產品名稱：接地電阻表校驗儀 泄漏電流測試儀檢定裝置 HN係列 接地導通測試儀檢定裝置 帶通訊

安規測試儀檢定裝置有以下幾種 接地電阻表校驗儀 泄漏電流測試儀檢定裝置 HN係列 接地導通測試儀檢定裝置 帶通訊

HN8061A

依據JJG1005—2005《電子式絕緣電阻表檢定規程》、JJG622—1997《絕緣電阻表（兆歐表）檢定規程》,用於檢定電子式絕緣電阻表的示值誤差、跌落電壓、短路電流。
電壓分兩檔：0～500V  0～5000V  -10000V
 短路電流：0～2mA    0～20mA
電阻0-200G-1T-10T早在2014年，汽車全液晶儀表市場規模就已經達到35.06億元，預計到2020年，這一規模將突破200億元，達到234.43億元。全數字汽車儀表是一種網絡化、智能化的儀表，其功能更強大，顯示內容更豐富，線束鏈接更加簡單、更，更人性化地滿足駕駛需求。初全液晶儀表更多地是出現在一些豪華上，後來隨著技術逐步成熟，製造成本不斷下降，全液晶儀表逐步普及到自主的車型裡。近新能源汽車的興起更加帶動了全液晶儀表的應用。

HN8062A接地電阻表校驗裝置

用於檢定JJG336-2004《接地電阻表檢定規程》所適用的我目前生產的型號的模擬式、數字式接地電阻表以及進口的同類儀表，也可做普通電阻箱使用，具有調節範圍寬，使用方便，造型美觀等優點。下麵的方程1描述了期望達到的動態範圍的提高量：ΔL=5log(n)[1]ΔL:通過互相關技術相位噪聲靈敏度的提高量(單位dB)n:互相關的次數舉個例子,如果互相關的次數為10,相位噪聲的靈敏度提高5dB.理論產生脈衝調製信號的通用方法是使用信號源來持續不斷對載波和脈衝波形進行幅度調製，在進行調製之前，先介紹幾個脈衝的標準術語，是脈衝信號的波形，表1表示脈衝信號幾個主要參數。圖脈衝波形圖表脈衝信號的標準術語除了知道脈衝信號的時域特性外，脈衝信號的頻域特性也是非常重要的，由調幅原理可知道，產生調幅信號是通過載波和調製信號相乘來實現，而信號在時域的相乘等於信號在頻域的卷積。

HN8063A耐電壓測試儀校驗裝置

1、測量準度： 

電壓：1000v  2500v  5000v  10000v  30000v

準度：1級  0.5級  0.2級以下是紅外熱像儀應用中套管電壓致熱缺陷的診斷根據：套管外壁是一層導熱性能較差的絕緣陶瓷，通過測量表麵溫度，我們很難得到設備內部的真實溫度。一般來說，我們建議采用三相對比的方式來衡量套管是否異常發熱。對於套管缺油的情況，是一種電壓致熱故障。這種故障對於電力部門的**生產是一種較大隱患。在實際運行中檢測人員應當注意觀察，以免造成重大損失。以下是套管缺油的診斷判據：變壓器套管熱缺陷處理建議如果異常發熱是由於將軍帽與外部接線板或內部導電杆接觸所造成的。

HN8065A型泄漏電流測試儀檢定裝置

一、性能特點

1、源、表測量範圍：

       電壓源（AC，DC）：電壓：250V、50V、5V

       電流源（AC，DC）：20mA、2mA

       頻率計：10-100Hz丈量垂直、水平的距離容易，用直尺、米尺或卷尺都可以；但如果測量表麵凹凸不平、上下彎曲的物體呢？現在用智能測量儀，一個巴掌大小的工具，在物體表麵輕輕滑動，就可以測試出具體的尺寸，然後保存到智能上。我們還可以對物品拍照，然後對目標的數據進行標注。搬了新家、買了新房子，在暢想一個漂亮小窩之前，是不是應該好好規劃一下呢？除了聘請專業的攝影師之外，相信有很多對自己充滿信心的朋友，還是更喜歡自己動手來規劃設計一番。

HN8066A型接地導通電阻測試儀檢定裝置

2、一次額定電流：25A、2.5A。(大30A、3A)

3、電阻四盤連續帶電可調。

4、直接指示一次電流值，可做交直流大電流標準表用。片上全集成係統意味著外部的電阻、電容和電感都已對係統工作毫無幫助了。舉例來說，集成的濾波器可以節省一打外部元件，一個三階濾波器就能省下14個元件。此外，同多種信號的兼容意味著多個濾波器要並存，它們要保持自己的操作模式。此外，集成濾波器的容差(tolerance)是分立器件的一半，使操作更可靠、更穩定。這些濾波器需要以一種對用戶來說切換過程就像是透明的或無痕跡的方式來切換。從8MHz的標準分辨率輸出到15MHz逐行掃描或32MHz高分辨率輸出的轉換意味著信號突然被置於一種完全不同的帶寬接口，濾波器必須進行相應的補償。

HN8068A型回路電阻測試儀，直流電阻測試儀檢定裝置

2 一次額定電流：

1A、10A、100A、200A、300A、600A

3 電阻盤0、1、2、3……20帶電可調。

4 直接指示一次電流值,可做直流大電流標準表用。

接地電阻表校驗儀 泄漏電流測試儀檢定裝置 HN係列 接地導通測試儀檢定裝置 帶通訊PID（PotentianInducedDegradation）是一種電勢誘導衰減現象，是指組件長期在高電壓下使得玻璃，封裝材料之間存在漏電流，大量電荷聚集在電池表麵。使得電池表麵的鈍化效果惡化，導致填充因子（FF），短路電流（Isc），開路電壓（Voc）降低，使得組件的性能低於設計標準，發電能力也隨之下降。2010年，NREL和Solon證實了無論組件采取何種技術的P型晶矽電池，組件在負偏壓下都有PID的風險。