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HN2016智能sf6微水測試儀sf6微量水分測試儀 SF6分解產物測試儀 氣體定量檢漏儀 高質量
露點 |
測量範圍 |
-80 ℃~+20 ℃ |
測量精度 |
±1℃(-80℃~+20℃) |
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測量時間 (+20℃) |
<3分鐘。 |
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環境溫度 |
-40℃~+60℃ |
據測算,僅江蘇一個省,每天因諧波而浪費的電就有上億度。如何治理電氣中的諧波?既然諧波存在多方麵的危害,采取必要的有效手段,避免或補償已產生的諧波,就顯得尤為重要。諧波的治理可歸納為以下治理措施:加強標準和相應規範的宣傳貫徹。IEC61000以及國標GB/T14549-1993,對於諧波定義、測量等進行了宣傳,明確諧波治理是一項互惠互利、節能增效,是保證電網和設備**穩定運行的舉措;主管部門對所轄電網進行係統,正確測量,以確定諧波源位置和產生的原因,為諧波治理準備充分的原始材料;在諧波產生起伏較大的地方,可設置長期觀察點,收集可靠的數據。1、連接SF6設備
將測量管道上螺紋端與開關接頭連接好,用扳手擰緊,關閉測量管道上另一端的針型閥;
再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;
將排氣管道連接到出氣口。
後將開關接頭與SF6電氣設備測量接口連接好,用扳手擰緊;
2、檢查電量
本儀器優先使用交流電。
使用直流電時,請查看右上角顯示的電池電量,如果電量低於約20%,請關機充電後繼續使用。
3、開始測量
打開儀測量管道上的針型閥,然後用麵板上的流量閥調節流量,把流量調節到0.5L/M左右,開始測量SF6露點。
設備測量時間需要5~10分鐘,其後每台設備需要3~5分鐘。
4、存儲數據
設備測量完成後,可以將數據保存在儀器中,按“確定”鍵調出操作菜單,具體操作方式見下節內容。監測係統根據采集到的各個逆變器的發電量及輻照值計算得到該逆變器係統中所有逆變器的發電總量及輻照總值。更進一步地,所述的監測係統將采集到的不同時間段下所有逆變器的發電總量及輻照總值繪製在橫軸為時間,且縱軸為發電總量及輻照總值的圖表中,具體為:所述的監測係統將采集到的不同時間段下所有逆變器的發電總量及輻照總值繪製橫軸為時間且縱軸為發電總量為柱狀圖,並在該柱狀圖上以相同的時間橫軸為橫軸,並以輻照總值為縱軸繪製折線圖。
5、測量其他設備
一台設備測量後,關閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調節閥。將轉接頭從SF6電氣設備上取下。如果需要繼續測量其他設備,按照上麵步驟繼續測量下一台設備。
6、測量結束
所有設備測量結束後,關閉儀器電源。
一、 菜單操作
在測量狀態,通過確定鍵可以進入功能菜單,如圖1。
在正常情況下,模塊製造商或供應商會根據傳輸速率、傳輸距離、頻段、認證、包裝尺寸等對提供的數千個模塊分類。考慮固然很重要,但某些因素要更加關鍵。通過把主要的重點放在傳輸速率、傳輸距離(或覆蓋範圍)和功耗上,可以有效地縮小選擇範圍。對這些因素做出平衡取舍之後,在此基礎上選擇一個模塊,可以幫助您製訂直接影響終用戶體驗的決策。將快速考察這些參數,及其怎樣影響您的器件性能。1)傳輸速率傳輸速率或數據速率通常是設計人員和開發人員考慮的件事,因為它會迫使設計人員和開發人員考慮器件之間需要傳送的信息類型。
1、保存數據
在測量狀態,通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進入保存數據頁麵,保存數據時,可以根據設備進行編號。
設備編號多為六位,可以通過“上”、“下”鍵增加數值大小,“左”、“右”鍵調整數據位數。
輸入編號後,按“確定”鍵,完成保存數據。按“返回”鍵可以返回上一頁,此時不保存數據。
2、查看記錄
在測量狀態,通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進入查看記錄頁麵。
顯示時從後一個被保存的數據開始。
可以按“上”、“下”鍵翻看數據。同樣的輸入輸出電壓、同樣的功率、同樣的封裝,不同廠家的電源模塊,哪個性能更好?對於一個性能優良的電源模塊來說,需要測試的項目很多,而且這些性能之間是緊密聯係的,本文挑選其中幾個方麵的性能進行對比闡述。穩定可靠穩定可靠性是根本,如果工作時電源模塊運行穩定可靠都不能保證,其他性能也就彆提了。從設計的角度來看,需要考慮當模塊處於惡劣環境時模塊中每個器件電應力和熱應力在允許範圍內並保證留有一定裕量,且在係統受到一定乾擾時,應保持穩定。
3、刪除記錄
在測量狀態,通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數據。
4、修改時間
在測量狀態,通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時間,按“確定”鍵,進入修改時間頁麵。
通過“上”、“下”鍵可以增加時間數值,“左”、“右”鍵可以減小時間數值。
輸入小時、分鐘、秒後,按“確定”鍵可以轉到下一個修改域內。
而如果C的容值越小,對電路的影響也就越小。但限於目前的測試係統,C3和串聯後的電容值是幾個pF的級彆,而C1通常是20~30pF,所以儀器對負載電容量的影響在10%以上,終會導致測量結果產生幾個ppm(單位,百萬分之一)的頻率偏差,通常電路設計對晶體頻偏的要30ppm左右,所以這個影響還是不能忽視的。但如果使用頻譜儀,配合近場測試,因為僅在空間上有電磁場的耦合,所以儀器的影響可以忽略。