產品名稱：接地電阻測試儀校驗裝置 泄漏電流測試儀校驗裝置 HN係列 絕緣電阻測試儀校驗裝置 可定製

安規測試儀檢定裝置有以下幾種 接地電阻測試儀校驗裝置 泄漏電流測試儀校驗裝置 HN係列 絕緣電阻測試儀校驗裝置 可定製

HN8061A

依據JJG1005—2005《電子式絕緣電阻表檢定規程》、JJG622—1997《絕緣電阻表（兆歐表）檢定規程》,用於檢定電子式絕緣電阻表的示值誤差、跌落電壓、短路電流。
電壓分兩檔：0～500V  0～5000V  -10000V
 短路電流：0～2mA    0～20mA
電阻0-200G-1T-10T在使用數字示波器測量波形參數的時候，我們經常會遇到“光標測量”與“自動測量”結果不一致的情況，到底該哪一個比較準確？本文將為大家解開這個困擾。示波器發展到現階段，已經不僅僅是在調試中觀察波形，更重要的是能很好的測量一些參數幫助大家優化設計方案。示波器的測量方法大致有三種：刻度測量；光標測量；自動測量。刻度測量就是根據波形所占格數進行估測，估測的準確度當然是比較低的，隻適合做定性。

HN8062A接地電阻表校驗裝置

用於檢定JJG336-2004《接地電阻表檢定規程》所適用的我目前生產的型號的模擬式、數字式接地電阻表以及進口的同類儀表，也可做普通電阻箱使用，具有調節範圍寬，使用方便，造型美觀等優點。橋麵通常由多層材料組成，包括用於吸收紅外輻射能量的吸收層，和將溫度變化轉換成電壓（或電流）變化的熱敏層，橋臂和橋墩起到支撐橋麵，並實現電連接的作用。微測輻射熱計的工作原理是：來自目標的熱輻射通過紅外光學係統聚焦到探測器焦平麵陣列上，各個微橋的紅外吸收層吸收紅外能量後溫度發生變化，不同微橋接收到不同能量的熱輻射，其自身的溫度變化就不同，從而引起各微橋的熱敏層電阻值發生相應的改變，這種變化經由探測器內部的讀出電路轉換成電信號輸出，經過探測器外部的信號采集和數據處理電路終得到反映目標溫度分布情況的可視化電子圖像。

HN8063A耐電壓測試儀校驗裝置

1、測量準度： 

電壓：1000v  2500v  5000v  10000v  30000v

準度：1級  0.5級  0.2級數字通信開始快速發展，射頻功率測量的重點也開始有些變化。因為數字調製信號(如下圖)的包絡無規律可循，其和電平會隨機變化，而且變化量很大。為了描述這類信號的特征，引入了一些新的描述方法，如領道功率、突發功率、通道功率等。很多傳統的功率計已經無法滿足數字信號功率的測量要求，一部分功率測量的任務已經開始由頻譜儀來完成。下麵我們介紹常見的幾種射頻功率測量方法，在此之前我們還需要明確一件事——在頻域測試測量中，為什麼習慣以功率來描述信號強度，而不是像時域測試測量中常用的電壓和電流?那是因為在射頻電路中，由於傳輸線上存在駐波，電壓和電流失去了性，所以射頻信號的大小一般用功率來表示，通用的功率單位為W、mW、dBm。

HN8065A型泄漏電流測試儀檢定裝置

一、性能特點

1、源、表測量範圍：

       電壓源（AC，DC）：電壓：250V、50V、5V

       電流源（AC，DC）：20mA、2mA

       頻率計：10-100Hz在diag下效率為67.86%，在OS下效率為66.62%。輸入輸出電流基本相等，是因為輸入電流到輸出電流，經過PNP調整管，隻在柵極消耗了一點。以S1167B33-I6T2G為例測得的輸入輸出曲線如下圖：輸入端大於3.3V時，一直有恒定的3.3V輸出，大於2.8V小於3.3V時，輸入等於輸出，小於2.8V時，係統就不穩定了。把輸出端對地短路，並未出現大電流。5V是spec中定義的，由於怕損傷器件，輸入並未超過6.5V測量。

HN8066A型接地導通電阻測試儀檢定裝置

2、一次額定電流：25A、2.5A。(大30A、3A)

3、電阻四盤連續帶電可調。

4、直接指示一次電流值，可做交直流大電流標準表用。磁通門傳感器常用的應用包括輪船和飛機的電子羅盤以及地質學家用於檢測地下結構的儀器。新發展德州儀器(TI)可提供一係列與集成霍爾效應或磁通門傳感器相關的解決方案。“我們正在研發各式各樣的磁感應技術，並將其集成至半導體工藝中，以開發出有趣的新器件，”係統工程師RossEisenbeis說道。對於希望在芯片設計中使用TI傳感器的工程師們來說，TI提供了豐富的片上功能和支持。一係列的工具和軟件可以協助工程師打造新設計，而工程師們也可以在我們的論壇上交流看法並討論實踐。

HN8068A型回路電阻測試儀，直流電阻測試儀檢定裝置

2 一次額定電流：

1A、10A、100A、200A、300A、600A

3 電阻盤0、1、2、3……20帶電可調。

4 直接指示一次電流值,可做直流大電流標準表用。

接地電阻測試儀校驗裝置 泄漏電流測試儀校驗裝置 HN係列 絕緣電阻測試儀校驗裝置 可定製複雜係統的調試和驗證麵臨許多測試技術挑戰，包括捕獲和可視化多個不頻繁或間斷出現的事件，如串行數據包、激光脈衝和故障信號。為了準確測量和表征這些信號，必須在長時間內高采樣率捕獲它們。示波器的默認采集模式因為其有限的記錄長度會強製在采樣率和捕獲時間進行妥協。使用更高的采樣率可以更快地填充儀器的內存，減少數據采集的時間窗口。相反，捕獲長時間的數據通常是以犧牲水平時間分辨率(采樣率)為代價的。分段存儲架構FastFrameTM分段存儲允許將內存分割成多幀。