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安規測試儀檢定裝置有以下幾種 直流電阻測試儀校驗裝置 泄漏電流測試儀檢定裝置 HN係列 絕緣電阻測試儀校驗儀 帶通訊

依據JJG1005—2005《電子式絕緣電阻表檢定規程》、JJG622—1997《絕緣電阻表(兆歐表)檢定規程》,用於檢定電子式絕緣電阻表的示值誤差、跌落電壓、短路電流。
電壓分兩檔:0~500V 0~5000V -10000V
短路電流:0~2mA 0~20mA
電阻0-200G-1T-10T電機直接啟動危害及避免方式目前在工礦企業中使用著大量的交流異步電機,大部分電機均采用直接啟動的方式,這種啟動方式非常簡單,但是會帶來很大的危害。電網衝擊:過大的啟動電流(空載啟動電流可達額定電流的4~7倍,帶載啟動時可達8~10倍或更大),會造成電網電壓下降,影響其它用電設備的正常運行,還可能使欠壓保護動作,造成設備的有害跳閘。同時過大的啟動電流會使電機繞組發熱,從而加速絕緣老化,影響電機壽命。
HN8062A接地電阻表校驗裝置
用於檢定JJG336-2004《接地電阻表檢定規程》所適用的我目前生產的型號的模擬式、數字式接地電阻表以及進口的同類儀表,也可做普通電阻箱使用,具有調節範圍寬,使用方便,造型美觀等優點。熟悉示波器的朋友可能都會有過這樣的困惑:輸入阻抗有1MΩ和50Ω兩種,我們到底該如何選擇呢?傳輸線想要講清楚50Ω的由來,我們需要先講一下傳輸線。電信號實際上是以電磁波的形式在傳輸線中傳播的。當傳輸線的尺寸不再遠小於電磁波波長時,就不得不考慮這個“波”的特性了。下圖是將一個窄脈衝施加到100m左右的終端短路的網線上時,示波器在信號源端測量到的圖片。可以在其上明顯看出有一個入射波和一個反射波。當入射波和反射波疊加在一起回發生什麼呢,您的方波信號信號可能就會成這樣。
HN8063A耐電壓測試儀校驗裝置
1、測量準度:
電壓:1000v 2500v 5000v 10000v 30000v
準度:1級 0.5級 0.2級工頻電磁場波形由於是測量電路存在周期性波動,那工頻電磁場擾動的可能性更大,用示波器觀測工頻電磁場波形如,一般認為50Hz工頻電磁場乾擾是由兩方麵原因產生:50Hz工頻乾擾通過傳導進入係統;50Hz工頻乾擾通過空間耦合進入係統。針對上述問題,消除50Hz工頻電磁場乾擾的方法也相對明確,有下述四種方案可供電路設計者去參考:利用電氣隔離,阻斷工頻乾擾的傳導路徑;敏感電路處搭建共模和濾波電路,濾除進入輸入通道的工頻擾動;軟件中構建IIR陷波或者FIR帶阻數字濾波器,消除工頻乾擾對測量結果的影響;降低測量引線回路麵積,增加,減弱空間耦合效應。
HN8065A型泄漏電流測試儀檢定裝置
一、性能特點
1、源、表測量範圍:
電壓源(AC,DC):電壓:250V、50V、5V
電流源(AC,DC):20mA、2mA
頻率計:10-100Hz一致性測試通常作為產品投產前設計質保的一部分完成。一致性測試內容繁多,耗時長,如果在產品開發的這個階段EMC測試失敗,那麼會要求重新設計,不僅成本高昂,而且會耽誤產品推出。執行預一致性測試可以幫助您在把產品送到正式測試前發現不符合規範的情況。一款基於USB接口的RSA36實時頻譜儀的問世,預一致性測試變得的簡便和經濟,放射輻射測量和傳導輻射測量可以幫助限度地減少產品通過EMI認證所需的費用和時間。
HN8066A型接地導通電阻測試儀檢定裝置
2、一次額定電流:25A、2.5A。(大30A、3A)
3、電阻四盤連續帶電可調。
4、直接指示一次電流值,可做交直流大電流標準表用。環境方麵外部環境方麵所引起的故障大多是因為儀表受外界電磁波、電機磁場、雜散電流等乾擾引發的。外界電磁波乾擾主要是由信號電纜引入,通常采用單層或者多層進行保護。電流乾擾通常采取比較良好的單接地保護即可獲得滿意測量。流體方麵流體內的微小氣泡一般情況下影響不了正常的電磁流量計測量,隻是測得的流體體積流量為流體和氣體之和。流體內的微小氣泡增大會使流量計的輸出信號產生變化,如果流體內的微小氣泡增大到覆蓋整個電極表麵,將使電極信號回路瞬間斷開,使所測得的輸出信號產生比較大的變化。
HN8068A型回路電阻測試儀,直流電阻測試儀檢定裝置
2 一次額定電流:
1A、10A、100A、200A、300A、600A
3 電阻盤0、1、2、3……20帶電可調。
4 直接指示一次電流值,可做直流大電流標準表用。
直流電阻測試儀校驗裝置 泄漏電流測試儀檢定裝置 HN係列 絕緣電阻測試儀校驗儀 帶通訊目前常用的離子化方法(EICP、ESMALDI等)在實驗中(嚴格來說僅在一定濃度範圍內——術語是動態範圍,dynamicrange)都至少滿足樣品量與產生離子量的正相關,一般情況下也可以進一步近似成線性相關。傳輸離子時,簡單來說可以認為傳輸效率與被傳輸離子的量無關;(嚴格地說,被傳輸的離子太多時,相同電荷的互相排斥會造成離子束的“體積”變大,導致傳輸效率下降。這種影響在空間有限的離子阱中表現得更加明顯,因此在離子阱質譜中一個重要的技術就是適當控製進入儀器的離子數量,使其既不太少也不太多。