產品名稱：交直流采樣校驗裝置 電壓監測儀校驗台 5年保修 三相儀表檢定裝置

HN8001A三相交直流指示儀表，電測儀表檢定裝置 交直流采樣校驗裝置 電壓監測儀校驗台 5年保修 三相儀表檢定裝置

車高平 13608980122/15689901059

輸出交直流電壓、電流、相位和功率均為高精度、高穩定度標準源，軟件校準。各項輸出均采用動態負載自動調整技術,降低了負載調整率。采用高速交流采樣、高速數字信號處理器（DSP）、複雜可編程邏輯陣列（CPLD）、大功率集成功放、嵌入式計算機係統設計而成，將係統、測試和信號高度集成，體積小，重量輕，可靠性極高，功能性極強。用於檢測數字儀表、指示儀表、電能表、互感器、數字測控裝置、變送器、交流采樣裝置

在工企業中應用的稱重儀表性能指標通常用準確度(又稱精度)、變差、敏銳度來形貌。儀表工校驗儀表通常也是調校準確度，變差和敏銳度三項。變差是指稱重儀表被測變量(可明白為輸入信號)屢次從差彆傾向抵達同一數值時，儀表指示值之間的差值，大約說是儀表在外界條件穩定的環境下，被測參數由小到大革新(正向特性)和被測參數由大到小革新(反向特性)不劃一的水平，兩者之差即為儀表變差。牢靠性稱重控製儀表牢靠性是化工企業儀表工所尋求的另一慌張性能指標。
 技術參數：

整機有效精度 0.05級

交直流電壓輸出

量限：660V、380V、220V、100V、57.735V  

調節範圍：(0～120)%RG RG為量限,下同

準確度：0.05%RG

 交直流電流輸出

量限： 20A、5A、1A、0.2A

調節範圍:  (0～120)%RG   RG為量限,下同；

準確度： 0.05%RG

     交直流采樣校驗裝置 電壓監測儀校驗台 5年保修 三相儀表檢定裝置漏電檢測原理對電力係統回路進行漏電檢測的方法有很多，如絕緣監測裝置，低頻探測法，變頻探測法，霍爾磁式平衡等。本設計采用了霍爾磁式平衡原理，為克服傳感器的剩磁所帶來的對係統檢測到的漏電大小的影響，采取了將零點設計為可以通過按鍵調整的係統。霍爾磁式平衡檢測的基本原理如所示。觀察直流係統任一支路,從電源正端流出的電流IL+,流經支路負載後,返回電源負端的支路電流為IL-,當該支路冇有接地電流時,IL+=IL-,穿過傳感器的電流大小相等,傳感器無輸出。頻率設置：在源關閉狀態可通過鼠標選中液晶屏的頻率編輯框設置頻率。頻率設置範圍是40Hz～70Hz，分辨率為0.0001Hz 。超出範圍將會自動按頻率的值或者值輸出頻率值。也可通過麵板按鍵編輯器進行頻率設置：對交流源的頻率信號進行調節。按鍵編輯器顯示為F=××.××××Hz；若交流源處於關閉狀態，則打開並輸出交流源，源幅度為量限幅度。光標指示當前欲調節細度，按【←】鍵可左移光標，按【→】鍵可右移光標。確定好調節細度後旋轉編碼器可對頻率信號進行升/降調節

毋庸置疑，這種運營方式代價高昂，更不必說這絕不可能是無懈可擊的全天候控製過程。多年來，采礦工業極為關心泄漏和水資源管理對環境的影響，並且一直在積極尋求改進監控方法。”考慮到這些需求，IntelliView開發出一種行之有效的、能在數秒鐘之內檢測和報警小規模地上液體泄漏、噴射和彙聚成池的方法。IntelliView的泄漏檢測解決方案采用新一代稱之為DCAM?(雙攝像頭模塊)的產品，一款將可見光相機和FLIR熱像儀與內置型泄漏技術集於一體的緊湊型產品。18年1月3日，NI(美國儀器，NationalInstruments,簡稱NI)作為致力於為工程師和科學家提供基於平台的係統解決方案來應對嚴峻工程挑戰的供應商，宣布推出PXIe-4163高密度源測量單元(SMU)，該測量單元提供了比以往NIPXISMU高達6倍的直流通道密度，適用於測試RMEMS以及混合信號和其他模擬半導體元件。NI銷售和市場執行副總裁EricStarkloff表示：“5物聯網和自動駕駛汽車等性的技術發展給半導體企業帶來持續的壓力。

直流標準源參數操作

當用鼠標選中標準源視窗中〖交直流〗單選按鈕的〖直流〗選項時，標準源視窗將處於直流標準源狀態。此時所有交流源參數將處於變灰無效狀態。僅直流源參數可進行操作。

在直流標準源輸出前可以對直流標準源的量限進行設置；設置完畢，按下〖源輸出〗按鈕或【F1】鍵，HN8005B將輸出所設定的標準直流信號。

對於直流參數的設置與修改可以通過兩種方式:

方式一：直接使用【百分比鍵】操作。直流源將按當前選擇的量限百分比進行輸出。若直流源處於關閉狀態，則打開並輸出直流源，若直流源已處於輸出狀態，則直接按量限百分比輸出相應幅度。

AECANC測試係統是基於A2音頻儀器開發的一套兼顧ANC以及耳機聲學的測試係統。該係統支持FF，FB，Hybrid等不同降噪方案，可以根據客戶需要進行手動或自動測試耳機的被動降噪以及主動降噪曲線，自動化調整待測品增益以達到目標降噪效果，自動燒錄增益數據。測試係統穩定性好，速度快，能有效解決研發或者產線降噪耳機測試問題。同時支持降噪耳機濾波電路曲線測試，普通藍牙耳機，TWS耳機，有線耳機等的所有相關聲學測試。