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安規測試儀檢定裝置有以下幾種 直流電阻測試儀檢定裝置 泄漏電流測試儀校驗儀 HN係列 接地導通測試儀校驗裝置 來電谘詢

依據JJG1005—2005《電子式絕緣電阻表檢定規程》、JJG622—1997《絕緣電阻表(兆歐表)檢定規程》,用於檢定電子式絕緣電阻表的示值誤差、跌落電壓、短路電流。
電壓分兩檔:0~500V 0~5000V -10000V
短路電流:0~2mA 0~20mA
電阻0-200G-1T-10T為糧庫提供有效地保障條件,保證糧食的**和長期保存。倉儲溫濕度監測係統,可確保糧食在儲存和運輸過程中溫濕度的連續監測和溫度超限報警,以及完整的溫濕度數據記錄和報告。其工作原理是:可將無線分彆布置在糧庫的牆壁、頂部、通風口、回風口、以及糧庫外牆;另外,采用分離式傳感器,采用延伸線的方式將傳感器預置在糧堆內部或糧屯內部,各個區域的通過無線的方式將監測數據上傳到數采並上傳到計算機中,通過軟件即可實現數據的可視化:曲線、表格以及可采用人性化的糧庫背景圖標注,直接通過屏幕圖片就看到某一個測量點的溫濕度情況。
HN8062A接地電阻表校驗裝置
用於檢定JJG336-2004《接地電阻表檢定規程》所適用的我目前生產的型號的模擬式、數字式接地電阻表以及進口的同類儀表,也可做普通電阻箱使用,具有調節範圍寬,使用方便,造型美觀等優點。頻域必須與時域、數字信號或邏輯通道保持嚴密的同步。頻譜對調試工作的價值通常取決於速度(更新速度),因此信號的捕捉和發現極富挑戰性。此外,儀器還必須具備足夠高的頻域和時域靈敏度,以便能夠捕捉到信號,如因電磁乾擾或其它乾擾所產生的頻域雜散信號等微小信號。為了獲得可以用來調試支持多種信號類型的複雜係統的有價值信息,必須基於時間事件、頻率事件或數字碼型實現觸發。快速傅立葉變換任何信號都是關於時間和幅值的函數。
HN8063A耐電壓測試儀校驗裝置
1、測量準度:
電壓:1000v 2500v 5000v 10000v 30000v
準度:1級 0.5級 0.2級LED研發一LED光源半導體芯片發熱利用熱像儀,工程師可以根據得到的光源半導體芯片發熱紅外熱圖,出其芯片在工作時的溫度,以及溫度的分布情況,在此基礎,達到提高LED產品壽命的目的。二LED模塊驅動電路在LED產品研發中,需要工程師進行一部分驅動電路設計,整流器電路模塊。利用紅外熱像儀,工程師可以迅速而便捷地發現電路上溫度異常之處,便於完善電路設計。三光衰試驗LED產品的光衰就是光在傳輸中的信號減弱,而現階段的LED大廠們做出的LED產品光衰程度都不相同,大功率LED同樣存在光衰,這和溫度有著直接的關係,主要是由晶片、熒光粉和封裝技術決定的。
HN8065A型泄漏電流測試儀檢定裝置
一、性能特點
1、源、表測量範圍:
電壓源(AC,DC):電壓:250V、50V、5V
電流源(AC,DC):20mA、2mA
頻率計:10-100HzUART轉CAN的應用已廣泛應用於各行各業,因此對於數據幀轉換的形式要求也逐漸增多,目前主流的轉換形式包括透明轉換、透明帶標識轉換以及自定義轉換。具體是如何實現?本文將為大家介紹其中的透明帶標識轉換。適用場景串口轉CAN模塊在什麼時候需要用到呢?一是老產品麵臨升級,需要用到CAN總線通信,但硬件平台中的MCU冇有集成CAN總線的控製器。二是選用的MCU已經包含CAN總線接口,但數量上不能滿足項目需求。
HN8066A型接地導通電阻測試儀檢定裝置
2、一次額定電流:25A、2.5A。(大30A、3A)
3、電阻四盤連續帶電可調。
4、直接指示一次電流值,可做交直流大電流標準表用。後說到的頻譜儀通常用在射頻領域,來觀察和被測信號的頻域特性,而我們常用其配合近場來掃描電磁乾擾的功率峰值以及找到其對應的頻點,初步判定輻射源屬性。眼看上去這三種儀器用途各不相同,但其實都可以用來測試晶體振蕩電路的頻率。如果使用示波器或者頻率計,配合無源電壓點測芯片的時鐘輸入引腳,就可以測量到頻率,如下是各部分的電路結構:其中:CC2是晶體的負載電容,影響到頻率、負性阻抗等電路參數RC3是無源電壓的電路參數,R3是9Mohm,C3是幾個pF不等R是示波器或者頻率計輸入通道的等效阻抗和電容,R4是1Mohm,是幾十pF不等如果使用頻譜儀,配合近場靠近晶體封裝外殼就可以探測到輻射功率峰值的頻率,這個頻率也是晶體電路的振蕩頻率。
HN8068A型回路電阻測試儀,直流電阻測試儀檢定裝置
2 一次額定電流:
1A、10A、100A、200A、300A、600A
3 電阻盤0、1、2、3……20帶電可調。
4 直接指示一次電流值,可做直流大電流標準表用。
直流電阻測試儀檢定裝置 泄漏電流測試儀校驗儀 HN係列 接地導通測試儀校驗裝置 來電谘詢當我們用台式硬度計測量洛氏硬度時,硬度計壓頭是金剛石錐體,壓頭(錐頂直徑為0.4毫米)與被測表麵的接觸麵積較小。加載時,壓頭很容易穿透擠壓層,因此硬度的測量偏差較小。試驗證明,測量偏差一般在5HRC以內。用台式硬度計測量布氏硬度時,硬度計壓頭是鋼球壓頭,壓頭與被測表麵的接觸麵積較大。加載時,壓頭必須克服擠壓層的較大阻力才能被測表麵,這就使硬度計壓頭的量不夠,所壓得的圓形壓痕也隨之變小,致使相應的硬度值偏高於其真實值。