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HN2016智能sf6微水測試儀青島華能供應 HN2016 SF6氣體回收裝置 高質量 5年保修
露點 |
測量範圍 |
-80 ℃~+20 ℃ |
測量精度 |
±1℃(-80℃~+20℃) |
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測量時間 (+20℃) |
<3分鐘。 |
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環境溫度 |
-40℃~+60℃ |
可以看出實時頻譜模式下的數字熒光頻譜圖能夠更加具體的顯示出信號的變化趨勢和信號動態變化過程。掃頻模式下的信號測試圖實時頻譜模式下的信號測試圖2演示信號隨時間的變化過程通過數字熒光頻譜圖和無縫瀑布圖的聯合可以展示頻譜的動態變化過程。展示了使用實時頻譜模式對跳頻信號進行測試的示意界麵,無縫瀑布圖中可以看到頻率跳變的整個過程,而數字熒光圖可以驗證跳頻信號質量,同時通過打開頻率vs時間圖,可以觀察到時域中的頻率跳變過程,配合標記等可以簡單測量出跳頻速率和跳頻帶寬等參數。1、連接SF6設備
將測量管道上螺紋端與開關接頭連接好,用扳手擰緊,關閉測量管道上另一端的針型閥;
再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;
將排氣管道連接到出氣口。
後將開關接頭與SF6電氣設備測量接口連接好,用扳手擰緊;
2、檢查電量
本儀器優先使用交流電。
使用直流電時,請查看右上角顯示的電池電量,如果電量低於約20%,請關機充電後繼續使用。
3、開始測量
打開儀測量管道上的針型閥,然後用麵板上的流量閥調節流量,把流量調節到0.5L/M左右,開始測量SF6露點。
設備測量時間需要5~10分鐘,其後每台設備需要3~5分鐘。
4、存儲數據
設備測量完成後,可以將數據保存在儀器中,按“確定”鍵調出操作菜單,具體操作方式見下節內容。注意51單片機引腳的拉電流很小,不能直接驅動Q1,否則放電時間會很長。當單片機P15引腳為高電平時,電容充電,當充電到Uc時,比較器翻轉,觸發單片機外部中斷0,通過測得的充電時間和充電電阻的大小可以計算出電容大小。原理圖上圖中(請參照PDF原理圖),Btn1是單片機複位按鈕;Btn2是校準按鈕,在測量小電容時候可以隨時按下清零顯示;Btn3是功能切換按鈕,用來在測量LCF(頻率、小電容、電感)和測量電解電容之間切換。
5、測量其他設備
一台設備測量後,關閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調節閥。將轉接頭從SF6電氣設備上取下。如果需要繼續測量其他設備,按照上麵步驟繼續測量下一台設備。
6、測量結束
所有設備測量結束後,關閉儀器電源。
一、 菜單操作
在測量狀態,通過確定鍵可以進入功能菜單,如圖1。
但由於受到補償模塊中補償單位的限製,不能的將每個周期的偏移量完全補償到實時時鐘裡去,會留下補償餘數,造成微小的補償偏差。在單個時鐘校準周期中,這種微小的補償餘數對時鐘度影響不大,但多個周期累積起來的偏差會對時鐘的性造成不能忽視的影響。為了解決現有技術中對RTC模塊的補償方法容易產生的補償餘數累積誤差、無法滿足高精度的要求等技術問題,本提出一種應用在電能表中RTC模塊的補償校準方法及裝置。
1、保存數據
在測量狀態,通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進入保存數據頁麵,保存數據時,可以根據設備進行編號。
設備編號多為六位,可以通過“上”、“下”鍵增加數值大小,“左”、“右”鍵調整數據位數。
輸入編號後,按“確定”鍵,完成保存數據。按“返回”鍵可以返回上一頁,此時不保存數據。
2、查看記錄
在測量狀態,通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進入查看記錄頁麵。
顯示時從後一個被保存的數據開始。
可以按“上”、“下”鍵翻看數據。紅外測距的常用方法和原理時間差法測距原理時間差法測距原理是將紅外測距傳感器的紅外發射端發送信號與接收端接受信號的時間差t寫入單片機中,通過光傳播距離公式來計算出傳播距離L。L=C*t式中c是光的傳播速度為3X108m/s。反射能量法測距原理反射能量法是由發射控製電路控製發光元件發出信號(通常為紅外線)射向目標物體,經物體反射後傳回係統的接收端,通過光電轉換器接收的光能量大小進而計算出目標物體的距離L。
3、刪除記錄
在測量狀態,通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數據。
4、修改時間
在測量狀態,通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時間,按“確定”鍵,進入修改時間頁麵。
通過“上”、“下”鍵可以增加時間數值,“左”、“右”鍵可以減小時間數值。
輸入小時、分鐘、秒後,按“確定”鍵可以轉到下一個修改域內。
無源晶振自身無法震蕩,在工作時需要搭配外圍電路。在一定條件下,石英晶片會產生壓電效應:晶片兩端的電場與機械形變會互相轉化。當外加交變電壓的頻率與晶片的固有頻率相等時,晶體產生的振動和電場強度,這稱為壓電諧振,類似與LC回路的諧振。圖1石英晶體的電路符號、等效電路、電抗特性及外圍電路圖由於晶體為無源器件,其對外圍電路的參數較為敏感,尤其為負載電容。根據晶體的手冊,我們得知測試電路中有電容,此電容對晶體是否起振大有關聯:CCg稱作匹配電容,是接在晶振的兩個腳上的對地電容,其作用就是調節負載電容使其與晶振的要求相一致,需要注意的是CCg串聯後的總電容值才是有效的負載電容部分。