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HN7062A變壓器損耗參數測試儀 (容量,空負載測試儀 )可測s20變壓器 變壓器容量及空負載測試儀 HN係列 變壓器空載負載測試儀 大量供應
設備相當於四種設備:有源變壓器容量測試儀 +變壓器損耗參數測試儀 +諧波儀 +示波器。它可對變壓器的容量、空載電流、空載損耗、短路損耗、阻抗電壓等一係列工頻參數進行準確的測量,並能測量空負載試驗時的電壓、電流失真度和諧波含量,還可以進行矢量。它以大屏幕彩色液晶作為顯示窗口,菜單操作並配有漢字提示,集多參量於一屏的顯示界麵,人機對話界麵友好,使用簡便、快捷,是各級電力用戶的采購產品。多種商用固定式或手持式讀取器經測試也可與這些標簽配合使用。智能無源傳感器采用激勵回路,能夠通過測量阻抗變化實現濕度或壓力監測,並采用了一個無微控製器的自微調IC,其中含有自適應RFID前端、片載溫度傳感器以及用於標識的集成式存儲器。標簽使用行業標準第2代UHF協議進行通信。當讀取器初始化通信時,IC測量此激勵回路內的溫度條件,並將含數字化溫度的測量數據從片載傳感器傳輸到讀取器。
主菜單共有五個可選項,分彆為:容量測試、負載測試、空載測試、曆史數據。需要選擇就用手觸摸相應的圖標,下端顯示當前的日期時間、內部電池的電壓幅值和剩餘電量百分比,從而可以及時掌握儀器的電池電量情況,了解儀器是否要充電避免冇有及時充電而在現場無法正常工作的情況。拉曼散射是由光纖中非傳播的局域密度不均勻和成分不均勻所致,這種不均勻性是在拉纖階段,化矽由熔融態轉變為凝固態的過程中形成的。激光脈衝在光纖中所走過的路程為:2L=vt。其中,t為入射光經後向散射返回到光纖入射端所需時間;v為光在光纖中的傳播速度,v=c/n,c為真空中的光速,n為光纖的折射率;L為光纖某處到光纖入射端的距離。在t時刻測量距光纖入射端距離為L處局域的後向拉曼散射光,OTDR為分布式測量提供可靠的理論依據。
各功能選項的用途分彆為:
容量測試:用來測量變壓器的容量值。
負載測試:使用外接的三相電源進行變壓器的負載測試
空載測試:使用外接的三相電源進行變壓器的空載試驗。
曆史數據:查看已保存的測試結果記錄。
係統設置:設置儀器的參數,及廠家出廠調
下麵介紹每個界麵的操作方法和儀器接線方法
容量測試儀配有三把測試鉗(黃、綠、紅),每隻鉗子分彆引出兩根測試線,一根粗線、一根細線,粗線接到儀器麵板上容量測試端子對應顏色的電流端子(Ia、Ib、Ic),細線接到儀器麵板上容量測試端子對應顏色的電壓端子(Ua、Ub、Uc),將鉗頭按顏色分彆夾在被試變壓器的高壓側各相接線柱上,變壓器的低壓側要用短接線良好短接。
容量測試設置界麵如圖,項目有:一次電壓,二次電壓,變壓器類型,阻抗電壓,當前溫度,矯正溫度,連接組彆,標稱容量,變壓器編號,測試人員。點擊確定開始測試。點擊返回,返回主界麵
各項參數的含義和作用如下:在必須將工件從投影比較儀再送到其它儀器(如測量係統或萬工顯)上作進一步檢測的情況下,就可以充分體現出組合測量方式的潛在價值。用戶或許可以用投影比較儀的低倍放大鏡完成大部分測量工作,但OV2係統卻能完成用投影比較儀難以完成的檢測任務。QC300觸摸顯示屏的應用可使投影比較儀用途更廣泛、讀數更,它能顯示X-Y讀數和測量數據,同時內置的卡可支持攝像機的實時圖像。此外,它還具有CNC係統普遍具有的邊緣檢測功能,即可通過掃描在顯示器十字瞄準線周圍圓形區內的圖像,對工件的邊緣點進行自動檢測和定標,從而可消除操作者用十字線肉眼瞄準工件邊緣造成的主觀人為誤差。
一次電壓:變壓器高壓測電壓值,指被試變壓器施壓側的額定電壓值。用於區彆不同電壓等級的變壓器;相同容量、不同電壓等級變壓器的短路試驗參數值是不同的;要做到準確判斷,就必須輸入被試變壓器的高壓側額定電壓。點擊黃色輸入框,儀器彈出數字鍵盤,輸入一次電壓值,默認為10KV。而基於成像光度測量燈具光強分布的研究由於更加複雜,精度難以提高,目前仍處於研究階段。燈具的分布光度測量是燈具設計和照明設計中質量控製的重要環節,尤其是隨著LED等新光源和新興照明技術的發展,對燈具分布光度測量提出了新的挑戰。因此我們根據目前發展狀況及需求,進行基於成像光度法的LED光強分布測試的分布光度計研製。目前國內燈具市場產品質量良莠不齊,每年有大量新款燈具湧入市場。其實際照明效果的評估往往得不到有效評估。
二次電壓:變壓器低壓測電壓值,點擊黃色輸入框,儀器彈出數字鍵盤,輸入二次電壓值,默認為0.4KV。變壓器類型:指變壓器的不同類型。(不是變壓器形式),主要有8中類型,1油式無勵磁調壓配電,2油式無勵磁調壓電力,3油式有載調壓配電,4油式有載調壓電力,5乾式無勵磁調壓配電,6乾式無勵磁調壓電力,7乾式有載調壓配電,8乾式有載調壓電力。點擊黃色輸入框,出現下拉菜單,選擇點擊相應的變壓器類型。默認為類型1(即1油式無勵磁調壓配電)。
1、 容量測試界麵目前T/R組件測試大多采用串行順序測試的模式,即執行完一個測試任務,再啟動另一個測試任務,直至完成測試。這相當於要求幾個人累計完成1千米的跑步,現在采用的是接力跑模式,為什麼不能根據每個人的能力一起跑呢?豈不是更快?多T/R組件並行測試模式就是在同一時刻,不同的T/R組件以多線程的方式執行不同的測試任務,測試任務之間所需的儀器和通道並不衝突。並行測試難點不同於數字和低頻測試儀器,當今射頻微波測試儀器自身的測試通道還比較少,一般也隻能完成某一類性能參數的測試。
1)實驗接線方法
2)界麵操作