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安規測試儀檢定裝置有以下幾種 回路電阻測試儀校驗儀 直流數字電壓表 HN係列 接地導通測試儀檢定裝置 30年經驗

依據JJG1005—2005《電子式絕緣電阻表檢定規程》、JJG622—1997《絕緣電阻表(兆歐表)檢定規程》,用於檢定電子式絕緣電阻表的示值誤差、跌落電壓、短路電流。
電壓分兩檔:0~500V 0~5000V -10000V
短路電流:0~2mA 0~20mA
電阻0-200G-1T-10T去耦電容還可以為器件提供局部化的DC電壓源,它在減少跨板浪湧電流方麵特彆有用。旁路:從元件或電纜中轉移出不想要的共模RF能量。這主要是通過產生AC旁路消除無意的能量進入敏感的部分,另外還可以提供基帶濾波功能(帶寬受限)。我們經常可以看到,在電源和地之間連接著去耦電容,它有三個方麵的作用:一是作為本集成電路的蓄能電容;二是濾除該器件產生的高頻噪聲,切斷其通過供電回路進行傳播的通路;三是防止電源攜帶的噪聲對電路構成乾擾。
HN8062A接地電阻表校驗裝置
用於檢定JJG336-2004《接地電阻表檢定規程》所適用的我目前生產的型號的模擬式、數字式接地電阻表以及進口的同類儀表,也可做普通電阻箱使用,具有調節範圍寬,使用方便,造型美觀等優點。X射線光譜儀的好壞常常是以X射線強度測量的理論統計誤差來表示的,BX係列波長色散X射線熒光儀的穩定性和再現性,已足以保證待測樣品測量的精度,被樣品的製樣技術成為影響準確度的至關重要的因素,在樣品製備方麵所花的工夫將會反映在結果的質量上。X射線熒光儀器誤差的來源主要有以下幾個方麵:1.采樣誤差:非均質材料樣品的代表性2.樣品的製備:製樣技術的穩定性產生均勻樣品的技術3.不適當的標樣:待測樣品是否在標樣的組成範圍內標樣元素測定值的準確度標樣與樣品的穩定性4.儀器誤差:計數的統計誤差樣品的位置靈敏度和漂移重現性5.不適當的定量數學模型:不正確的算法元素間的乾擾效應未經校正顆粒效應純物質的熒光強度隨顆粒的減小而增大,在多元素體係中,已經證明一些元素的強度與吸收和增應有關,這些效應可以引起某些元素的強度增加和另一些元素的強度減小。
HN8063A耐電壓測試儀校驗裝置
1、測量準度:
電壓:1000v 2500v 5000v 10000v 30000v
準度:1級 0.5級 0.2級然後再使用另一條1m電纜從配線架連接到,所以從一個SMU到DUT的三芯同軸電纜的總長度是:(2x2m)+(2x5m)+(1m)=15m。除了三芯同軸電纜外,開關矩陣本身也增加了電容,在計算測試係統總電容時可能需要包括進去。在測量通過開關矩陣連接的FET器件的輸出特點時,使用兩個4211-SMU較使用兩個傳統SMU的結果明顯改善。在這項測試中,其中一個SMU被偏置恒定柵極電壓,另一個SMU掃描漏極電壓,測量得到的漏極電流。
HN8065A型泄漏電流測試儀檢定裝置
一、性能特點
1、源、表測量範圍:
電壓源(AC,DC):電壓:250V、50V、5V
電流源(AC,DC):20mA、2mA
頻率計:10-100Hz對於垂直安裝浮子流量計要保持垂直,傾角不大於20度對於水平安裝浮子流量計要保持水平,傾角不大於20度浮子流量計周圍100mm空間不得有鐵磁性物體。安裝位置要遠離閥門變徑口、泵出口、工藝管線轉彎口等。要保持前5D後250mm直管段的要求。2.液體介質的密度變化較大也是引起誤差較大的一個原因。由於儀表在標定前,都將介質按用戶給出的密度進行換算,換算成標校狀態下水的流量進行標定,因此如果介質密度變化較大,會對測量造成很大誤差。
HN8066A型接地導通電阻測試儀檢定裝置
2、一次額定電流:25A、2.5A。(大30A、3A)
3、電阻四盤連續帶電可調。
4、直接指示一次電流值,可做交直流大電流標準表用。同樣,產品的顏色、光照及背景情況也很重要,如果變化很大,可能很難或者根本就找不到相匹配的模型。矢量成像技術矢量成像技術采用合成圖像作為示教參考模型,以確保不產生錯誤。矢量成像不需要像素,它靠的是定義元件形狀的交點矢量,矢量由方向和傾斜度確定,在矢量成像技術裡一個正方形相當於四條線段,一個足球則相當於兩個弧形。矢量成像技術采用視窗操作係統,使用一種高分辨率數字相機,係統采用統計過程控製(SPC)軟件和一個根據線路板上所裝配並需要進行檢查測量元件所作的綜合元件圖形庫,它能將Gerber、CAD或ASCII/Centrid數據轉換成機器代碼。
HN8068A型回路電阻測試儀,直流電阻測試儀檢定裝置
2 一次額定電流:
1A、10A、100A、200A、300A、600A
3 電阻盤0、1、2、3……20帶電可調。
4 直接指示一次電流值,可做直流大電流標準表用。
回路電阻測試儀校驗儀 直流數字電壓表 HN係列 接地導通測試儀檢定裝置 30年經驗對有源天線陣列進行校準需要很長的生產測試時間。大型陣列可能包含成百上千個陣元,有必要通過表征這些陣元間的相位和增益關係,以確保精密的波束賦形。而且,進行陣元調整所需的測試時間會隨著陣元數量的增加而大幅增長。使用多個相參測量通道能夠有效地縮短測試時間。現在通常使用一台多端口網絡儀在天線上執行相對增益和相位測量,一般是通過開關矩陣對所有的天線端口或通道執行這種測量。這會產生很長的測試時間,尤其是對包含成百上千陣元的陣列。