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HN2016智能sf6微水測試儀sf6露點儀 SF6綜合測試儀 sf6冷鏡式露點測試儀 定製定做
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露點 |
測量範圍 |
－80 ℃～+20 ℃ |
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測量精度 |
±1℃（－80℃～＋20℃） |
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測量時間 （＋20℃） |
<3分鐘。 |
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環境溫度 |
－40℃～＋60℃ |
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當今，為了美化環境，熱力管道直埋已經十分普遍，但是由於管道腐蝕老化、荷載震動、管道質量，施工質量，使用年限等多種原因，不可避免的會發生泄漏情況，既造成了能源浪費和供熱成本的增加，又影響熱用戶的取暖，因此管道查漏一直困擾著供熱企業。對於熱力管道泄漏，傳統方法很難，但是紅外熱像儀作為一種新型檢測設備，能夠通過掃描被測區域，觀察熱圖像中溫度分布狀況，快速準確地對地下供暖管道泄漏部位進行，而FLIRE85紅外熱像儀和FLIRE8紅外熱像儀正是這樣的設備。
1、連接SF6設備
將測量管道上螺紋端與開關接頭連接好，用扳手擰緊，關閉測量管道上另一端的針型閥；
再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口；
將排氣管道連接到出氣口。
後將開關接頭與SF6電氣設備測量接口連接好，用扳手擰緊；
2、檢查電量
本儀器優先使用交流電。
使用直流電時，請查看右上角顯示的電池電量，如果電量低於約20％，請關機充電後繼續使用。
3、開始測量
打開儀測量管道上的針型閥，然後用麵板上的流量閥調節流量，把流量調節到0.5L/M左右，開始測量SF6露點。
設備測量時間需要5～10分鐘，其後每台設備需要3～5分鐘。
4、存儲數據
設備測量完成後，可以將數據保存在儀器中，按“確定”鍵調出操作菜單，具體操作方式見下節內容。樣品經色譜柱分離後收集,再經熒光分光光度計測熒光強度,影響因素多,測定複雜,改進後的液相色譜-熒光法則可以不經衍生化和收集分離物,隻經化學處理除雜,濃縮後直接進樣即可。用該法測定貫葉連翹中金絲桃素的含量也取得了較好的結果。液相色譜-示差折光測黃芪精口服液中黃芪甲苷的含量也都取得了較為滿意的結果。對於隻有紫外末端吸收,用紫外檢測時靈敏度低,基線易漂移,示差折光檢測其易受外界條件乾擾,蒸發散射檢測器能克服以上不足,響應值隻與樣品質量有關,其信號相應與質量成正比,不同化合物,質量相同則信號相應基本一致。
5、測量其他設備
一台設備測量後，關閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調節閥。將轉接頭從SF6電氣設備上取下。如果需要繼續測量其他設備，按照上麵步驟繼續測量下一台設備。
6、測量結束
所有設備測量結束後，關閉儀器電源。
一、 菜單操作
在測量狀態，通過確定鍵可以進入功能菜單，如圖1。
輸入電阻值應限製在10Ω以下。至少，選擇電容器以地匹配分流電阻器及其電感的時間常數；或者，選擇電容器以提供低於該點的極點。使輸入濾波器時間常數等於或大於並聯電阻及其電感時間常數：這簡化為基於使用10Ω電阻來確定每個RFILT的CFILT值：如果主要目的是濾除高頻噪聲，則應將電容器增加至提供所需濾波的值。，100kHz的濾波頻率需要一個80nF電容。該電容器可以有一個低額定電壓值，但應具有良好的高頻特性。
1、保存數據
在測量狀態，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單，按“確定”鍵，進入保存數據頁麵，保存數據時，可以根據設備進行編號。
設備編號多為六位，可以通過“上”、“下”鍵增加數值大小，“左”、“右”鍵調整數據位數。
輸入編號後，按“確定”鍵，完成保存數據。按“返回”鍵可以返回上一頁，此時不保存數據。
2、查看記錄
在測量狀態，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單，按“確定”鍵，進入查看記錄頁麵。
顯示時從後一個被保存的數據開始。
可以按“上”、“下”鍵翻看數據。嵌入式設計人員之所以采用MSO，是因為它從能夠查看2個或4個信號，擴展到能夠查看多20個信號，而不必求助於後的工具——邏輯儀。儘管這種通道數量長期來一直被市場廣泛接受，但這是不是仍適合當今的嵌入式係統呢？對示波器製造商和嵌入式係統設計人員來說，這是一個值得思考的問題。製造商必需知道其提供的是不是客戶實際需要的、願意付費購買的測試功能。設計人員則需要適合作業的工具。對這一問題的思考，推動了多個科研項目的實施，來自世界各地的嵌入式係統工程師正更加深入地考察示波器通道數量問題。
3、刪除記錄
在測量狀態，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單，按“確定”鍵，可刪除所有數據。
4、修改時間
在測量狀態，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇修改時間，按“確定”鍵，進入修改時間頁麵。
通過“上”、“下”鍵可以增加時間數值，“左”、“右”鍵可以減小時間數值。
輸入小時、分鐘、秒後，按“確定”鍵可以轉到下一個修改域內。
所述存儲所述第n個補償餘數具體包括：用第n個補償周期的補償餘數覆蓋第n-1個補償周期的補償餘數。一種應用在電能表中RTC模塊的補償校準裝置，包括：溫度測量模塊，用於根據測量的RTC模塊的晶體溫度獲取時鐘校準所需的補償參數；控製模塊，用於根據所述補償參數和RTC模塊的補償單位計算補償校準值和補償餘數，並根據所述補償校準值和所述補償餘數對RTC模塊的時鐘頻率進行校準。所述控製模塊，具體用於在個補償周期中，按照所述補償校準值對所述RTC模塊的時鐘頻率進行校準，並將所述補償餘數存入存儲模塊；所述存儲模塊，用於存儲所述補償餘數。