HN2016智能sf6微水測試儀sf6微量水分測試儀 密度繼電器測試儀 sf6冷鏡法露點測試儀 30年經驗

露點	測量範圍	－80 ℃～+20 ℃
	測量精度	±1℃（－80℃～＋20℃）
	測量時間 （＋20℃）	<3分鐘。
環境溫度	－40℃～＋60℃

在玻璃尺或玻璃盤上類似於刻線標尺或度盤那樣，進行長刻線（一般為1?12mm）的密集刻劃，得到如下圖所示的黑白相間間隔細小的條紋，冇有刻劃的白的地方透光，刻劃的發黑處不透光，這就是光柵。柵線放大圖實際上，光柵很早就被人們發現了，但應用於技術領域隻有一百多年的曆史。早期，人們利用光柵的衍射效應進行光譜和光波波長的測定。到了2世紀5年代，人們開始利用光柵的莫爾條紋現象進行精密測量，從而出現了光柵式傳感器。1、連接SF₆設備

將測量管道上螺紋端與開關接頭連接好，用扳手擰緊，關閉測量管道上另一端的針型閥；

再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口；

將排氣管道連接到出氣口。

後將開關接頭與SF₆電氣設備測量接口連接好，用扳手擰緊；

2、檢查電量

本儀器優先使用交流電。

使用直流電時，請查看右上角顯示的電池電量，如果電量低於約20％，請關機充電後繼續使用。

3、開始測量

打開儀測量管道上的針型閥，然後用麵板上的流量閥調節流量，把流量調節到0.5L/M左右，開始測量SF₆露點。

設備測量時間需要5～10分鐘，其後每台設備需要3～5分鐘。

4、存儲數據

設備測量完成後，可以將數據保存在儀器中，按“確定”鍵調出操作菜單，具體操作方式見下節內容。漏電與短路的本質相同，隻是事故發展程度不同而已，嚴重的漏電可能造成短路。對照明線路的漏電，切不可掉以輕心，應經常檢查線路的絕緣情況，尤其是發現漏電現象時，應及時查明原因，找出故障點，並予以消除。照明線路漏電的主要原因是：一是導線或電氣設備的絕緣受到外力損傷；二是線路經長期運行，導致絕緣老化變質；三是線路受潮氣侵襲或被汙染，造成絕緣。，判斷是否確實漏電。可用指針式萬用表的R×10k檔測測量路絕緣電阻的大小，或數字萬用表置於交流電流檔(此時相當於一個電流表)，串聯在總開關上，接通開關，取下所有負載(包括燈泡)。

5、測量其他設備

一台設備測量後，關閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調節閥。將轉接頭從SF₆電氣設備上取下。如果需要繼續測量其他設備，按照上麵步驟繼續測量下一台設備。

6、測量結束

所有設備測量結束後，關閉儀器電源。

一、 菜單操作

在測量狀態，通過確定鍵可以進入功能菜單，如圖1。

1、保存數據

在測量狀態，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單，按“確定”鍵，進入保存數據頁麵，保存數據時，可以根據設備進行編號。

設備編號多為六位，可以通過“上”、“下”鍵增加數值大小，“左”、“右”鍵調整數據位數。

輸入編號後，按“確定”鍵，完成保存數據。按“返回”鍵可以返回上一頁，此時不保存數據。

2、查看記錄

在測量狀態，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單，按“確定”鍵，進入查看記錄頁麵。

顯示時從後一個被保存的數據開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數據。CSP(ChipScalePACkage)：芯片級封裝，該方式相比BGA同等空間下可以將存儲容量提升三倍，是由日本三菱公司提出來的。DIP(DualIn-linePACkage)：雙列直插式封裝，插裝型封裝之一，指采用雙列直插形式封裝的集成電路芯片，體積比較大。MCM(MultiChipModel)：多芯片模塊封裝，可根據基板材料分為MCM-L，MCM-C和MCM-D三大類。QFP(QuadFlatPackage)：四側引腳扁平封裝，表麵貼裝型封裝之一，引腳通常在100以上，適合高頻應用，基材方麵有陶瓷、金屬和塑料三種。

3、刪除記錄

在測量狀態，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單，按“確定”鍵，可刪除所有數據。

4、修改時間

在測量狀態，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇修改時間，按“確定”鍵，進入修改時間頁麵。

通過“上”、“下”鍵可以增加時間數值，“左”、“右”鍵可以減小時間數值。

輸入小時、分鐘、秒後，按“確定”鍵可以轉到下一個修改域內。

 放大器進行通道多路複用時工作異常，原因究竟是什麼呢？有些人（尤其是工程師）聲稱，質疑爭辯是否超速的一種方法就是要求提供雷達裝置的校驗證書。他們認為，如果校驗證書過期，司機就不該被罰款。無論這是否真的適合所有人（儀器可能近期已經校準過），避開超速罰單**的方法仍是不要超過限速。但是如果你冇有意識到自己速度太快該怎麼辦呢？這種理由通常都不管用。同樣的事情也發生在放大器上。在一些應用中，工程師可能忘記了放大器輸入與具有超快速瞬變的設備相連。