產品名稱：青島KX303A單相熱繼電器校驗儀 5年保修

半導體生產流程由晶圓製造，晶圓測試，芯片封裝和封裝後測試組成，晶圓製造和芯片封裝討論較多，而測試環節的相關知識經常被邊緣化，下麵集中介紹集成電路芯片測試的相關內容，主要集中在WAT，CP和FT三個環節。集成電路設計、製造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數來監控各步工藝是否正常和穩定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成製程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據，測試方法是用ProbeCard紮在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機台上，由WATRecipe自動控製測試位置和內容，測完某條TestKey後，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。
KX303A熱繼電器校驗儀/電動機保護器校驗儀

功能簡介：

適用於單相、三相熱繼電器及有源或無源電動機保護器的過壓、過流、缺相、不平衡、堵轉及時間測試,還可測試電流繼電器的動作電流及額定電流的動作時間。

技術參數：

可長時間輸出0～50A或0～500A電流

三相電流可均衡輸出，具有細調功能

常開、常閉接點自動識彆

可同時串接若乾隻校驗，提高工作效率

2、主要技術指標

電源輸入：AC  380/220V  50Hz  三相四線

儀表等級：0.2級

輸出電流：3×50A或3×500A

時間測試：0.001S-999.999S青島KX303A單相熱繼電器校驗儀 5年保修當然這種方法也會更加準確一些，無論是找人，還是對中。後，人與人可以試試在一起，判斷彼此性格以及其他是不是合適，這個就與對中法非常接近了。對中法也需要數據，電腦進行運算，同樣，判斷對方是不是良人，也需要很多數據，用大腦去思考對錯。雖然在效率上冇有特彆的優勢，但是準確性十分高。同時呢，這樣的方法可以降低能耗，提高生產率；就像用心感受出來的人才能更幸福的走向未來。下麵是解開這個高大上的對中法。

使用說明：  

選用足夠**載流量的電源線接通容量足夠的220V電源，把各功能開關選到需要位置，輸出調節手輪旋轉至零位，即可接被測器件，儀器即可開始工作。當輸出電流較大時，應選用內阻較小的電源，若電源內阻過大，輸出電流不易升到設定值。

  1、測試熱繼電器

測試時應蓋好熱繼電器蓋，小電流值熱繼電器用小電流檔位,把三個熱元件串接後，再接在相應的測試柱上，常閉點接輔助接點柱上，量程轉換開關選至適當電流檔位，輸出調節手輪置零位，自鎖開關斷開，檢查各接線端柱接觸應良好，打開電源開關,按啟動鈕，測試電源接通,旋轉輸出調節手輪至被測熱繼電器額定電流，使雙金屬片達到熱穩定狀態，以此穩定熱態再旋轉輸出調節手輪使測試電流到額定電流的1.2 倍，計時從零開始，進入測試階段，規定時間內，熱繼電器應脫扣為合格一項，熱繼電器接點斷開，測試電流消失，計時停止，並顯示測驗時間，測試終了信號由燈光和聲響給出，當要停止信號時可按關斷聲光開關。     

當測試額定 時，一般按規程應從熱元件冷態開始。熱繼電器的其它參數整定請參閱有關規程進行,也可按被保護的電動機負荷情況選定熱繼電器的安—秒脫扣特性。在時域，當有快沿階躍信號輸入時，平坦頻率響應示波器會使脈衝產生過衝和振鈴，我們知道過衝和振鈴是示波器的響應，但這種情況，隻有在信號上升時間很快，遠遠超過示波器可測量範圍時，才會產生。在這種情況下，使用更高帶寬的示波器，否則測量誤差會很大。與高斯係統不同，平坦頻響示波器的係統帶寬不能由其子係統部件的RMS值確定。用於高斯響應示波器係統的帶寬和上升時間公式不適用於平坦響應示波器係統，而需要示波器廠商提供示波器係統帶寬，即由示波器/及其前端附件構成組合的帶寬。

2、測電動機保護器

在測試前要仔細檢查各活動部位，是否鏽蝕、卡住，活動軸應有少量潤滑油脂才好，試合閘後，人工觸動熱脫扣，瞬時間脫扣無誤後再進行檢測。

電動機保護器有輔助接點的同熱繼電器接法相同，測完斷開時，其信號由關斷裝置的傳感器送來，關斷測試電源，並顯示測驗時間，發出測試完畢信號。紅外熱成像儀通過熱成像鏡頭將物體的紅外輻射投射紅外探測器上，紅外探測器再將強弱不等的輻射信號轉換成相應的電信號，經過放大和處理，形成可供人眼觀察的圖像。(光譜圖)在完全漆黑的環境及天氣條件下進行觀測的新型工具，通過使用紅外熱像儀"看清"物體散發出的熱能。紅外熱像儀可生成可見紅外線或"熱"輻射圖像。根據物體間的溫差生成清晰的圖像，即使的細節也能纖毫畢現，實現晝夜工作。紅外熱成像儀的優勢：1.全天候工作，無需光源，不怕強光。