產品詳情
  • 產品名稱:高頻加熱脈衝電源 直流脈衝開關穩壓電源 電器老化電源 30年經驗

  • 產品型號:HNDL
  • 產品廠商:華能
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簡單介紹:
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗,電力係統技術人員檢驗電流互感器保護裝置及二次回路電流試驗。也可用於開關,電纜、直流電流傳感器和其它電器設備作電流負載試驗及溫升試驗。高頻加熱脈衝電源 直流脈衝開關穩壓電源 電器老化電源 30年經驗
詳情介紹:

HNZDL係列可編程直流穩壓電源 高頻加熱脈衝電源 直流脈衝開關穩壓電源 電器老化電源 30年經驗

高頻加熱脈衝電源 直流脈衝開關穩壓電源 電器老化電源 30年經驗

聯係人車高平13608980122/15689901059
直流輸出
電壓:0- 6000V連續可調  

電流:0- 100000A連續可調   

源電壓效應 ≤0.2%有效值

負載效應 穩壓精度:≤0.5%有效值(阻性負載)

恒流精度:≤0.5%有效值(阻性負載)複雜係統的調試和驗證麵臨許多測試技術挑戰,包括捕獲和可視化多個不頻繁或間斷出現的事件,如串行數據包、激光脈衝和故障信號。為了準確測量和表征這些信號,必須在長時間內高采樣率捕獲它們。示波器的默認采集模式因為其有限的記錄長度會強製在采樣率和捕獲時間進行妥協。使用更高的采樣率可以更快地填充儀器的內存,減少數據采集的時間窗口。相反,捕獲長時間的數據通常是以犧牲水平時間分辨率(采樣率)為代價的。分段存儲架構FastFrameTM分段存儲允許將內存分割成多幀。高頻加熱脈衝電源 直流脈衝開關穩壓電源 電器老化電源 30年經驗

電壓電流設定 多圈電位器、按鍵式、液晶觸摸屏(可選)

過壓保護 內置O.V.P保護,保護值為額定值+5%,保護後關閉輸出,重新開機解鎖

過流保護 過載、短路、定電流輸出E65的頻率帶寬為42.5-69Hz,覆蓋了5Hz和6Hz的工頻電網。不同對ABCN相序的顏色定義也不一樣。E65支持各相序自定義顏色,滿足的需求。同時不同和地區,對與電能質量的算法不完全一致,不同用戶針對選用的計算方法也不一致,但是E65電能質量儀支持諧波含有率計算方法(BFunRMS)、THD計算、功率計算方法(Classical、IEEDIN411)、PF計算方法(IEIEEE)、KF標準(US、EU)。

功率直流電源主要由整流濾波電路,全橋變換電路,PWM控製電路,穩壓、限壓電路,穩流、限流保護電路,以及輔助電源電路等優化組合而成。

三相電網(或單相)電壓經電源開關進入大功率直流電源後,進行整流濾波,得到的520VDC(單相為300VDC)的平滑直流電壓供給逆變電路。機內控製電源自三相輸入電壓取一路380CAC(或單相220VAC)經變壓器降壓穩流後,再通過三端穩壓器得到DC±12V電壓供給各部分控製電路使用。

逆變電路主要由大功率IG模塊(或場效應MOSFET模塊)組成全橋變換電路。當PWM輸出控製信號通過隔離驅動器分彆驅動功率模塊,兩組對角管分彆交替導通,在高頻變壓器初級產生高頻脈衝電壓,次級電壓由高頻變壓器變壓後整流向負載提供能量。

半導體生產流程由晶圓製造,晶圓測試,芯片封裝和封裝後測試組成,晶圓製造和芯片封裝討論較多,而測試環節的相關知識經常被邊緣化,下麵集中介紹集成電路芯片測試的相關內容,主要集中在WAT,CP和FT三個環節。集成電路設計、製造、封裝流程示意圖WAT(WaferAcceptanceTest)測試,也叫PCM(ProcessControlMonitoring),對Wafer劃片槽(ScribeLine)測試鍵(TestKey)的測試,通過電性參數來監控各步工藝是否正常和穩定,CMOS的電容,電阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成製程前,是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據,測試方法是用ProbeCard紮在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT測試機台上,由WATRecipe自動控製測試位置和內容,測完某條TestKey後,ProbeCard會自動移到下一條TestKey,直到整片Wafer測試完成。高頻加熱脈衝電源 直流脈衝開關穩壓電源 電器老化電源 30年經驗

停機時把調節旋鈕調至較小位置並切斷電源開關,把啟動、停止開關撥至停止位置。

10.8、自動計時功能(500A以下自動機型才有):自動計時功能是檢測輸入電流是否大於5A,大於5A則開始記時,時控開關‘時控關’,到預置時間報警,並把電流降到10%額定電流以內,工件拿出後,時控不工作,待下一工件放下開始自動工作。當使用電流小於5A時

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