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HN2016智能sf6微水測試儀sf6露點儀 SF6綜合測試儀 sf6冷鏡式露點儀 5年保修
露點 |
測量範圍 |
-80 ℃~+20 ℃ |
測量精度 |
±1℃(-80℃~+20℃) |
|
測量時間 (+20℃) |
<3分鐘。 |
|
環境溫度 |
-40℃~+60℃ |
在科技飛速發展的今天,自動化儀器及自動控製都離不開信號采集,而且要采集的信號越來越快,精度要求也越來越高。如何簡單快速的讓係統集成這項功能呢?ZSDA1的基本介紹ZDS1是ZLG致遠電子開發的高速信號數據采集模塊,模塊通過PCIExpress2.接口與主機端連接,35M帶寬,1GSa/s的采樣速率。用戶隻需要通過動態鏈接庫文件就可以輕鬆控製模塊進行數據采集和數據處理。1、連接SF6設備
將測量管道上螺紋端與開關接頭連接好,用扳手擰緊,關閉測量管道上另一端的針型閥;
再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;
將排氣管道連接到出氣口。
後將開關接頭與SF6電氣設備測量接口連接好,用扳手擰緊;
2、檢查電量
本儀器優先使用交流電。
使用直流電時,請查看右上角顯示的電池電量,如果電量低於約20%,請關機充電後繼續使用。
3、開始測量
打開儀測量管道上的針型閥,然後用麵板上的流量閥調節流量,把流量調節到0.5L/M左右,開始測量SF6露點。
設備測量時間需要5~10分鐘,其後每台設備需要3~5分鐘。
4、存儲數據
設備測量完成後,可以將數據保存在儀器中,按“確定”鍵調出操作菜單,具體操作方式見下節內容。傳統的S參數並不能區分差模信號和共模信號,更不能反映差分傳輸線各模式的傳輸和不同模式的轉化特性,因此無法準確衡量一個差分平衡器件的性能。為完整表征一個差分平衡器件的特性,需要知道它在差模和共模激勵下的響應,以及在這兩種激勵下的模式轉換信息,以4端口的平衡參數為例,混合模S參數矩陣可以完整表征其特性指標。其中,混合模S參數用Sabxy的形式表示,前麵兩個下標分彆表示響應和激勵信號的模式,d代表差模信號,c代表共模信號,後兩位數字下標分彆表示響應和激勵的端口。
5、測量其他設備
一台設備測量後,關閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調節閥。將轉接頭從SF6電氣設備上取下。如果需要繼續測量其他設備,按照上麵步驟繼續測量下一台設備。
6、測量結束
所有設備測量結束後,關閉儀器電源。
一、 菜單操作
在測量狀態,通過確定鍵可以進入功能菜單,如圖1。
無人飛行器安裝的監控設備、海上微波接收機、車輛安裝的紅外成像係統傳感器以及其他儀器係統都需要具有穩定的平台,以達到性能,但它們通常在可能遇到振動和其他類型運動的應用中使用。振動和正常車輛運動會導致通信中斷、圖像模糊以及其他很多行為,從而降低儀器的性能和執行所需功能的能力。平台穩定係統采用閉環控製係統,以主動消除此類運動,從而保證達到這些儀器的重要性能目標。是平台穩定係統的整體框圖,它使用伺服電機來校正角向運動。
1、保存數據
在測量狀態,通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進入保存數據頁麵,保存數據時,可以根據設備進行編號。
設備編號多為六位,可以通過“上”、“下”鍵增加數值大小,“左”、“右”鍵調整數據位數。
輸入編號後,按“確定”鍵,完成保存數據。按“返回”鍵可以返回上一頁,此時不保存數據。
2、查看記錄
在測量狀態,通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進入查看記錄頁麵。
顯示時從後一個被保存的數據開始。
可以按“上”、“下”鍵翻看數據。但這裡的浪湧電壓是指明工作電壓為220V交流進入的,如果工作電壓較低則不能以此為標準,電源線上受較小的浪湧衝擊不一定立即損壞設備,但至少壽命有影響。接地端口儘管在標準中冇有專門提到接地端口的指標,實際上信息技術設備地端口是非常重要的。在雷電發生時接地端口有可能受到地電位反擊、地電位升高影響,或者由於接地、接地不當使地阻過大達不到參考電位要求使設備損壞。接地端口不僅對接地電阻/接地線極(長度、直徑、材料)、接地方式、地網的設置等有要求,而且還與設備的電特性、工作頻段、工作環境等有直接的關係。
3、刪除記錄
在測量狀態,通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數據。
4、修改時間
在測量狀態,通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時間,按“確定”鍵,進入修改時間頁麵。
通過“上”、“下”鍵可以增加時間數值,“左”、“右”鍵可以減小時間數值。
輸入小時、分鐘、秒後,按“確定”鍵可以轉到下一個修改域內。
為解決這些挑戰,新模塊在提供電壓和測量電流時,支持的電纜長度和連接電容都要超過傳統SMU。4201-SMU和4211-SMU是為采用長電纜、開關矩陣、通過柵極接觸卡盤及其他夾具的測試裝置專門設計的。這就讓研究人員和製造測試工程師節省了大量的時間和成本,而這些時間和成本本來可以花費在故障排除和重新配置測試設置上。“因為要降低電流來節省能耗,精細測試裝置所產生的高負載電容正成為一個日益嚴重的問題。在測試智能或平板電腦采用的大型LCD麵板時,就麵臨著同樣的問題。