產品名稱：電測儀表檢定裝置 5年保修 交直流變送器校驗裝置 三相程控功率源

HN8001A三相交直流指示儀表，電測儀表檢定裝置 電測儀表檢定裝置 5年保修 交直流變送器校驗裝置 三相程控功率源

車高平 13608980122/15689901059本裝置可自動或手動檢驗電力係統中工頻電表（電壓表、電流表、功率表、頻率表、功率因數表、相位表）、單相交流電能表（選項）、三相交流電能表（選項）以及直流電壓、電流表的基本誤差。在長期的使用，並不能輕易更換或標定的場合，選擇的傳感器穩定性要求更嚴格，要能夠經受住考驗的延長有一定要求的傳感器。其二：選擇的靈敏度通常情況下，在該傳感器的線性範圍內，它是理想的靈敏度越高越好。因為隻有靈敏度高，測量相應的輸出信號值比較大，有利於信號處理。立的外部噪聲將被放大係統放大影響測量精度，高靈敏度的測量。傳感器本身應具有較高的信號-噪聲比，和從外部信號引入的乾擾化。其三：傳感器的數量和範圍的選擇傳感器的數量的選擇是根據電子秤的身體需要使用支持點的數量（原則上應根據支承點的幾何重心和秤體重合的重心的實際中心確定）而定。
 技術參數：

整機有效精度 0.05級

3．1  交流電壓量程 50V，100V，200V，400V，800V    輸出容量 20VA；

3．2  交流電流量程 0.5A，1A ，2.5A，5A，10A，20A 輸出容量 20VA；

3．3  交流電壓、電流調節範圍 0∽120% FS（800V量程除外）， 調節細度 5×10^－5；

3．4  工頻交流電壓、電流、有功功率準確度    0.05% FS；

3．5  無功功率準確度    0.1% FS

3．6  電流對同名相電壓的相位準確度 0.05⁰；

     電測儀表檢定裝置 5年保修 交直流變送器校驗裝置 三相程控功率源ISO17025明確要求校準結果要報告測量（校準）不確定度，校準實驗室或測試實驗室做所有校準測量時，應該擁有並使用固定的程序來評估測量不確定度。實驗室認可委員會CNAS-CL07:2011《測量不確定度的要求》，要求切實執行ISO17025，在校準結果中逐點正確報告校準不確定度。報告不確定度就是要說明在各項校準工作中，實驗室的校準能力是否達到要求，保證校準質量。福祿克55XX係列校準器，包括5500A，5502A,5520A,5522A等多產品校準器，在國內已有近兩千台，服務於各級計量校準實驗室以及研究機構。

 交流源操作

在主菜單中，按“1”鍵進入“源操作”界麵，在“源操作”界麵中按“1”則顯示如圖4。在這裡，可根據需要對交流源輸出進行設置。圖的上半部分（輸出檢測）顯示內置標準所測得的各相電壓、電流、功率、功率因數和頻率值。下半部分用於設置輸出檔位，設置各相電壓、電流幅值，設置功率因數和相角，設置各次諧波幅值、角度，設置頻率。

後說到的頻譜儀通常用在射頻領域，來觀察和被測信號的頻域特性，而我們常用其配合近場來掃描電磁乾擾的功率峰值以及找到其對應的頻點，初步判定輻射源屬性。眼看上去這三種儀器用途各不相同，但其實都可以用來測試晶體振蕩電路的頻率。如果使用示波器或者頻率計，配合無源電壓點測芯片的時鐘輸入引腳，就可以測量到頻率，如下是各部分的電路結構：其中：CC2是晶體的負載電容，影響到頻率、負性阻抗等電路參數RC3是無源電壓的電路參數，R3是9Mohm，C3是幾個pF不等R是示波器或者頻率計輸入通道的等效阻抗和電容，R4是1Mohm，是幾十pF不等如果使用頻譜儀，配合近場靠近晶體封裝外殼就可以探測到輻射功率峰值的頻率，這個頻率也是晶體電路的振蕩頻率。

直流源操作

在主菜單中，按“1”鍵進入“源操作”界麵，在“源操作”界麵中按“2”則顯示如圖7。

在這裡，可根據需要對直流源輸出進行設置。通過顯示器下邊和右邊的按鍵根據提示設置直流電壓和電流的檔位、輸出值。

一般的測定方法有以下幾種：紅外光度法：試樣中的碳、硫經過富氧條件下的高溫加熱，氧化為化碳、氣體。該氣體經處理後進入相應的吸收池，對相應的紅外輻射進行吸收，由探測器轉發為信號，經計算機處理輸出結果。此方法具有準確、快速、靈敏度高的特點，高低碳硫含量均使用，采用此方法的紅外碳硫儀，自動化程度較高，價格也比較高，適用於精度要求較高的場合。容量法：常用的有測碳為氣體容量法和非水滴定法，測硫為碘量法、酸堿滴定法。

 交流指示儀表半自動檢測

5.4.1.1  在指示儀表校驗子菜單（圖10）中按“1”後，顯示如圖11。圖的上半部分顯示內置標準所測得的各相電壓、電流、功率、功率因數和頻率值。下半部分用於輸入被檢表一次值、二次值、計量單位、額定值、上限值和均勻校驗點數等信息。

本文說明了一種通用的集成電路RF噪聲測量技術。RF抗乾擾能力測試將電路板置於可控製的RF信號電平下，RF電平代表電路工作時可能受到的乾擾強度。從而產生了一個標準化、結構化的測試方法，使用這種方法能夠得到在質量中可重複的測試結果。這樣的測試結果有助於IC選型，從而獲得能夠抵抗RF噪聲的電路。可以將被測器件(DUT)靠近正在工作的蜂窩，以測試其RF敏感度。為了得到一個的、具有可重複性的測試結果，需要采用一種固定的測量方法，在可重複的RF場內測試DUT。