產品詳情
  • 產品名稱:來電谘詢 衝擊電壓測試係統 變頻諧振串聯諧振 電子式多倍頻發生器

  • 產品型號:HNDL
  • 產品廠商:華能
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簡單介紹:
衝擊測試係統係應用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗。此種測試係依據相關的國際標準規範執行全波(full)或截斷(chopped) 的閃電突波(L.I)來電谘詢 衝擊電壓測試係統 變頻諧振串聯諧振 電子式多倍頻發生器
詳情介紹:

HNCJ係列雷電衝擊電壓發生裝置
來電谘詢 衝擊電壓測試係統 變頻諧振串聯諧振 電子式多倍頻發生器來電谘詢 衝擊電壓測試係統 變頻諧振串聯諧振 電子式多倍頻發生器產品簡介:

聯係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發生器主要用於電力設備等試品進行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗,檢驗絕緣性能。衝擊電壓發生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質衝擊擊穿、放電等試驗中。

來電谘詢 衝擊電壓測試係統 變頻諧振串聯諧振 電子式多倍頻發生器同時觀測了兩個通道的時域波形及頻譜,並且采用了重疊顯示,以便於頻譜之間的對比。SpectrumView支持移動SpectrumTime的位置,如標記處所示,以觀測不同時刻的頻譜。每個通道SpectrumTime的位置默認是聯動的,這保證了各個通道測試頻譜的相關性。當取消聯動設置後,也可以立設置每個通道的SpectrumTime位置。所有通道的頻譜共用相同的Span、RBW、FFTWindow,這一點與時域要求多通道間共用采樣率、水平時基及觸發類似。


衝擊測試係統係應用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗。此種測試係依據相關的標準規範執行全波(full)或截斷(chopped 的閃電突波L.I


為了解決這個問題,必須製定一係列的內部接口標準,否則行業將成為碎片化的產業。2003年,由ARM,Nokia,ST,TI等公司聯合成立了一個聯盟——MIPI是,目的就是是把內部的接口如攝像頭、顯示屏接口、射頻/基帶接口等標準化,從而減少設計的複雜程度和增加設計靈活性。MIPI聯盟下麵有不同的WorkGroup,分彆定義了一係列的內部接口標準,比如攝像頭接口CS顯示接口DS射頻接口DigR麥克風/喇叭接口SLIMbus等。來電谘詢 衝擊電壓測試係統 變頻諧振串聯諧振 電子式多倍頻發生器
HN
CJ-V 雷電衝擊電壓發生裝置產品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發生器的操作,手動或自動完成充放電過程,真正實現智慧化操作。

充電控製功能

係統采用恒流充電。

根據試驗要求,調節充電電壓、充電時間、延時時間,能夠手動或者自動控製電壓發生器的充電過程。采用自動控製方式充電時,根據設定值,自動充電並穩定在充電電壓值上,延時3秒報警觸發。充電電壓的重複性和穩定度很好。

動作控製

本體球距大小能夠自動跟蹤設定充電電壓值,也可手動控製調節球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動跟蹤設定充電電壓值,也可手動控製調節球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態軟件中有顯示。

可控製本體自動接地、充電極性切換、充電次數設定等功能。

手動/自動控製。

² 觸發控製

係統能夠手動、自動或報警觸發衝擊電壓發生器點火。觸發點火信號可以立延時


目前常用的離子化方法(EICP、ESMALDI等)在實驗中(嚴格來說僅在一定濃度範圍內——術語是動態範圍,dynamicrange)都至少滿足樣品量與產生離子量的正相關,一般情況下也可以進一步近似成線性相關。傳輸離子時,簡單來說可以認為傳輸效率與被傳輸離子的量無關;(嚴格地說,被傳輸的離子太多時,相同電荷的互相排斥會造成離子束的“體積”變大,導致傳輸效率下降。這種影響在空間有限的離子阱中表現得更加明顯,因此在離子阱質譜中一個重要的技術就是適當控製進入儀器的離子數量,使其既不太少也不太多。來電谘詢 衝擊電壓測試係統 變頻諧振串聯諧振 電子式多倍頻發生器

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