把三個熱元件串接後,再接在相應的測試柱上,常閉點接輔助接點柱上,量程轉換開關選至適當電流檔位,輸出調節手輪置零位,自鎖開關斷開,檢查各接線端柱接觸應良好,打開電源開關,按啟動鈕,測試電源接通,旋轉輸出調節手輪至被測熱繼電器額定電流,使雙金屬片達到熱穩定狀態,以此穩定熱態再旋轉輸出調節手輪使測試電流到額定電流的1.2 倍,計時從零開始,進入測試階段,規定時間內,熱繼電器應脫扣為合格一項,熱繼電器接點斷開,測試電流消失,計時停止,並顯示測驗時間,測試終了信號由燈光和聲響給出,當要停止信號時可按關斷聲光開關。     

當測試額定 時,一般按規程應從熱元件冷態開始。熱繼電器的其它參數整定請參閱有關規程進行,也可按被保護的電動機負荷情況選定熱繼電器的安—秒脫扣特性。OSI意為開放式係統互聯。標準化組織(ISO)製定了OSI模型,該模型定義了不同計算機互聯的標準,是設計和描述計算機網絡通信的基本框架。OSI模型把網絡通信的工作分為7層,分彆是物理層、數據鏈路層、網絡層、傳輸層、會話層、表示層和應用層。從OSI的7層網絡模型的角度來看同,CAN現場總線僅僅定義了第1層(物理層,見ISO11898-2標準)、第2層(數據鏈路層,見ISO11898-1標準);而在實際設計中,這兩層完全由硬件實現,設計人員無需再為此開發相關軟件(Software)或固件(Firmware),隻要了解如何調用相關的接口和寄存器,即可完成對CAN的控製。青島電子式熱繼電器測試儀 KX303A馬達保護器測試儀 可定製

2、測電動機保護器

在測試前要仔細檢查各活動部位,是否鏽蝕、卡住,活動軸應有少量潤滑油脂才好,試合閘後,人工觸動熱脫扣,瞬時間脫扣無誤後再進行檢測。

電動機保護器有輔助接點的同熱繼電器接法相同,測完斷開時,其信號由關斷裝置的傳感器送來,關斷測試電源,並顯示測驗時間,發出測試完畢信號。泰克科技公司日前宣布,為Keithley4200A-SCS參數儀推出兩款源測量單元(SMU)模塊,即使在由於長電纜和複雜的測試設置而產生高負載電容時,其仍能執行低電流測量。許多主要測試應用都麵臨著這一挑戰,如LCD顯示器製造和卡盤上的納米FET器件測試。在被測器件本身電容很小的情況下,許多低電流測量應用中所需要的測試設置也會增加SMU輸出端的電容。當測試連接電容太大時,終的低電流測量結果可能會變得不穩定。青島電子式熱繼電器測試儀 KX303A馬達保護器測試儀 可定製

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