產品名稱：回路電阻測試儀校驗儀 耐壓測試儀檢定裝置 HN係列 絕緣電阻表檢定裝置 30年經驗

安規測試儀檢定裝置有以下幾種 回路電阻測試儀校驗儀 耐壓測試儀檢定裝置 HN係列 絕緣電阻表檢定裝置 30年經驗

HN8061A

依據JJG1005—2005《電子式絕緣電阻表檢定規程》、JJG622—1997《絕緣電阻表（兆歐表）檢定規程》,用於檢定電子式絕緣電阻表的示值誤差、跌落電壓、短路電流。
電壓分兩檔：0～500V  0～5000V  -10000V
 短路電流：0～2mA    0～20mA
電阻0-200G-1T-10T由於壓鑄過程中，模具溫度失控會造成主線縮痕，砂孔，裂縫，氣泡等缺陷，壓鑄行業的模具溫度需要通過紅外技術監控。那麼，紅外技術是如何應用在壓鑄行業，保證模具溫度快速調整並**作業的呢？對於模具的表麵溫度進行實時監控在無需中斷生產流程的情況下，即可有效的防止鑄造過程中存在的問題，及時將其扼殺在萌芽狀態。由於不必要的使用溫度調節，壓縮空氣，水基潤滑劑，脫模劑等，造成加工過程中模具溫度過高或者過低對於零件的質量，模具的使用壽命，生產周期以及能源消耗和維護成本等產生的負麵影響。

HN8062A接地電阻表校驗裝置

用於檢定JJG336-2004《接地電阻表檢定規程》所適用的我目前生產的型號的模擬式、數字式接地電阻表以及進口的同類儀表，也可做普通電阻箱使用，具有調節範圍寬，使用方便，造型美觀等優點。其中EMI包括：CE（傳導乾擾），RE（輻射乾擾），PT(乾擾功率測試)等等。EMS包括：ESD(靜電放電），RS（輻射耐受），EFT/B(快速脈衝耐受)，surge（雷擊），CS（傳導耐受）等。常見的擾源顯然，EMC設計的目的就是使所設計的電子設備或係統在預期的電磁環境中能夠實現電磁兼容。換而言之,就是說設計的電子設備或係統必須能夠滿足EMC標準規定的兩方麵的能力。常見EMC測試項目電磁乾擾（EMI）的原理EMI的產生原因形式的電磁乾擾是影響電子設備兼容性的主要原因。

HN8063A耐電壓測試儀校驗裝置

1、測量準度： 

電壓：1000v  2500v  5000v  10000v  30000v

準度：1級  0.5級  0.2級如果套管內部存在缺陷，也可能導致套管異常發熱。在這種情況下，發生故障套管的整體溫度一般較其他正常的兩相高（如下圖紅外熱像儀應用在套管上）。如果套管內部或外部接頭存在接觸，或接點被氧化腐蝕，也可能導致套管接觸點溫度異常。在這種情況下，發生故障套管接觸點就會表現出觸點的溫度明顯高於其他正常的點或線路或套管。變壓器套管熱缺陷的紅外熱像儀應用檢測依據根據DL/T664-20089.1電流致熱型設備的判斷：套管將軍帽與外部接線板或內部導電杆接觸是電流致熱故障，判斷依據如下：套管內部存在缺陷的情況比較複雜：有可能是電壓致熱故障所引起的，也有可能是套管機械損傷造成的。

HN8065A型泄漏電流測試儀檢定裝置

一、性能特點

1、源、表測量範圍：

       電壓源（AC，DC）：電壓：250V、50V、5V

       電流源（AC，DC）：20mA、2mA

       頻率計：10-100Hz直線度公差指單一實際直線允許的變動全量。用於控製平麵或空間直線的形狀誤差，其公差帶根據不同的情況有幾種不同的形式。直線度的測量自動測量能給工作人員提供準確的信息，保證軋材符合標準。光電法測量光電法測量是以三台測徑儀為基礎進行檢測的，可以用於測量運動中的線、棒、管的外輪廓的直線度。布置上圖的的設備3台，三台設備同一時刻測量被測工件的位置數據左邊和右邊兩台采集的位置連線，計算出中間設備的在直線度為0時的理論位置，與中間一台所獲的的位置數據比較，差值即為被測工件在當前位置的直線偏差如下圖所示。

HN8066A型接地導通電阻測試儀檢定裝置

2、一次額定電流：25A、2.5A。(大30A、3A)

3、電阻四盤連續帶電可調。

4、直接指示一次電流值，可做交直流大電流標準表用。另外，重心法需要使用至少兩根譜線，而且受窗函數主瓣寬度限製，頻率重心法所能支持的頻率下限隻能達到頻率分辨率的三倍以上。由於頻率重心法冇有反饋過程，不依賴於信號，模擬電路實現簡單，理論上隻要采樣率和使用的數據點足夠，就能得到正確的結果。特彆地，因為同步采樣需要硬件電路，受限與成本與體積，大部分測量儀器隻支持一到兩個PLL源，而頻率重心法無此限製，甚至可任意定義基波源（對應於PLL源，用於確定基波）。應用實例PA功率儀提供了三種諧波模式：常規諧波、諧波和IEC諧波。

HN8068A型回路電阻測試儀，直流電阻測試儀檢定裝置

2 一次額定電流：

1A、10A、100A、200A、300A、600A

3 電阻盤0、1、2、3……20帶電可調。

4 直接指示一次電流值,可做直流大電流標準表用。

回路電阻測試儀校驗儀 耐壓測試儀檢定裝置 HN係列 絕緣電阻表檢定裝置 30年經驗我們可以想象一台具有實驗室儀器的性能的、由電池供電的手持式光譜儀。屆時，很多目前無法支持的應用都能夠被實現。傳統光譜方法大多數色散紅外（IR）光譜測量在開始時都采用同樣的測量方式。將被的光穿過一個小狹縫，它與控製儀器分辨率的光柵組合在一起。這個衍射光柵是一個專門設計用於以已知角度反射不同波長光的元件。這些波長的空間分離使得其它係統能夠以波長為基礎測量光強度。光譜測量的傳統架構的主要差彆在於色散光的測量方式。