產品名稱：加熱電源 直流脈衝大電流恒流源 電器老化測試直流電源 30年經驗

HNZDL係列可編程直流穩壓電源 加熱電源 直流脈衝大電流恒流源 電器老化測試直流電源 30年經驗

聯係人車高平13608980122/15689901059
直流輸出 電壓：0- 6000V連續可調  

電流：0- 100000A連續可調   

源電壓效應 ≤0.2%有效值

負載效應 穩壓精度：≤0.5%有效值（阻性負載）

恒流精度：≤0.5%有效值（阻性負載）半導體生產流程由晶圓製造，晶圓測試，芯片封裝和封裝後測試組成，晶圓製造和芯片封裝討論較多，而測試環節的相關知識經常被邊緣化，下麵集中介紹集成電路芯片測試的相關內容，主要集中在WAT，CP和FT三個環節。集成電路設計、製造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數來監控各步工藝是否正常和穩定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成製程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據，測試方法是用ProbeCard紮在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機台上，由WATRecipe自動控製測試位置和內容，測完某條TestKey後，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。

電壓電流設定 多圈電位器、按鍵式、液晶觸摸屏（可選）

過壓保護 內置O.V.P保護，保護值為額定值+5%，保護後關閉輸出，重新開機解鎖

過流保護 過載、短路、定電流輸出使用組合透鏡係統對物體成像，實現加電時液晶透鏡區域清晰，具有大視場、局部高分辨率的效果。本文通過實驗測量模組光圈與液晶透鏡匹配、液晶透鏡位置等對於成像質量的影響。研究方向：液晶透鏡成像係統測試目的：展示成像係統對於局部區域的清晰成像效果，測量不同位置、不同光圈下成像係統的MTF，其對於成像質量的影響。測試設備:相機、鏡頭、函數發生器、功率放大器ATA-24組合透鏡係統放大器型號:AigtekATA-242實驗過程：1.實驗室製備液晶透鏡，並通過乾涉法獲取波前信息，得到zernike係數，得到液晶透鏡的性能參數，以選擇合適的驅動電壓；組裝成像係統，對不同區域的物體進行成像實驗；使用ISO12233板對成像係統進行對焦測試，測試不同光圈、不同液晶透鏡位置的MTF值。

功率直流電源主要由整流濾波電路，全橋變換電路，PWM控製電路，穩壓、限壓電路，穩流、限流保護電路，以及輔助電源電路等優化組合而成。

三相電網（或單相）電壓經電源開關進入大功率直流電源後，進行整流濾波，得到的520VDC（單相為300VDC）的平滑直流電壓供給逆變電路。機內控製電源自三相輸入電壓取一路380CAC（或單相220VAC）經變壓器降壓穩流後，再通過三端穩壓器得到DC±12V電壓供給各部分控製電路使用。

逆變電路主要由大功率IG模塊（或場效應MOSFET模塊）組成全橋變換電路。當PWM輸出控製信號通過隔離驅動器分彆驅動功率模塊，兩組對角管分彆交替導通，在高頻變壓器初級產生高頻脈衝電壓，次級電壓由高頻變壓器變壓後整流向負載提供能量。

停機時把調節旋鈕調至較小位置並切斷電源開關，把啟動、停止開關撥至停止位置。

10.8、自動計時功能（500A以下自動機型才有）：自動計時功能是檢測輸入電流是否大於5A，大於5A則開始記時，時控開關‘時控關’，到預置時間報警，並把電流降到10%額定電流以內，工件拿出後，時控不工作，待下一工件放下開始自動工作。當使用電流小於5A時