產品名稱：直流電阻測試儀校驗裝置 耐電壓測試儀檢定裝置 HN係列 絕緣電阻測試儀檢定裝置 大量供應

安規測試儀檢定裝置有以下幾種 直流電阻測試儀校驗裝置 耐電壓測試儀檢定裝置 HN係列 絕緣電阻測試儀檢定裝置 大量供應

HN8061A

依據JJG1005—2005《電子式絕緣電阻表檢定規程》、JJG622—1997《絕緣電阻表（兆歐表）檢定規程》,用於檢定電子式絕緣電阻表的示值誤差、跌落電壓、短路電流。
電壓分兩檔：0～500V  0～5000V  -10000V
 短路電流：0～2mA    0～20mA
電阻0-200G-1T-10T在識彆PLC信號方麵，本文采用的是統計模式識彆方法，這種方法計算量比較小，容易求解。本文針對文獻[1]所提出的識彆器模型，改進並設計了一種算法簡單、計算量較小的信號識彆器。在低信噪比的情況下，識彆效果也是比較理想的。基於近似實際的電力線通信信道的仿真結果和比較試驗顯示出本文所改進和設計的識彆器的有效性。1信號模型設r(t)為接收到的信號的複數模型：其中s(t)是調製信號的複數形式，n(t)是電力線信道的背景噪聲，ωc是載波頻率，θc是載波相位。

HN8062A接地電阻表校驗裝置

用於檢定JJG336-2004《接地電阻表檢定規程》所適用的我目前生產的型號的模擬式、數字式接地電阻表以及進口的同類儀表，也可做普通電阻箱使用，具有調節範圍寬，使用方便，造型美觀等優點。ADC模塊是一個12位、具有線結構的模數轉換器，用於控製回路中的數據采集。本文提出一種用於提高TMS320F2812ADC精度的方法，使得ADC精度得到有效提高。1ADC模塊誤差的定義及影響1.1誤差定義常用的A/D轉換器主要存在：失調誤差、增益誤差和線性誤差。這裡主要討論失調誤差和增益誤差。理想情況下，ADC模塊轉換方程為y=x×mi，式中x=輸入計數值=輸入電壓×4095/3;y=輸出計數值。

HN8063A耐電壓測試儀校驗裝置

1、測量準度： 

電壓：1000v  2500v  5000v  10000v  30000v

準度：1級  0.5級  0.2級LED研發一LED光源半導體芯片發熱利用熱像儀，工程師可以根據得到的光源半導體芯片發熱紅外熱圖，出其芯片在工作時的溫度，以及溫度的分布情況，在此基礎，達到提高LED產品壽命的目的。二LED模塊驅動電路在LED產品研發中，需要工程師進行一部分驅動電路設計，整流器電路模塊。利用紅外熱像儀，工程師可以迅速而便捷地發現電路上溫度異常之處，便於完善電路設計。三光衰試驗LED產品的光衰就是光在傳輸中的信號減弱，而現階段的LED大廠們做出的LED產品光衰程度都不相同，大功率LED同樣存在光衰，這和溫度有著直接的關係，主要是由晶片、熒光粉和封裝技術決定的。

HN8065A型泄漏電流測試儀檢定裝置

一、性能特點

1、源、表測量範圍：

       電壓源（AC，DC）：電壓：250V、50V、5V

       電流源（AC，DC）：20mA、2mA

       頻率計：10-100Hz下表是載波功率和相位噪聲極限值的對應表。相位噪聲的測量在頻域中，常用的相位噪聲測量方法主要有直接頻譜儀法、相位檢波器法、鑒頻器法和雙通道互相關法等。應該指出，在不同場合對相位噪聲的要求不同，測量方法也有所不同。典型的相位噪聲測量可以由專業相位噪聲測試係統完成，但這些專業設備的價格相當昂貴，而頻譜儀或者新一代的信號儀是相對常用的儀器，對一些相位噪聲指標要求不是很嚴格的場合，可以用信號/頻譜儀進行相位噪聲指標的測量。

HN8066A型接地導通電阻測試儀檢定裝置

2、一次額定電流：25A、2.5A。(大30A、3A)

3、電阻四盤連續帶電可調。

4、直接指示一次電流值，可做交直流大電流標準表用。傳感器輸出100kHz±50kHz脈衝對應0±5Nm扭矩。調試中發現，驅動器上電但未開啟輸出，電機轉軸處於自由靜止狀態，測量到一個較大的值。用示波器測量傳感器輸出，發現100kHz脈衝上每個幾個周期出現一些尖峰振蕩，經過比較器後多了些脈衝，導致測頻結果高於100kHz。那麼乾擾信號從何而來？懷疑是驅動器，驅動器斷電乾擾消失。把傳感器電纜從傳感器處拔出，100kHz和乾擾都冇有了。證明乾擾由驅動器產生，通過驅動器輸出線、電機、扭矩傳感器及連線耦合到PA。

HN8068A型回路電阻測試儀，直流電阻測試儀檢定裝置

2 一次額定電流：

1A、10A、100A、200A、300A、600A

3 電阻盤0、1、2、3……20帶電可調。

4 直接指示一次電流值,可做直流大電流標準表用。

直流電阻測試儀校驗裝置 耐電壓測試儀檢定裝置 HN係列 絕緣電阻測試儀檢定裝置 大量供應尤其是在以下兩種情況下，非常不建議采用兩線製測試：測試導線過長，R1R2偏大，有時甚至會高出被測電阻，兩線製測試極易導致結果錯誤；被測電阻Rb為低阻值時，饋線電阻的影響會比平時更大，也容易造成讀數誤差較大。蓄電池的內阻很小，2V電芯的典型內阻為.3mΩ，所以對於此類阻值的測量，需要采用更的測試方法。四線製測試原理四線製測試法即為開爾文測試法。如下圖所示，開爾文連接有兩個要求：對於每個測試點都有一條激勵線和一條檢測線,二者嚴格分開，各自構成立回路：激勵回路用於測定流過Rb的電流I1，檢測回路用於測定Rb兩端的電壓V34，因電壓表的內部阻抗遠遠大於檢測回路的饋線電阻R3和R4，因此流經電壓表的電流I2幾乎為零，所量到的電壓V34也幾乎是Rb本身的壓降。