產品名稱：接地電阻表檢定裝置 高精度交直流電流表 HN係列 絕緣電阻表校驗裝置 可定製

安規測試儀檢定裝置有以下幾種 接地電阻表檢定裝置 高精度交直流電流表 HN係列 絕緣電阻表校驗裝置 可定製

HN8061A

依據JJG1005—2005《電子式絕緣電阻表檢定規程》、JJG622—1997《絕緣電阻表（兆歐表）檢定規程》,用於檢定電子式絕緣電阻表的示值誤差、跌落電壓、短路電流。
電壓分兩檔：0～500V  0～5000V  -10000V
 短路電流：0～2mA    0～20mA
電阻0-200G-1T-10T社會**防範係統是一個特大型、綜合性非常強的管理係統，不僅需要滿足治安管理、城市管理、交通管理、應急指揮、犯罪追蹤等需求，而且還要兼顧災難事故預警、**生產監控等方麵對圖像監控的需求。在監控領域，可見光監控設備固然扮演著極其重要的角色，但是由於不可避免的晝夜交替以及惡劣氣候的影響，在一定程度上限製了可見光監控設備的正常發揮，而紅外熱成像監控產品正好彌補了這一缺失，其特彆適合高**級彆區域的入侵防範。

HN8062A接地電阻表校驗裝置

用於檢定JJG336-2004《接地電阻表檢定規程》所適用的我目前生產的型號的模擬式、數字式接地電阻表以及進口的同類儀表，也可做普通電阻箱使用，具有調節範圍寬，使用方便，造型美觀等優點。PID（PotentianInducedDegradation）是一種電勢誘導衰減現象，是指組件長期在高電壓下使得玻璃，封裝材料之間存在漏電流，大量電荷聚集在電池表麵。使得電池表麵的鈍化效果惡化，導致填充因子（FF），短路電流（Isc），開路電壓（Voc）降低，使得組件的性能低於設計標準，發電能力也隨之下降。2010年，NREL和Solon證實了無論組件采取何種技術的P型晶矽電池，組件在負偏壓下都有PID的風險。

HN8063A耐電壓測試儀校驗裝置

1、測量準度： 

電壓：1000v  2500v  5000v  10000v  30000v

準度：1級  0.5級  0.2級在工企業中應用的稱重儀表性能指標通常用準確度(又稱精度)、變差、敏銳度來形貌。儀表工校驗儀表通常也是調校準確度，變差和敏銳度三項。變差是指稱重儀表被測變量(可明白為輸入信號)屢次從差彆傾向抵達同一數值時，儀表指示值之間的差值，大約說是儀表在外界條件穩定的環境下，被測參數由小到大革新(正向特性)和被測參數由大到小革新(反向特性)不劃一的水平，兩者之差即為儀表變差。牢靠性稱重控製儀表牢靠性是化工企業儀表工所尋求的另一慌張性能指標。

HN8065A型泄漏電流測試儀檢定裝置

一、性能特點

1、源、表測量範圍：

       電壓源（AC，DC）：電壓：250V、50V、5V

       電流源（AC，DC）：20mA、2mA

       頻率計：10-100Hz測量工作使用的儀器設備很多，每種儀器設備在使用時都有許多不利因素影響其測量值的準確性。本文僅對兩種常規儀器（洛氏硬度計、布氏硬度計）在使用時，容易被檢測人員忽略的一些較常見的影響因素進行針對性，並提出了解決辦法。粗糙度的影響及解決辦法我們知道，用台式硬度計測量布氏硬度時，硬度計的壓頭是鋼球壓頭，在一定的壓力下被測表麵而得到一個圓形壓痕，再用讀數顯微鏡測量圓形壓痕的直徑，然後在布氏硬度表中查找相應的硬度值，即被測試樣的硬度值，而被測表麵的粗糙度直接影響硬度測量值的準確性。

HN8066A型接地導通電阻測試儀檢定裝置

2、一次額定電流：25A、2.5A。(大30A、3A)

3、電阻四盤連續帶電可調。

4、直接指示一次電流值，可做交直流大電流標準表用。熱像儀精度規格與不確定性方程式或許大家會注意到，大多數紅外熱像儀的數據規格手冊上的精度規格會顯示為±2℃或讀數的2%。這儀規格數據基於廣泛采用的名為“平方和根值”（RSS）不確定技術結果。這裡需要說明的是，目前所討論的計算值有效的條件是隻有當熱像儀用於實驗室或戶外短距離範圍(20米以內)。由於大氣吸收因素，還有影響程度較小的發射率因素，距離變長會增加測量值的不確定性。當紅外熱像儀的研發工程師在實驗室條件下對大部分現代的紅外熱像儀係統采用“平方和根值”的方法時，所得結果近似為±2?C或2%—因此成為熱像儀規格參數中使用的合理精度率。

HN8068A型回路電阻測試儀，直流電阻測試儀檢定裝置

2 一次額定電流：

1A、10A、100A、200A、300A、600A

3 電阻盤0、1、2、3……20帶電可調。

4 直接指示一次電流值,可做直流大電流標準表用。

接地電阻表檢定裝置 高精度交直流電流表 HN係列 絕緣電阻表校驗裝置 可定製因此我們常常把樣品放在高電壓、大電流、高濕度、高溫、較大氣壓等條件下進行測試，然後根據樣品的失效機理和模型來推算產品在正常條件下的壽命。可靠性是對產品耐久力的測量，我們主要典型的IC產品的生命周期可以用一條浴缸曲線來表示。冷熱衝擊試驗用來測試材料結構或複合材料，在瞬間下經高溫、低溫的連續環境下所能忍受的程度，適用電工、電子產品、半導體、電子線路板、金屬材料等材料在溫度急劇變化環境下的適應性。在研製階段可用於發現產品設計和工藝缺陷，在有些情況下也可用於環境應力篩選，剔除產品的早期故障。