HN2016智能sf6微水測試儀冷鏡式露點儀 SF6分解產物測試儀 sf6氣體檢漏儀 高質量

露點	測量範圍	－80 ℃～+20 ℃
	測量精度	±1℃（－80℃～＋20℃）
	測量時間 （＋20℃）	<3分鐘。
環境溫度	－40℃～＋60℃

在現況下，差分信號通過集成電路(IC)封裝、外部器件、不同的PCB結構、連接器和電纜連接子係統進行傳播。實現完全對稱的差分對是件不太容易的事情。在以後的博文中，我將討論差分對設計的方案，以及限度減少發射信號失真的技術。德州儀器(TI)擁有完整的高速信號調理IC產品線，諸如重定時器（Retimer）和驅動器(Redriver)。它們在解決所有類型實際差分對設計時碰到的不理想情況，和高插入損耗情況大有幫助，從而在現代係統中實現了可靠數據通信並延長了傳輸距離。1、連接SF₆設備

將測量管道上螺紋端與開關接頭連接好，用扳手擰緊，關閉測量管道上另一端的針型閥；

再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口；

將排氣管道連接到出氣口。

後將開關接頭與SF₆電氣設備測量接口連接好，用扳手擰緊；

2、檢查電量

本儀器優先使用交流電。

使用直流電時，請查看右上角顯示的電池電量，如果電量低於約20％，請關機充電後繼續使用。

3、開始測量

打開儀測量管道上的針型閥，然後用麵板上的流量閥調節流量，把流量調節到0.5L/M左右，開始測量SF₆露點。

設備測量時間需要5～10分鐘，其後每台設備需要3～5分鐘。

4、存儲數據

設備測量完成後，可以將數據保存在儀器中，按“確定”鍵調出操作菜單，具體操作方式見下節內容。尤其是在以下兩種情況下，非常不建議采用兩線製測試：測試導線過長，R1R2偏大，有時甚至會高出被測電阻，兩線製測試極易導致結果錯誤；被測電阻Rb為低阻值時，饋線電阻的影響會比平時更大，也容易造成讀數誤差較大。蓄電池的內阻很小，2V電芯的典型內阻為.3mΩ，所以對於此類阻值的測量，需要采用更的測試方法。四線製測試原理四線製測試法即為開爾文測試法。如下圖所示，開爾文連接有兩個要求：對於每個測試點都有一條激勵線和一條檢測線,二者嚴格分開，各自構成立回路：激勵回路用於測定流過Rb的電流I1，檢測回路用於測定Rb兩端的電壓V34，因電壓表的內部阻抗遠遠大於檢測回路的饋線電阻R3和R4，因此流經電壓表的電流I2幾乎為零，所量到的電壓V34也幾乎是Rb本身的壓降。

5、測量其他設備

一台設備測量後，關閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調節閥。將轉接頭從SF₆電氣設備上取下。如果需要繼續測量其他設備，按照上麵步驟繼續測量下一台設備。

6、測量結束

所有設備測量結束後，關閉儀器電源。

一、 菜單操作

在測量狀態，通過確定鍵可以進入功能菜單，如圖1。

1、保存數據

在測量狀態，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單，按“確定”鍵，進入保存數據頁麵，保存數據時，可以根據設備進行編號。

設備編號多為六位，可以通過“上”、“下”鍵增加數值大小，“左”、“右”鍵調整數據位數。

輸入編號後，按“確定”鍵，完成保存數據。按“返回”鍵可以返回上一頁，此時不保存數據。

2、查看記錄

在測量狀態，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單，按“確定”鍵，進入查看記錄頁麵。

顯示時從後一個被保存的數據開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數據。為得到對比度和成像清晰度，需要用到幾種光源，檢查時由程序來選擇光源、顏色組合和光強，以達到視覺效果。為了確保識彆的正確性，元件的高度必須小於8mm(從PCB板表麵到元件頂端)。由於矢量成像技術用到的是幾何信息，所以元件是否旋轉、得到的圖形與參考模型大小是否一致都冇有影響，而且也和產品顏色、光照和背景等的變化無關。矢量成像檢查分三部進行：矢量成像係統在元件影像圖上找出主要特征並將其分離出來，然後對這些顯著特征進行測量，包括形狀、尺寸、角度、弧度和明暗度等；檢查合成圖象和被測元件圖像主要特征的空間關係；後，不論元件旋轉角度、大小或相對其背景的總體外觀如何，它在線路板上的x、y和θ值都可通過計算確定下來。

3、刪除記錄

在測量狀態，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單，按“確定”鍵，可刪除所有數據。

4、修改時間

在測量狀態，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇修改時間，按“確定”鍵，進入修改時間頁麵。

通過“上”、“下”鍵可以增加時間數值，“左”、“右”鍵可以減小時間數值。

輸入小時、分鐘、秒後，按“確定”鍵可以轉到下一個修改域內。

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