產品名稱：接地電阻表校驗裝置 耐壓測試儀校驗裝置 HN係列 絕緣電阻測試儀校驗儀 可定製

安規測試儀檢定裝置有以下幾種 接地電阻表校驗裝置 耐壓測試儀校驗裝置 HN係列 絕緣電阻測試儀校驗儀 可定製

HN8061A

依據JJG1005—2005《電子式絕緣電阻表檢定規程》、JJG622—1997《絕緣電阻表（兆歐表）檢定規程》,用於檢定電子式絕緣電阻表的示值誤差、跌落電壓、短路電流。
電壓分兩檔：0～500V  0～5000V  -10000V
 短路電流：0～2mA    0～20mA
電阻0-200G-1T-10T當波形捕獲出來後很多工程師覺得波形占屏幕2格就可以很清晰了，冇必要將波形調到鋪滿屏幕格子去看。其實這是一個誤區，今天我們就來看看為什麼要讓波形鋪滿示波器屏幕的格子。2格顯示和儘量滿格顯示明顯的就是，波形被“拉長”了，也就是垂直檔位變小了，而垂直檔位的變化直接影響了垂直測量的準確性。這其中重要就是示波器8位ADC與垂直量測量的關係。尺子測量就比如用1米尺子和用10厘米的尺子去量1.6cm的物件，米尺可能量出來的就是2cm，或很難去估算，而10厘米的尺子量出來的就是1.6cm。

HN8062A接地電阻表校驗裝置

用於檢定JJG336-2004《接地電阻表檢定規程》所適用的我目前生產的型號的模擬式、數字式接地電阻表以及進口的同類儀表，也可做普通電阻箱使用，具有調節範圍寬，使用方便，造型美觀等優點。示波器的是連接被測電路與示波器輸入端的電子部件，它對示波器測試結果的準確性至關重要，選擇如果不合適，再先進的示波器也發揮不出作用。簡單的是連接被測電路與電子示波器輸入端的一根導線。複雜的則由阻容元件和有源器件組成，於是種類就多了，有源、無源、差分、電流……令人眼花繚亂。本文就來理一理，看看不同的究竟該如何使用。1無源1:1無源的等效電路特點：它需要通過線和示波器連接，示波器的輸入阻抗一般設為1MΩ。

HN8063A耐電壓測試儀校驗裝置

1、測量準度： 

電壓：1000v  2500v  5000v  10000v  30000v

準度：1級  0.5級  0.2級繼電器廣泛用於各個領域，如電動汽車、智能電表、電化學等，其性能和可靠性也影響設備係統穩定，繼而繼電器測試驗證標準越來越嚴格，其測試設備綜合要求更高。繼電器是具有隔離功能的自動開關元件，廣泛應用於遙控、遙測、通訊、自動控製、機電一體化及電力電子設備中，是重要的控製元件之一。對於功耗超過1W和工作頻率小於1kHz的的高頻繼電器，在驗證測試過程中，通常需求1k~1kHz交流電。以往提供高頻交流電一般通過信號發生器與功率放大器組合輸出，即信號發生器產生低能量的高頻交流電，經過功率放大器增益放大，達到符合實際應用的高能量的高頻交流電。

HN8065A型泄漏電流測試儀檢定裝置

一、性能特點

1、源、表測量範圍：

       電壓源（AC，DC）：電壓：250V、50V、5V

       電流源（AC，DC）：20mA、2mA

       頻率計：10-100Hz此類紅外熱像儀不需要製冷，且成本比量子探測器紅外熱像儀低。製冷型量子探測器采用銻化銦(InSb)、銦镓砷(InGaAs)或應變超晶格製成。這類探測器為光電探測器，即光子撞擊像素點，轉化為可存儲於積分電容器的電子。像素采用的電子快門，通過斷開或短路積分電容器來控製快門。量子探測器在本質上比微測輻射熱計的速度要快，主要原因是微測輻射熱計必須要改變溫度。與改變像素溫度相反的是，量子探測器是將能量加到半導體中的電子裡，提至高於進入導電帶的探測器能量帶隙，根據探測器的不同設計，可以測量為探測器電壓或電流的變化。

HN8066A型接地導通電阻測試儀檢定裝置

2、一次額定電流：25A、2.5A。(大30A、3A)

3、電阻四盤連續帶電可調。

4、直接指示一次電流值，可做交直流大電流標準表用。此時可再將IT6412電源的顯示模式由電表模式切換至波形顯示模式，此時更可清楚看出電流實際的變化曲線，會是在1mA至15mA做變動，周期約是3ms。在波形模式下尚可借由時間長度的調整，更可看出電流波形的細部或是整體的曲線變化。時間軸為5ms/dvi可看出整體波形的變化時間軸為1ms/dvi可看出細部波形的變化IT64係列電池模擬器不管是在電表顯示模式或是波形顯示模式下，皆可使用IT6412的一鍵快速圖形截取功能，隻要插上USB，即可快速的將前麵板的顯示畫麵以圖標的方式截取下來，以利後續文檔報告的整理。

HN8068A型回路電阻測試儀，直流電阻測試儀檢定裝置

2 一次額定電流：

1A、10A、100A、200A、300A、600A

3 電阻盤0、1、2、3……20帶電可調。

4 直接指示一次電流值,可做直流大電流標準表用。

接地電阻表校驗裝置 耐壓測試儀校驗裝置 HN係列 絕緣電阻測試儀校驗儀 可定製測量誤差的產生誤差客觀存在，但人們無法確定得到；且誤差不可避免，相對誤差可以儘量減少。誤差組成成分可分為隨機誤差與係統誤差，即：誤差=測量結果-真值=隨機誤差+係統誤差任意一個誤差均可分解為係統誤差和隨機誤差的代數和係統誤差：係統誤差（Systematicerror）定義：在重複性條件下，對同一被測量進行無限多次測量所得結果的平均值與被測量的真值之差。產生原因：由於測量工具（或測量儀器）本身固有誤差、測量原理或測量方法本身理論的缺陷、實驗操作及實驗人員本身心理生理條件的製約而帶來的測量誤差。