產品名稱：可編程三相變頻電源 HN係列 電器老化電源 定製定做

HNZDL係列可編程直流穩壓電源 可編程三相變頻電源 HN係列 電器老化電源 定製定做

聯係人車高平13608980122/15689901059輸入電壓：AC380V±10℅,50Hz訂貨時需提前說明
輸出電壓：0％--100％可調輸出 或 固定輸出
輸出電流：0％--100％可調輸出 或 固定輸出
電源效應 lt; 0.3％ + 10mV
負載效應： < 0.1% + 10mV
PulseMode可模擬脈衝對設備的影響，能夠設置脈衝的電壓、頻率、脈衝波形的占空比、角度、波形以及運行時間等參數，能夠進行電壓跌落和電網低頻乾擾度試驗等。StepMode可模擬漸變電壓/頻率對設備的影響，能夠設置步進電壓、頻率、角度以及運行時間等參數，同時具備功率掃描功能，從而能夠進行電壓波動抗擾度試驗等。APM可編程交流電源除了擁有強大的波形仿真功能外，還具備高功率密度，高可靠性，高精度的特點，同時兼容屏幕觸控和按鍵的人工操作界麵等優點，易於操作，內置設定突波，陷波功能，還內置符合IEC61-4-11/IEC61-4-14/IEC61-4-28/IEC61-4-13標準測試要求波形，可為用電設備模擬輸出正常或異常等電源輸入，滿足用電輸入測試要求。
產品特點：
1、顯示：輸出電壓電流LED顯示（可按客戶要求加證D液晶顯示）；
2、外觀：采用台式、塔式或19英寸標準化尺寸，支持N+1冗餘擴容，可組合放置於工作台麵及機架；
3、優點：高頻PWM硬件調整軟開關控製技術使電源率，低紋波、低噪聲、高可靠性、體積小、重量輕；
4、恒壓恒流：輸出CC/CV恒壓恒流自動切換，電壓電流值從零到額定值連續線性調節；
5、保護功能：過壓保護（OVP)、過流保護(OCP)、過溫保護(OTP)、欠壓保護、過載保護

作為清潔能源的太陽能電池，為人們生活帶來便利，然而，有一個“毒瘤”影響太陽能組件或電池的壽命。這需要借助具有超高靈敏度的紅外熱像儀，準確檢測出微小溫度變化的地方，將太陽能組件或電池存在問題的位置，捕捉在紅外熱圖之中。太陽能熱斑如何生成？這個"毒瘤"叫做太陽能熱斑。太陽電池組件由於在製造和實驗的過程中，出現隱裂、碎片焊接等；或在應用過程中，被其它物體(如鳥糞、樹蔭等)長時間遮擋時，被遮擋的太陽能電池組件此時將會嚴重發熱，這就是"熱斑效應"，也就是太陽能上的一顆毒瘤。

功率直流電源主要由整流濾波電路，全橋變換電路，PWM控製電路，穩壓、限壓電路，穩流、限流保護電路，以及輔助電源電路等優化組合而成。

本電源係列產品采用先進的IG逆變技術，通過數字模擬閉環反饋，微處理器控製PWM脈寬控製器，控製能量輸出自由度高，恒流、恒壓精度高，動態響應速度快，承受衝擊帶載能力強，允許負載變化範圍大（短路/空載）。使得輸入電壓在電網的不斷變化和負載的變化之下，都能使輸出產生自適應並保持輸出電流和電壓恒定於設定值，從而確保電鍍生產線的運轉。

半導體生產流程由晶圓製造，晶圓測試，芯片封裝和封裝後測試組成，晶圓製造和芯片封裝討論較多，而測試環節的相關知識經常被邊緣化，下麵集中介紹集成電路芯片測試的相關內容，主要集中在WAT，CP和FT三個環節。集成電路設計、製造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數來監控各步工藝是否正常和穩定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成製程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據，測試方法是用ProbeCard紮在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機台上，由WATRecipe自動控製測試位置和內容，測完某條TestKey後，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。

停機時把調節旋鈕調至較小位置並切斷電源開關，把啟動、停止開關撥至停止位置。

10.8、自動計時功能（500A以下自動機型才有）：自動計時功能是檢測輸入電流是否大於5A，大於5A則開始記時，時控開關‘時控關’，到預置時間報警，並把電流降到10%額定電流以內，工件拿出後，時控不工作，待下一工件放下開始自動工作。當使用電流小於5A時

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