產品名稱：直流電阻測試儀校驗儀 數字高壓表 HN係列 絕緣電阻表檢定裝置 大量供應

安規測試儀檢定裝置有以下幾種 直流電阻測試儀校驗儀 數字高壓表 HN係列 絕緣電阻表檢定裝置 大量供應

HN8061A

依據JJG1005—2005《電子式絕緣電阻表檢定規程》、JJG622—1997《絕緣電阻表（兆歐表）檢定規程》,用於檢定電子式絕緣電阻表的示值誤差、跌落電壓、短路電流。
電壓分兩檔：0～500V  0～5000V  -10000V
 短路電流：0～2mA    0～20mA
電阻0-200G-1T-10TAPD的工作模式分為線性模式和蓋革模式兩種。當APD的偏置電壓低於其雪崩電壓時，對入射光電子起到線性放大作用，這種工作狀態稱為線性模式。在線性模式下，反向電壓越高，增益就越大。APD對輸入的光電子進行等增益放大後形成連續電流，獲得帶有時間信息的激光連續回波信號。當偏置電壓高於其雪崩電壓時，APD增益迅速增加，此時單個光子吸收即可使探測器輸出電流達到飽和，這種工作狀態稱為蓋革模式。工作在蓋革模式下的APD又被稱作SPAD。

HN8062A接地電阻表校驗裝置

用於檢定JJG336-2004《接地電阻表檢定規程》所適用的我目前生產的型號的模擬式、數字式接地電阻表以及進口的同類儀表，也可做普通電阻箱使用，具有調節範圍寬，使用方便，造型美觀等優點。是世界上產量的化學產品之一，其生產能力是衡量一個石油化工發展水平的重要標誌。裂解爐是生產裝置的核心設備，將天然氣、原油等各類原材料加工成裂解氣，提供給其它裝置，終加工成、丙烯及副產品，其生產能力及技術的高低，直接決定了整套裝置的生產規模和產品品質。在裂解過程中，由於二次反應，裂解爐管內壁上和急冷換熱器的管內壁上會產生結焦現象。隨著裂解的進行，焦量不斷增加，直接影響管壁的導熱性能，造成局部過熱而燒壞設備，甚至堵塞爐管，引起事故。

HN8063A耐電壓測試儀校驗裝置

1、測量準度： 

電壓：1000v  2500v  5000v  10000v  30000v

準度：1級  0.5級  0.2級顯示的是FLIR校準實驗室裡1/4圈的21個以上腔式黑體。實驗室測量值的不確定性包括將校準熱像儀指向校準的黑體，並畫出隨時間變化的溫度變化。雖然經過仔細的校準，但在測量中總會出現一些隨機誤差。所產生的數據集可以對精度和性進行量化。請參見的校準黑體測量值結果。.觀測37?C黑體時典型FLIRA325sc紅外熱像儀的響應值。的圖形顯示的是FLIRA325sc紅外熱像儀在室內距離0.3米觀測37?C黑體的2小時以上的數據結果。

HN8065A型泄漏電流測試儀檢定裝置

一、性能特點

1、源、表測量範圍：

       電壓源（AC，DC）：電壓：250V、50V、5V

       電流源（AC，DC）：20mA、2mA

       頻率計：10-100Hz有些測溫場合，將熱電偶電極直接焊於通電加熱的金屬件上，由於金屬件在平行於電流方向的各點存在電位差，這時引入的乾擾電壓也是很大的。在高溫狀態下，耐火材料的絕緣電阻急劇下降，熱電偶的保護管絕緣性能也會下降，則電源電壓通過耐火磚、熱電偶套管等泄漏到熱電偶絲上，在熱電偶電極與地之間產生乾擾電壓。大地中各個不同點之間往往存在電位差，特彆是在大功率用電設備附近，當這些設備的絕緣性能下降時，電位差更大。而現場儀表在使用中，有時不注意會使回路存在兩個以上的接地點，就會把不同接地點的電位差引入到數顯表中而形成共模乾擾。

HN8066A型接地導通電阻測試儀檢定裝置

2、一次額定電流：25A、2.5A。(大30A、3A)

3、電阻四盤連續帶電可調。

4、直接指示一次電流值，可做交直流大電流標準表用。半導體材料研究和器件測試通常要測量樣本的電阻率和霍爾電壓。半導體材料的電阻率主要取決於體摻雜，在器件中，電阻率會影響電容、串聯電阻和閾值電壓。霍爾電壓測量用來推導半導體類型(n還是p)、自由載流子密度和遷移率。為確定半導體範德堡法電阻率和霍爾電壓，進行電氣測量時需要一個電流源和一個電壓表。為自動進行測量，一般會使用一個可編程開關，把電流源和電壓表切換到樣本的所有側。A-SCS參數儀擁有4個源測量單元(SMUs)和4個前置放大器(用於高電阻測量)，可以自動進行這些測量，而不需可編程開關。

HN8068A型回路電阻測試儀，直流電阻測試儀檢定裝置

2 一次額定電流：

1A、10A、100A、200A、300A、600A

3 電阻盤0、1、2、3……20帶電可調。

4 直接指示一次電流值,可做直流大電流標準表用。

直流電阻測試儀校驗儀 數字高壓表 HN係列 絕緣電阻表檢定裝置 大量供應幸運的是，大多數現代測試係統都基於PC或PXI，可以直接連接到企業係統，從而實現額外的功能，如管理軟件和硬件組件、跟蹤使用情況以及執行性維護，從而限度地提高測試投資的價值。接入和管理數據物聯網的商業價值來自互聯係統生成的海量數據。然而，由於存在數據格式和來源，有效利用測試數據變得非常困難，從時域和頻域的原始模擬和數字波形到參數測量等數據通常以遠高於消費者或工業設備的速度和數量進行采集。更糟糕的是，測試數據通常存儲在冇有標準化的“孤島”(silos)中。