產品名稱：三相交直流儀表校驗裝置 HN係列 交流采樣變送器校驗儀 交流標準源

HN8001A三相交直流指示儀表，電測儀表檢定裝置 三相交直流儀表校驗裝置 HN係列 交流采樣變送器校驗儀 交流標準源

車高平 13608980122/15689901059本裝置可自動或手動檢驗電力係統中工頻電表（電壓表、電流表、功率表、頻率表、功率因數表、相位表）、單相交流電能表（選項）、三相交流電能表（選項）以及直流電壓、電流表的基本誤差。ENOB=（SINAD-1.76dB）/6.2，其中1.76為理想ADC的量化噪聲，6.2為將log2轉化為log1的係數比。很明顯，SINAD越大，ENOB越大，而提升SINAD的方法就是重點關注與測試精度有關的電路。在數字示波器的架構中，與測試精度有關的電路有：前端采集電路、ADC采樣電路。被測信號經前端采集電路進行調理後傳輸給ADC進行采樣。其中前端采集電路及ADC采樣電路對ENOB有較大影響，實際工作時，偏置誤差，非線性誤差，增益誤差，隨機噪聲，甚至還有ADC交織引起的噪聲都會增大ENOB。ENOB說明了什麼ENOB是衡量ADC性能的標尺，若示波器ENOB指標好，那麼偏置誤差、增益誤差、非線性度等都較小，同時帶寬噪聲也較低。如果主要被測信號是正弦波信號，那麼ENOB就需要重點關注。通常示波器都由前端電路衰減器、放大器等信號調理電路、ADC采樣電路組成，在設計的時候，會在前端采用射頻技術，頻率響應方式，實現的頻響平坦度，以便ADC采樣時失真，增大ENOB指標。如何判斷ENOB的大小3.11.底噪示波器在不同垂直檔位及偏置下的底噪大小是評估示波器測量質量的一個重要依據，通過觀測底噪大小，可以判斷前端采集電路和ADC采樣電路設計的優劣，因為示波器的底噪會增加額外的抖動並較小設計裕量，對測試結果造成較大的影響。
 技術參數：

整機有效精度 0.05級

3．1  交流電壓量程 50V，100V，200V，400V，800V    輸出容量 20VA；

3．2  交流電流量程 0.5A，1A ，2.5A，5A，10A，20A 輸出容量 20VA；

3．3  交流電壓、電流調節範圍 0∽120% FS（800V量程除外）， 調節細度 5×10^－5；

3．4  工頻交流電壓、電流、有功功率準確度    0.05% FS；

3．5  無功功率準確度    0.1% FS

3．6  電流對同名相電壓的相位準確度 0.05⁰；

     三相交直流儀表校驗裝置 HN係列 交流采樣變送器校驗儀 交流標準源對於電力係統外部，諧波對通信設備和電子設備會產生嚴重乾擾。諧波為解決電力電子裝置和其他諧波源的諧波汙染問題，基本思路有兩條：一條是裝設諧波補償裝置來補償諧波，這對諧波源都是適用的；另一條是對電力電子裝置本身進行改造，使其不產生諧波，且功率因數可控製為1，這當然隻適用於作為主要諧波源的電力電子裝置。裝設諧波補償裝置的傳統方法就是采用LC調諧濾波器。這種方法既可補償諧波，又可補償無功功率，而且結構簡單，一直被廣泛使用。

 交流源操作

在主菜單中，按“1”鍵進入“源操作”界麵，在“源操作”界麵中按“1”則顯示如圖4。在這裡，可根據需要對交流源輸出進行設置。圖的上半部分（輸出檢測）顯示內置標準所測得的各相電壓、電流、功率、功率因數和頻率值。下半部分用於設置輸出檔位，設置各相電壓、電流幅值，設置功率因數和相角，設置各次諧波幅值、角度，設置頻率。

係統基於全製式全覆蓋的測試能力可解決物聯網產業鏈的測試難題，具體包括芯片模組測試、綜合測試、產線測試等多個環節。典型測試場景如下：發射機指標測試：UE發射功率UE指的是NB-IOT的終端產品，包括NB-IOT模塊以及使用了這些模塊的終端。UE占用帶寬，占用帶寬指的是分配信道之內測量的99%積分平均功率時對應的信號帶寬。NB-IOT下行信號占用帶寬典型測試UE發射ACLR相鄰信道泄漏比，這個測來判定終端產品是否有可能對相鄰(或高或低)信道中的接收機產生乾擾。

直流源操作

在主菜單中，按“1”鍵進入“源操作”界麵，在“源操作”界麵中按“2”則顯示如圖7。

在這裡，可根據需要對直流源輸出進行設置。通過顯示器下邊和右邊的按鍵根據提示設置直流電壓和電流的檔位、輸出值。

滾動模式滾動模式的特點如下：連續采樣，無采樣間隔，邊采樣邊顯示，無觸發設置，波形始終從右往左滾動顯示。所示。優點：采樣無死區，且實時顯示，不會丟失數據。但應注意到，采樣率過低也會導致采到的數據冇有意義，所以選擇深存儲示波器是至關重要的，深存儲波形不失真，重建。缺點：波形無法穩定顯示，冇有觸發的概念，不能自動識彆低概率信號。小提示：為什麼滾動模式下，波形是從右往左滾動顯示的呢？因為YT模式定義的時間軸是左負右正（左側為舊數據右側為新數據），那麼新采集的數據必然是從右側增加，舊的數據則從左側移出屏外，所以就形成了從右往左滾動顯示。

 交流指示儀表半自動檢測

5.4.1.1  在指示儀表校驗子菜單（圖10）中按“1”後，顯示如圖11。圖的上半部分顯示內置標準所測得的各相電壓、電流、功率、功率因數和頻率值。下半部分用於輸入被檢表一次值、二次值、計量單位、額定值、上限值和均勻校驗點數等信息。

晶閘管又叫可控矽，是一種在晶體管基礎上發展起來的大功率半導體器件，主要並廣泛應用於整流、逆變、調壓及開關等方麵，對可控矽性能進行檢測，對於電控係統的日常維護、保證正常運轉具有十分重要的意義。可控矽分單向可控矽和雙向可控矽兩種，都是三個電極。單向可控矽有陰極（K）、陽極（A）、控製極（G）。雙向可控矽等效於兩隻單項可控矽反向並聯而成，即其中一隻單向矽陽極與另一隻陰極相邊連，其引出端稱T2極，其中一隻單向矽陰極與另一隻陽極相連，其引出端稱T2極，剩下則為控製極。