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HN2016智能sf6微水測試儀sf6微量水分測試儀 密度繼電器測試儀 sf6檢漏儀 30年經驗
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露點 |
測量範圍 |
－80 ℃～+20 ℃ |
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測量精度 |
±1℃（－80℃～＋20℃） |
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測量時間 （＋20℃） |
<3分鐘。 |
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環境溫度 |
－40℃～＋60℃ |
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如果電源模塊的外圍電路設計使用不當，非但不能發揮模塊的優勢，還可能降低係統可靠性，本次我們就來談談一些電源模塊外圍電路設計核心要點。兩級浪湧防護電路，使用不當適得其反電源模塊體積小，在EMC要求比較高的場合，需要增加額外的浪湧防護電路，以提升係統EMC性能。如所示，為提高輸入級的浪湧防護能力，在外圍增加了壓敏電阻和TVS管。但圖中的電路、原目的是想實現兩級防護，但可能適得其反。如果中MOV2的壓敏電壓和通流能力比MOV1低，在強乾擾場合，MOV2可能無法承受浪湧衝擊而提前損壞，導致整個係統。
1、連接SF6設備
將測量管道上螺紋端與開關接頭連接好，用扳手擰緊，關閉測量管道上另一端的針型閥；
再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口；
將排氣管道連接到出氣口。
後將開關接頭與SF6電氣設備測量接口連接好，用扳手擰緊；
2、檢查電量
本儀器優先使用交流電。
使用直流電時，請查看右上角顯示的電池電量，如果電量低於約20％，請關機充電後繼續使用。
3、開始測量
打開儀測量管道上的針型閥，然後用麵板上的流量閥調節流量，把流量調節到0.5L/M左右，開始測量SF6露點。
設備測量時間需要5～10分鐘，其後每台設備需要3～5分鐘。
4、存儲數據
設備測量完成後，可以將數據保存在儀器中，按“確定”鍵調出操作菜單，具體操作方式見下節內容。工頻電磁場波形由於是測量電路存在周期性波動，那工頻電磁場擾動的可能性更大，用示波器觀測工頻電磁場波形如，一般認為50Hz工頻電磁場乾擾是由兩方麵原因產生：-50Hz工頻乾擾通過傳導進入係統；-50Hz工頻乾擾通過空間耦合進入係統。針對上述問題，消除50Hz工頻電磁場乾擾的方法也相對明確，有下述四種方案可供電路設計者去參考：利用電氣隔離，阻斷工頻乾擾的傳導路徑；-敏感電路處搭建共模和濾波電路，濾除進入輸入通道的工頻擾動；-軟件中構建IIR陷波或者FIR帶阻數字濾波器，消除工頻乾擾對測量結果的影響；-降低測量引線回路麵積，增加，減弱空間耦合效應。
5、測量其他設備
一台設備測量後，關閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調節閥。將轉接頭從SF6電氣設備上取下。如果需要繼續測量其他設備，按照上麵步驟繼續測量下一台設備。
6、測量結束
所有設備測量結束後，關閉儀器電源。
一、 菜單操作
在測量狀態，通過確定鍵可以進入功能菜單，如圖1。
示波器是常用的測量儀器，具有強大的數據采集與能力，還可以將采集到的波形導出，放到電腦上進行。這個功能與波形記錄儀十分相似，那麼我們能不能將示波器用出波形記錄儀的效果呢？傳統波形記錄儀能長時間的采集信號，並將數據保存到設備的硬盤中，采集的時間長度取決於采樣率以及硬盤容量，其缺點是不具備實時功能，而這正好是示波器的強項，示波器能在長時間采集的同時對波形進行。示波器冇有配備大容量硬盤，要將示波器用出記錄儀的效果，需要把存儲深度發揮出。
1、保存數據
在測量狀態，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單，按“確定”鍵，進入保存數據頁麵，保存數據時，可以根據設備進行編號。
設備編號多為六位，可以通過“上”、“下”鍵增加數值大小，“左”、“右”鍵調整數據位數。
輸入編號後，按“確定”鍵，完成保存數據。按“返回”鍵可以返回上一頁，此時不保存數據。
2、查看記錄
在測量狀態，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單，按“確定”鍵，進入查看記錄頁麵。
顯示時從後一個被保存的數據開始。
可以按“上”、“下”鍵翻看數據。ZLG致遠電子ZDL6000示波記錄儀提供了20G存儲深度，可持續采集20餘天的數據，解決用戶數據監測問題。基於“實時運算+觸發+搜索”功能，用戶可捕獲突發異常。配合“動作/Go-NoGo”功能，在異常出現時，用戶可時間通過警報、郵件等方式獲得通知，設備可自動以圖片或數據文件方式保存異常現場，的提升問題與解決效率。除此之外ZDL6000示波記錄儀延續了ZDS係列示波器的用戶體驗，在滿足大數據記錄與異常需求的同時，保證了靈活的示波功能，可謂是同時將示波與大數據記錄做到了完用戶體驗。
3、刪除記錄
在測量狀態，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單，按“確定”鍵，可刪除所有數據。
4、修改時間
在測量狀態，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇修改時間，按“確定”鍵，進入修改時間頁麵。
通過“上”、“下”鍵可以增加時間數值，“左”、“右”鍵可以減小時間數值。
輸入小時、分鐘、秒後，按“確定”鍵可以轉到下一個修改域內。
天下武功，唯快不破。在保證**的基礎上儘可能提高測試效率也是T/R組件測試領域不變的追求和目標。當然，提高測試效率的方法有很多，提高測試儀器儀表的性能（提高掃描速度和增加測試功能等）、簡化連接和校準過程以及優化測試程序和工藝等。還有冇有其它辦法呢？那就是並行測試，這也是當今自動測試技術領域發展的重要趨勢和方向之一。所謂並行測試就是充分利用測試儀器和測試通道等資源，按照一定的調度規劃同時執行多個測試任務，從而提高測試效率。