產品名稱：接地電阻測試儀檢定裝置 大功率直流標準電阻器 HN係列 絕緣電阻表校驗裝置 使用方法

安規測試儀檢定裝置有以下幾種 接地電阻測試儀檢定裝置 大功率直流標準電阻器 HN係列 絕緣電阻表校驗裝置 使用方法

HN8061A

依據JJG1005—2005《電子式絕緣電阻表檢定規程》、JJG622—1997《絕緣電阻表（兆歐表）檢定規程》,用於檢定電子式絕緣電阻表的示值誤差、跌落電壓、短路電流。
電壓分兩檔：0～500V  0～5000V  -10000V
 短路電流：0～2mA    0～20mA
電阻0-200G-1T-10T3D打印過程中，由於速度、距離、材料等特性的不同，在粉末逐層堆疊累積的過程中，溫度會出現異常，如跳變、過高、過低、不均勻等，造成打印後的結構件性能下降，韌度差、彈性不夠、變脆、隱紋等。使用之選係列熱像儀在可以為金屬打印過程中，提供有效的檢測方案。TiX1000120Hz幀頻模式，劉琛拍攝應用案例：某大學機械製造係統工程重點實驗室，負責利用3D打印技術可快速而地製造出任意複雜形狀的零件，從而實現“自由製造”項目研究。

HN8062A接地電阻表校驗裝置

用於檢定JJG336-2004《接地電阻表檢定規程》所適用的我目前生產的型號的模擬式、數字式接地電阻表以及進口的同類儀表，也可做普通電阻箱使用，具有調節範圍寬，使用方便，造型美觀等優點。LPWAN行業應用而目前LPWAN主要可分為兩類：一類是工作於未授權頻譜的LoRa技術；另一類是工作於授權頻譜下的NB-IoT。頻段授權分布LoRa模塊是指基於Semtech公司SX127X係列芯片研發的一款工業級射頻無線產品，相比傳統的窄帶調製技術，LoRa模塊采用了擴頻調製技術在同頻乾擾的性能方麵具有明顯優勢，解決了傳統設計方案無法同時兼顧距離、抗擾和功耗的弊端。NB-IoT指窄帶物聯網(NarrowBand-InternetofThings)技術，是工作在授權頻段的技術，核心是麵向低端物聯網終端(低耗流)，適合廣泛部署在智能家居、智能城市、智能生產等領域，對長距離、低速率、低功耗、多終端的物聯網應用具有較大優勢。

HN8063A耐電壓測試儀校驗裝置

1、測量準度： 

電壓：1000v  2500v  5000v  10000v  30000v

準度：1級  0.5級  0.2級實際傳感器中線圈與輸出的接線不會變，隻是通過鐵芯移動來改變電感，所以R1和R2固定不變。輸出電壓在上下兩個線圈並聯電容C1和C2後，分彆形成了諧振回路I和回路II。如果鐵芯在下方時：回路II諧振，回路I失諧。當鐵芯在上方時：回路I諧振，回路II失諧。由於諧振電路在諧振時的阻抗會遠大於失諧時的阻抗。可以定性地得出，鐵芯在下方時Uout的幅值會比冇有電容小，在上方時會比冇有電容時大，所以靈敏度會增大。

HN8065A型泄漏電流測試儀檢定裝置

一、性能特點

1、源、表測量範圍：

       電壓源（AC，DC）：電壓：250V、50V、5V

       電流源（AC，DC）：20mA、2mA

       頻率計：10-100Hz根據與不同的工作狀態有關的模式數量，耗電量會立即從幾百納安躍升到幾百毫安。傳統儀器可能會滿足低端需求(如皮安表)或需求(如電流)，但其一般不能涵蓋整個電流範圍。重新配置儀器設置，甚至測試設置不僅容易出錯，而且在實踐中並不可行。對大多數物聯網應用來說，處理這麼寬的動態範圍，的方法是使用數字萬用表(DMM)的自動量程功能。在理想情況下，能使用單一的配置設置，捕獲很寬的電壓和電流動態測量範圍()。

HN8066A型接地導通電阻測試儀檢定裝置

2、一次額定電流：25A、2.5A。(大30A、3A)

3、電阻四盤連續帶電可調。

4、直接指示一次電流值，可做交直流大電流標準表用。微分結構函數中，波峰與波穀的拐點就是兩種結構的分界處，便於識彆器件內部的各層結構。在結構函數的末端，其值趨向於一條垂直的漸近線，此時代表熱流傳導到了空氣層，由於空氣的體積無窮大，因此熱容也就無窮大。從原點到這條漸近線之間的x值就是結區到空氣環境的熱阻，也就是穩態情況下的熱阻。利用結構函數識彆器件封裝內部的“缺陷”：對比上麵兩個器件的剖麵結構，固晶層可見明顯差異。如下圖，左邊為正常產品，右邊為固晶層有缺陷的產品。

HN8068A型回路電阻測試儀，直流電阻測試儀檢定裝置

2 一次額定電流：

1A、10A、100A、200A、300A、600A

3 電阻盤0、1、2、3……20帶電可調。

4 直接指示一次電流值,可做直流大電流標準表用。

接地電阻測試儀檢定裝置 大功率直流標準電阻器 HN係列 絕緣電阻表校驗裝置 使用方法研發者嘗試著減少熱切換的影響，但是事實上，很多測試由於時間方麵的限製，是需要進行熱切換的，這樣可以防止在測試的過程中係統的重新啟動或者是確保可以模擬間歇性的故障。熱切換是研發者避免不了的。其實測試係統中很多的故障不是由於繼電器的正常壽命已經到了而引起，一些故障是在生產的階段就無法進行檢測而引起的。很多的故障是在測試係統中的一些意外的情況而引起的。一個經常發生的情況是係統的集成而引起的，由於不該連接的地方連接，如與電源之間的短路或者是在電容性的負載上進行熱切換，從而引起的布線和軟件方麵的故障，從而影響到繼電器。