產品名稱：儀表校驗台 價格 交流采樣校驗儀 交流標準源

HN8001A三相交直流指示儀表，電測儀表檢定裝置 儀表校驗台 價格 交流采樣校驗儀 交流標準源

車高平 13608980122/15689901059本裝置可自動或手動檢驗電力係統中工頻電表（電壓表、電流表、功率表、頻率表、功率因數表、相位表）、單相交流電能表（選項）、三相交流電能表（選項）以及直流電壓、電流表的基本誤差。波形本質的圖解示波器帶寬的內涵奧林匹克的口號是“更快、更高、更強”，在示波器上的“更快”，則是對帶寬的要求。示波器中的模擬通道，簡化來看就是個低通濾波器。它對頻率越高的信號，衰減就越嚴重。一般會把信號功率衰減了-3dB時的頻率，定義為示波器的帶寬。當然，目前示波器的模擬技術發展神速，在示波器標定的帶寬頻率點時，會有一定的裕量，所以在示波器的帶寬頻率點，幅度的衰減是-3dB以內的。特彆說明的是，也是組成測量係統的重要一環，若測試中使用到，則必須考慮對帶寬的影響。
 技術參數：

整機有效精度 0.05級

3．1  交流電壓量程 50V，100V，200V，400V，800V    輸出容量 20VA；

3．2  交流電流量程 0.5A，1A ，2.5A，5A，10A，20A 輸出容量 20VA；

3．3  交流電壓、電流調節範圍 0∽120% FS（800V量程除外）， 調節細度 5×10^－5；

3．4  工頻交流電壓、電流、有功功率準確度    0.05% FS；

3．5  無功功率準確度    0.1% FS

3．6  電流對同名相電壓的相位準確度 0.05⁰；

     儀表校驗台 價格 交流采樣校驗儀 交流標準源就以上的難點，ITECH依托於強大的硬件韌體功能，均已一一突破，並為國內熔斷器製造商實驗室完成了3A熔斷時間的係統方案。熔斷時間方案優勢使用IT89A/E係列負載自帶Measure功能量測熔斷時間在熔斷器熔斷時間測試應用中，熔斷時間對應下圖中從C點下降到E點的時間（正脈寬時間），且時間量測精度可媲美示波器.量測時間的測定通過上位機軟件發送指令，，測試電源電壓從1V到8V，電流從1A到5A的上升和下降時間，可以發送如下指令：在熔斷器測試方案中，主要應用到IT89A/E係列大功率負載和IT6係列大功率電源。

 交流源操作

在主菜單中，按“1”鍵進入“源操作”界麵，在“源操作”界麵中按“1”則顯示如圖4。在這裡，可根據需要對交流源輸出進行設置。圖的上半部分（輸出檢測）顯示內置標準所測得的各相電壓、電流、功率、功率因數和頻率值。下半部分用於設置輸出檔位，設置各相電壓、電流幅值，設置功率因數和相角，設置各次諧波幅值、角度，設置頻率。

X射線光譜儀的好壞常常是以X射線強度測量的理論統計誤差來表示的，BX係列波長色散X射線熒光儀的穩定性和再現性，已足以保證待測樣品測量的精度，被樣品的製樣技術成為影響準確度的至關重要的因素，在樣品製備方麵所花的工夫將會反映在結果的質量上。X射線熒光儀器誤差的來源主要有以下幾個方麵：1.采樣誤差：非均質材料樣品的代表性2.樣品的製備：製樣技術的穩定性產生均勻樣品的技術3.不適當的標樣：待測樣品是否在標樣的組成範圍內標樣元素測定值的準確度標樣與樣品的穩定性4.儀器誤差：計數的統計誤差樣品的位置靈敏度和漂移重現性5.不適當的定量數學模型：不正確的算法元素間的乾擾效應未經校正顆粒效應純物質的熒光強度隨顆粒的減小而增大，在多元素體係中，已經證明一些元素的強度與吸收和增應有關，這些效應可以引起某些元素的強度增加和另一些元素的強度減小。

直流源操作

在主菜單中，按“1”鍵進入“源操作”界麵，在“源操作”界麵中按“2”則顯示如圖7。

在這裡，可根據需要對直流源輸出進行設置。通過顯示器下邊和右邊的按鍵根據提示設置直流電壓和電流的檔位、輸出值。

電動汽車製造商長期以來一直希望有一種更小、更輕、更便宜的方案，以解決電池斷開問題。功率半導體方案經常被用作替代接觸器，並將生成一種緊湊的固態方案。對半導體電源開關設計提出的挑戰也相當大。簡單的直接交換每個繼電器與適當的電源開關將不可行。由於電動汽車電池係統中的電流可以雙向流動，所以電源開關必須能夠雙向傳導和阻擋電流。當車輛處於靜止狀態(停放車輛)時，電池斷態漏電流必須極低，以防止放電和潛在危險情況。

 交流指示儀表半自動檢測

5.4.1.1  在指示儀表校驗子菜單（圖10）中按“1”後，顯示如圖11。圖的上半部分顯示內置標準所測得的各相電壓、電流、功率、功率因數和頻率值。下半部分用於輸入被檢表一次值、二次值、計量單位、額定值、上限值和均勻校驗點數等信息。

和微波暗室的測試目的一樣，TEMCELL也是一個模擬理想空間的天線測試環境，金屬箱能夠提供足夠的功能來消除外部乾擾對天線的影響，而內部的吸波材料也能吸收入射波，減小反射波。TEMCELL不能對天線進行無源測試，隻能對有源指標進行測試。由於空間限製，TEMCELL的吸波材料比較薄，而對於劈狀吸波材料，是通過劈尖間的多次反射增加對入射波進行吸收，因此微波暗室裡的吸波材料都比較厚，而TEMCELL的吸波材料都不購厚，因此對入射波的吸收都不是很充分，因此會導致測試的結果不。