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安規測試儀檢定裝置有以下幾種 直流電阻測試儀校驗裝置 模擬交流標準電阻器 HN係列 接地導通測試儀校驗儀 來電谘詢

依據JJG1005—2005《電子式絕緣電阻表檢定規程》、JJG622—1997《絕緣電阻表(兆歐表)檢定規程》,用於檢定電子式絕緣電阻表的示值誤差、跌落電壓、短路電流。
電壓分兩檔:0~500V 0~5000V -10000V
短路電流:0~2mA 0~20mA
電阻0-200G-1T-10T兩線變送器的電源連接在變送器的輸出端。兩線變送器調製電源的電流從4?20mA,和輸入端成比例。兩線變送器的供電電源一般從24V~96V。大的電源可以使輸出端的環路負載能力加大很多。環路電源隔離器的現場檢測福祿克多功能校驗儀787具有特的電流模擬功能。當連接至外部電源時,可以讓您在0?24mA之間地控製電流。現場檢測環路電源隔離器時,兩線環路變送器向隔離器提供的電流信號可以被移去,而福祿克多功能校驗儀可以用模擬方式控製環路電流()步連接福祿克多功能校驗儀1、將變送器主環路斷開,把福祿克多功能校驗儀的測試線插入模擬(Simulate)插口並接入環路。
HN8062A接地電阻表校驗裝置
用於檢定JJG336-2004《接地電阻表檢定規程》所適用的我目前生產的型號的模擬式、數字式接地電阻表以及進口的同類儀表,也可做普通電阻箱使用,具有調節範圍寬,使用方便,造型美觀等優點。功率器件熱阻分布示意圖舉個例子來說,大家常用的S8050在25℃(Tc)的耗散功率是0.625W,額定電流為0.5A,結點溫度為150℃,此代入公式有:從上麵公式可以推算出Rja為200℃/W(Rja表示結點到空氣的熱阻)。假設芯片殼溫(Tc)為55℃,熱耗散功率有0.5W時,此刻芯片結點溫度為:Tj=Tc+PD*Rjc代入得到155℃,已經超過了結溫150℃了。故需要降額使用,然而降額曲線在數據手冊中並未標注,所以小編隻能自行計算。
HN8063A耐電壓測試儀校驗裝置
1、測量準度:
電壓:1000v 2500v 5000v 10000v 30000v
準度:1級 0.5級 0.2級,Linux內核是使用make命令來配置並編譯的,那必然少不了Makefile。如此複雜、龐大的內核源碼絕不可能使用一個或幾個Makefile文件來完成配置編譯,而是需要一套同樣複雜、龐大,且為Linux內核定製的Makefile係統。儘管這是一個複雜的係統,但對絕大部分內核來說隻需要知道如何使用,而無需了解其中的細節。她對絕大部分內核基本上是透明的,隱藏了大部分實現細節,有效地降低了的負擔,能使其能專注於內核開發,而不至於花費時間和精力在編譯過程上。
HN8065A型泄漏電流測試儀檢定裝置
一、性能特點
1、源、表測量範圍:
電壓源(AC,DC):電壓:250V、50V、5V
電流源(AC,DC):20mA、2mA
頻率計:10-100Hz為了保證您現在和將來都能選購到滿足自己使用需求的高質量紅外熱像儀,FLIR列出了選購研發用紅外熱像儀的七大須知。它能引導您明確項目需求,幫助您選擇特定應用的熱像儀。基於7點建議的討論通過指導您創建需求文件,幫助您縮小紅外熱像儀的選擇範圍,為您的終選購指明方向。第1點:您要測量什麼溫度?紅外熱像儀的常見應用就是測量所研究物體的溫度變化。測量溫度時需考慮的兩點是:所測物體的溫度範圍和希望獲得的溫度分辨率。
HN8066A型接地導通電阻測試儀檢定裝置
2、一次額定電流:25A、2.5A。(大30A、3A)
3、電阻四盤連續帶電可調。
4、直接指示一次電流值,可做交直流大電流標準表用。與此同時,近紅外光譜技術在除農業以外的其他領域(如紡織業、化工業、製藥業、造紙業等)也進入了實際應用階段,尤其是在工業現場、在線質量監控等方麵該技術顯示了其有的優勢。進入九十年代,許多基於不同分光原理的新型近紅外儀器如二極管列陣型、聲光調製型、成像光譜型等出現了,這些儀器在快速現場實時測量方麵有很好的發展潛力,是當代近紅外光譜儀器發展的典型代表。在食用油脂領域,研究人員利用NIR技術進行了多方麵的研究,主要包含食用油脂種類鑒彆與摻偽、理化指標的定量及多組分同時測定等幾個方麵。
HN8068A型回路電阻測試儀,直流電阻測試儀檢定裝置
2 一次額定電流:
1A、10A、100A、200A、300A、600A
3 電阻盤0、1、2、3……20帶電可調。
4 直接指示一次電流值,可做直流大電流標準表用。
直流電阻測試儀校驗裝置 模擬交流標準電阻器 HN係列 接地導通測試儀校驗儀 來電谘詢在冇有火出現的場景中,紅外熱像儀將在高靈敏度模式下操作,顯示熱環境的細節。就FLIRK係列紅外熱像儀而言,高靈敏度模式能夠測量高達+15°C的溫度。如果發生火災,熱像儀將會切換到低靈敏度模式,該模式可實現較低靈敏度(較少細節)和較高表麵溫度監測能力之間的平衡。就FLIRK係列紅外熱像儀而言,低靈敏度模式能夠測量高達+65°C的溫度。測量更高溫度,即超過+65°C,意味著轉換到更低靈敏度模式(所謂的增益模式),在此模式下,能測量更高溫度,但是須以犧牲圖像細節和對比度為代價,導致不可接受的圖像質量損失。