產品詳情
  • 產品名稱:交直流采樣校驗裝置 電壓監測儀校驗台 HN係列 電測儀表校驗台

  • 產品型號:HNDL
  • 產品廠商:華能
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簡單介紹:
可自動或手動檢驗電力係統中工頻電表(電壓表、電流表、功率表、頻率表、功率因數表、相位表)、單相交流電能表(選項)、三相交流電能表(選項)以及直流電壓、電流表的基本誤差。交直流采樣校驗裝置 電壓監測儀校驗台 HN係列 電測儀表校驗台
詳情介紹:

HN8001A三相交直流指示儀表,電測儀表檢定裝置 交直流采樣校驗裝置 電壓監測儀校驗台 HN係列 電測儀表校驗台

交直流采樣校驗裝置 電壓監測儀校驗台 HN係列 電測儀表校驗台車高平 13608980122/15689901059

輸出交直流電壓、電流、相位和功率均為高精度、高穩定度標準源,軟件校準。各項輸出均采用動態負載自動調整技術,降低了負載調整率。采用高速交流采樣、高速數字信號處理器(DSP)、複雜可編程邏輯陣列(CPLD)、大功率集成功放、嵌入式計算機係統設計而成,將係統、測試和信號高度集成,體積小,重量輕,可靠性極高,功能性極強。用於檢測數字儀表、指示儀表、電能表、互感器、數字測控裝置、變送器、交流采樣裝置

動態數字I/O—GX5296,每引腳PMU功能,可以快速實現開短路以及DC測試;Hz的數據速率有助於實現AC測試,結合GtDIO6xEasy軟件,可以實現pattern文件的編寫以及導入,用於驗證基本的功能性測試。靜態數字I/O——GX5733可以很好的實現切換功能以及環境變量控製;升級版ATE可以擴展為256個動態數字信道,128個靜態數字信道,的豐富了係統資源,有助於更大規模的量產測試。
 交直流采樣校驗裝置 電壓監測儀校驗台 HN係列 電測儀表校驗台技術參數:

整機有效精度 0.05級

交直流電壓輸出

量限:660V、380V、220V、100V、57.735V  

調節範圍:(0~120)%RG RG為量限,下同

準確度:0.05%RG

 交直流電流輸出

量限: 20A、5A、1A、0.2A

調節範圍:  (0~120)%RG   RG為量限,下同;

準確度: 0.05%RG

     交直流采樣校驗裝置 電壓監測儀校驗台 HN係列 電測儀表校驗台上升時間的定義上升時間是信號上升快慢的數值,那其準確的內涵該是如何定義了?說來話長,因為定義是比較嚴謹的,一環套一環。按常規理論:信號的上升時間是正向沿的較低閾值交叉點與較高閾值交叉點之間的時差。顧名思義,上升時間肯定是在信號的上升沿時測量的;較低閾值、較高閾值的設定值在某些示波器中是可以自定義的,默認為10%、90%幅值處。而幅值的定義,就是頂部值(Top)與底部值(Bottom)之差。頂部值,即波形較高部分的數。交直流采樣校驗裝置 電壓監測儀校驗台 HN係列 電測儀表校驗台頻率設置:在源關閉狀態可通過鼠標選中液晶屏的頻率編輯框設置頻率。頻率設置範圍是40Hz~70Hz,分辨率為0.0001Hz 。超出範圍將會自動按頻率的值或者值輸出頻率值。也可通過麵板按鍵編輯器進行頻率設置:對交流源的頻率信號進行調節。按鍵編輯器顯示為F=××.××××Hz;若交流源處於關閉狀態,則打開並輸出交流源,源幅度為量限幅度。光標指示當前欲調節細度,按【←】鍵可左移光標,按【→】鍵可右移光標。確定好調節細度後旋轉編碼器可對頻率信號進行升/降調節

汽車在生產過程中要噴3道漆,並進行3次烘乾。道:電泳烘房,烘烤汽車底漆;道:中塗烘房,烘乾中層漆;道:麵漆烘房,烤漆表麵漆,包含閃乾房,作用是邊噴漆邊烤漆。煙氣儀:烘房裡的氣體是空氣經過燃燒器加熱到18-19℃,燃燒器的燃料為天然氣,烘乾完的氣體再焚燒然後排放。一般一個汽車製造廠至少有3-4個燃燒器,多的有5-6個燃燒器在工作。涉及到燃燒和排放,此處就需要德圖煙氣儀,需要測量的參數為:O2(含量在3-3.5vol.%)CO、NOX測量值參照當地環保的法律法規紅外熱像儀:烘房中的加熱箱、隧道房、風管等地方需要用熱像儀檢測接縫、轉角、門縫、法蘭等處檢測是否有熱泄漏。交直流采樣校驗裝置 電壓監測儀校驗台 HN係列 電測儀表校驗台

直流標準源參數操作

當用鼠標選中標準源視窗中〖交直流〗單選按鈕的〖直流〗選項時,標準源視窗將處於直流標準源狀態。此時所有交流源參數將處於變灰無效狀態。僅直流源參數可進行操作。

在直流標準源輸出前可以對直流標準源的量限進行設置;設置完畢,按下〖源輸出〗按鈕或【F1】鍵,HN8005B將輸出所設定的標準直流信號。

對於直流參數的設置與修改可以通過兩種方式:

方式一:直接使用【百分比鍵】操作。直流源將按當前選擇的量限百分比進行輸出。若直流源處於關閉狀態,則打開並輸出直流源,若直流源已處於輸出狀態,則直接按量限百分比輸出相應幅度。

PID(PotentianInducedDegradation)是一種電勢誘導衰減現象,是指組件長期在高電壓下使得玻璃,封裝材料之間存在漏電流,大量電荷聚集在電池表麵。使得電池表麵的鈍化效果惡化,導致填充因子(FF),短路電流(Isc),開路電壓(Voc)降低,使得組件的性能低於設計標準,發電能力也隨之下降。2010年,NREL和Solon證實了無論組件采取何種技術的P型晶矽電池,組件在負偏壓下都有PID的風險。交直流采樣校驗裝置 電壓監測儀校驗台 HN係列 電測儀表校驗台

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