產品名稱：多功能電測儀表校驗裝置 HN係列 三相交流采樣變送器校驗裝置 三相標準功率源

HN8001A三相交直流指示儀表，電測儀表檢定裝置 多功能電測儀表校驗裝置 HN係列 三相交流采樣變送器校驗裝置 三相標準功率源

車高平 13608980122/15689901059本裝置可自動或手動檢驗電力係統中工頻電表（電壓表、電流表、功率表、頻率表、功率因數表、相位表）、單相交流電能表（選項）、三相交流電能表（選項）以及直流電壓、電流表的基本誤差。是德科技擁有豐富的產品係列，而且鼎力支持開放接口和體係結構，能夠為客戶提供廣泛的電子戰場景仿真解決方案，從單一測試台測試到場景仿真應有儘有。這款現代化的電子戰測試和評估解決方案具有出色的可擴展性，通過重新配置係統，能夠實現對射頻測試資產的利用。是德科技信息戰事業部總經理GregPatschke表示：“是德科技深知，我們的客戶需要強大的解決方案以便從容應對日新月異的電子戰環境。我們將繼續與客戶攜手合作，開發和交付能夠快速適應新環境的解決方案，幫助客戶提升實驗室的測試水平。
 技術參數：

整機有效精度 0.05級

3．1  交流電壓量程 50V，100V，200V，400V，800V    輸出容量 20VA；

3．2  交流電流量程 0.5A，1A ，2.5A，5A，10A，20A 輸出容量 20VA；

3．3  交流電壓、電流調節範圍 0∽120% FS（800V量程除外）， 調節細度 5×10^－5；

3．4  工頻交流電壓、電流、有功功率準確度    0.05% FS；

3．5  無功功率準確度    0.1% FS

3．6  電流對同名相電壓的相位準確度 0.05⁰；

     多功能電測儀表校驗裝置 HN係列 三相交流采樣變送器校驗裝置 三相標準功率源工業現場經常需要同時隔離RS-232與RS-485，通常是用兩個隔離DC-DC搭配單的信號隔離電路的方案，但隔離的性能存在差，並且占板麵積較大。本文將為你介紹一種穩定可靠、應用簡便的全隔離解決方案。通訊管理機的接口電路簡述通訊管理機在電力係統中可以采集多個子係統的數據，通過集中處理和回執，完成電力係統中的數據交互。對外通常需要集成多路RS-23RS-48CAN、以太網接口等。通訊管理機應用拓撲通訊管理機對於嵌入式主控CPU的接口資源要求較高，常常需要通過方式來擴展通訊接口;同時電力通訊設備工作環境較為複雜，對於隔離抗乾擾性能有剛性需求。

 交流源操作

在主菜單中，按“1”鍵進入“源操作”界麵，在“源操作”界麵中按“1”則顯示如圖4。在這裡，可根據需要對交流源輸出進行設置。圖的上半部分（輸出檢測）顯示內置標準所測得的各相電壓、電流、功率、功率因數和頻率值。下半部分用於設置輸出檔位，設置各相電壓、電流幅值，設置功率因數和相角，設置各次諧波幅值、角度，設置頻率。

智能電磁流量計的變送器結構簡單，冇有可動部件，也冇有任何阻礙流體流動的節流部件，所以當流體通過時不會引起任何附加的壓力損失，同時它不會引起諸如磨損，堵塞等問題，特彆適用於測量帶有固體顆粒的礦漿，汙水等液固兩相流體，以及粘性較大的漿液等.同樣，由於它結構上無運動部件，故可通過附上耐腐蝕絕緣襯裡和選擇耐腐材料製成電極，起到很好的耐腐蝕性能，使之可用於腐蝕性介質的測量.智能電磁流量計怎麼選擇，選哪一種，怎麼安裝，如何正確安裝，故障現象如何處理？在選擇應用中會有很多問題發生，所以一定要正確對特儀表選型和安裝。

直流源操作

在主菜單中，按“1”鍵進入“源操作”界麵，在“源操作”界麵中按“2”則顯示如圖7。

在這裡，可根據需要對直流源輸出進行設置。通過顯示器下邊和右邊的按鍵根據提示設置直流電壓和電流的檔位、輸出值。

在該電源接入電網後，會對電網內其他的用電設備產生影響，導致電網內直流電源的輸出紋波較高，無法正常測試。即使移除地線的連接，將交直流源各自分開至很遠的位置，並通過不同的空開接入後，乾擾依舊存在。某電源對電網內直流源輸出乾擾波形而在相同的測試環境使用APM全天科技可編程交流電源後，直流源輸出純淨穩定，無任何影響。APM全天科技可編程交流電源通過嚴苛的EMC測試等級，符合歐盟電磁兼容指令214/3/EU/EN61326-1:213ClassA以及FCCCFR47第15部分的要求。

 交流指示儀表半自動檢測

5.4.1.1  在指示儀表校驗子菜單（圖10）中按“1”後，顯示如圖11。圖的上半部分顯示內置標準所測得的各相電壓、電流、功率、功率因數和頻率值。下半部分用於輸入被檢表一次值、二次值、計量單位、額定值、上限值和均勻校驗點數等信息。

半導體生產流程由晶圓製造，晶圓測試，芯片封裝和封裝後測試組成，晶圓製造和芯片封裝討論較多，而測試環節的相關知識經常被邊緣化，下麵集中介紹集成電路芯片測試的相關內容，主要集中在WAT，CP和FT三個環節。集成電路設計、製造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數來監控各步工藝是否正常和穩定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成製程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據，測試方法是用ProbeCard紮在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機台上，由WATRecipe自動控製測試位置和內容，測完某條TestKey後，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。