
- 聯係人 : 車高平 肖吉盛
- 聯係電話 : 0532-88365027
- 傳真 : 0532-88319127
- 移動電話 : 13608980122
- 地址 : 青島南京路27號
- Email : 88365027@163.com
- 郵編 : 266700
- 公司網址 : http://www.88365027.com
- MSN : 88365027@163.com
- QQ : 1265377928
HN8001A三相交直流指示儀表,電測儀表檢定裝置 三相交直流采樣變送器校驗儀 多表位電壓監測儀校驗裝置 定製定做 三相交直流儀表校驗儀
輸出交直流電壓、電流、相位和功率均為高精度、高穩定度標準源,軟件校準。各項輸出均采用動態負載自動調整技術,降低了負載調整率。采用高速交流采樣、高速數字信號處理器(DSP)、複雜可編程邏輯陣列(CPLD)、大功率集成功放、嵌入式計算機係統設計而成,將係統、測試和信號高度集成,體積小,重量輕,可靠性極高,功能性極強。用於檢測數字儀表、指示儀表、電能表、互感器、數字測控裝置、變送器、交流采樣裝置
車高平 13608980122/15689901059
技術參數:
整機有效精度 0.05級
交直流電壓輸出
量限:660V、380V、220V、100V、57.735V
調節範圍:(0~120)%RG RG為量限,下同
準確度:0.05%RG
交直流電流輸出
量限: 20A、5A、1A、0.2A
調節範圍: (0~120)%RG RG為量限,下同;
準確度: 0.05%RG
三相交直流采樣變送器校驗儀 多表位電壓監測儀校驗裝置 定製定做 三相交直流儀表校驗儀半導體生產流程由晶圓製造,晶圓測試,芯片封裝和封裝後測試組成,晶圓製造和芯片封裝討論較多,而測試環節的相關知識經常被邊緣化,下麵集中介紹集成電路芯片測試的相關內容,主要集中在WAT,CP和FT三個環節。集成電路設計、製造、封裝流程示意圖WAT(WaferAcceptanceTest)測試,也叫PCM(ProcessControlMonitoring),對Wafer劃片槽(ScribeLine)測試鍵(TestKey)的測試,通過電性參數來監控各步工藝是否正常和穩定,CMOS的電容,電阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成製程前,是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據,測試方法是用ProbeCard紮在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT測試機台上,由WATRecipe自動控製測試位置和內容,測完某條TestKey後,ProbeCard會自動移到下一條TestKey,直到整片Wafer測試完成。
直流標準源參數操作
當用鼠標選中標準源視窗中〖交直流〗單選按鈕的〖直流〗選項時,標準源視窗將處於直流標準源狀態。此時所有交流源參數將處於變灰無效狀態。僅直流源參數可進行操作。
在直流標準源輸出前可以對直流標準源的量限進行設置;設置完畢,按下〖源輸出〗按鈕或【F1】鍵,HN8005B將輸出所設定的標準直流信號。
對於直流參數的設置與修改可以通過兩種方式:
方式一:直接使用【百分比鍵】操作。直流源將按當前選擇的量限百分比進行輸出。若直流源處於關閉狀態,則打開並輸出直流源,若直流源已處於輸出狀態,則直接按量限百分比輸出相應幅度。
頻率設置:在源關閉狀態可通過鼠標選中液晶屏的頻率編輯框設置頻率。頻率設置範圍是40Hz~70Hz,分辨率為0.0001Hz 。超出範圍將會自動按頻率的值或者值輸出頻率值。也可通過麵板按鍵編輯器進行頻率設置:對交流源的頻率信號進行調節。按鍵編輯器顯示為F=××.××××Hz;若交流源處於關閉狀態,則打開並輸出交流源,源幅度為量限幅度。光標指示當前欲調節細度,按【←】鍵可左移光標,按【→】鍵可右移光標。確定好調節細度後旋轉編碼器可對頻率信號進行升/降調節