產品名稱：三相程控功率源 電壓監測儀校驗台 高質量供應 儀表檢定裝置

HN8001A三相交直流指示儀表，電測儀表檢定裝置 三相程控功率源 電壓監測儀校驗台 高質量供應 儀表檢定裝置

車高平 13608980122/15689901059可廣泛用於檢測數字儀表、指示儀表、電能表、互感器、數字測控裝置、變送器、交流采樣裝置、負控終端、用電管理終端、集中器、無功補償控製器及其他電子產品的各項指標。

可軟件校準輸出電壓、電流、相位和功率，各項輸出均采用動態負載自動調整技術,降低了負載調整率

。

如電子設備不滿足噪聲限製規則，則產品就不能出售和使用。由於上述種種原因，在電源設備中必須要設計使用滿足要求的電網噪聲濾波器。EMI噪聲和濾波器的類型在電源設備輸入引線上存在二種EMI噪聲：共模噪聲和差模噪聲，如所示。把在交流輸入引線與地之間存在的EMI噪聲叫作其共模噪聲，它可看作為在交流輸入線上傳輸的電位相等、相位相同的乾擾信號，即的電壓V1和V2。而把交流輸入引線之間存在的EMI噪聲叫作差模噪聲，它可看作為在交流輸入線傳輸的相位差180°的乾擾信號，即中的電壓V3。
 技術參數：

整機有效精度 0.05級

交流電壓輸出

量限：660V、380V、220V、100V、57.735V  

調節範圍：(0～120)%RG RG為量限,下同

調節細度：0.001%RG

準確度：0.05%RG

3.2 交流電流輸出

量限： 20A、5A、1A、0.2A

調節範圍:  (0～120)%RG   RG為量限,下同；

調節細度:  0.001%RG

準確度： 0.05%RG

     三相程控功率源 電壓監測儀校驗台 高質量供應 儀表檢定裝置半導體生產流程由晶圓製造，晶圓測試，芯片封裝和封裝後測試組成，晶圓製造和芯片封裝討論較多，而測試環節的相關知識經常被邊緣化，下麵集中介紹集成電路芯片測試的相關內容，主要集中在WAT，CP和FT三個環節。集成電路設計、製造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數來監控各步工藝是否正常和穩定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成製程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據，測試方法是用ProbeCard紮在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機台上，由WATRecipe自動控製測試位置和內容，測完某條TestKey後，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。

主操作界麵介紹

開機主視窗（圖5）是HN8005B三相交直流標準源的主控平台，通過操作鼠標、鍵盤、麵板按鍵可選擇進入不同的功能視窗。操作鍵盤上的方向鍵或用鼠標選擇視窗中的各功能按鈕，再按回車鍵或單擊鼠標左鍵可該按鈕。以上操作在下文中簡稱“按下××按鈕”。

 

按下〖標準源〗按鈕或【1】鍵，將進入交直流標準源視窗。

按下〖電工試驗〗按鈕或【2】鍵，將進入電工試驗視窗。

按下〖參數設置〗 按鈕或【3】鍵，將進入係統參數設置視窗。

按下〖係統校準〗按鈕或【4】鍵，在輸入正確的後將進入交直流標準源校準視窗。

按下〖電能表檢定〗按鈕或【6】鍵，將進入電能表檢定視窗。

電容器完成充電之後必須及時拔除電源，以避免它向電源放電。USB中的數據可以導入Excel進行深入。技巧3了解瞬態響應您注意過在啟動空調以後屋裡的燈光瞬間變暗的情況嗎？這是因為空調吸收了大量電流，致使供電電壓下降，進而導致了燈光變暗。一小段時間之後，電壓還會恢複正常。直流電源上的輸出阻抗，也會造成類似的電壓瞬變。對電流的需求突然增加時，電源的輸出電壓就會瞬間下降。同理，電流的下降會導致電源電壓突然升高。

交流標準源參數操作

當用鼠標選中〖交直流〗單選按鈕的〖交流〗選項時，標準源視窗將處於交流標準源狀態。

在交流標準源輸出前可以對交流標準源的各項參數（電壓、電流、相位、頻率等）進行設置；設置完畢，按下〖源輸出〗按鈕或【F1】鍵，HN8005B將輸出所設定的標準交流信號。

對於參數的設置與修改可以通過多種方式，既可通過視

激光測距傳感器在宇宙空間探測領域的應用空間激光測距技術在監測大陸板塊運動、地殼形變、地球自轉，改進地球重力場和地心引力常數，確定地球和海洋潮汐變化的規律，監測空間碎片等方麵具有重要作用。它也是當前高精度衛星精密觀測的主要手段之一，是現代觀測手段中單點采樣精度的一種，是支持地球自轉與參考係服務（IERS）的技術手段之一。衛星激光測距技術在如下應用方麵已經取得了顯著的成就，具有廣闊的應用前景。