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HN2016智能sf6微水測試儀冷鏡式露點儀 密度繼電器校驗儀 sf6冷鏡式露點測試儀 定製定做
露點 |
測量範圍 |
-80 ℃~+20 ℃ |
測量精度 |
±1℃(-80℃~+20℃) |
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測量時間 (+20℃) |
<3分鐘。 |
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環境溫度 |
-40℃~+60℃ |
4151調製域儀精密時間間隔測量廣泛應用於衛星導航、雷達、激光測距、粒子物理實驗、計量及測試等領域,隨著人們對測距精度、粒子質量鑒彆精度和時間計量精度的要求不斷提升,皮秒級時間分辨率的測試應用越來越多。目前國外成熟產品的時間測量分辨率為2ps,標準方差為36ps左右,國內中電科儀器儀表公司推出的4151調製域儀時間測量分辨率可達5ps,標準方差為86ps左右,綜合性能到達了先進水平,能夠滿足目前絕大數情況對精密時間的測試需求。1、連接SF6設備
將測量管道上螺紋端與開關接頭連接好,用扳手擰緊,關閉測量管道上另一端的針型閥;
再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;
將排氣管道連接到出氣口。
後將開關接頭與SF6電氣設備測量接口連接好,用扳手擰緊;
2、檢查電量
本儀器優先使用交流電。
使用直流電時,請查看右上角顯示的電池電量,如果電量低於約20%,請關機充電後繼續使用。
3、開始測量
打開儀測量管道上的針型閥,然後用麵板上的流量閥調節流量,把流量調節到0.5L/M左右,開始測量SF6露點。
設備測量時間需要5~10分鐘,其後每台設備需要3~5分鐘。
4、存儲數據
設備測量完成後,可以將數據保存在儀器中,按“確定”鍵調出操作菜單,具體操作方式見下節內容。在EMI測試過程中確定汽車電子控製單元(ECU)是否仍舊正常工作的方法是讓其通過ECU的輸出端口如CAN總線輸出它的工作狀態。其它的ECU輸出也包括模擬傳感器輸出,以及驅動執行器的脈衝寬度調製輸出。場的強度及考慮ISO/IEC61-4-21中描述的輻射RF抗乾擾測試中使用的場強和頻率類型是一個典型的示例,它使用了一個包含機械模式調諧器的混響室,當在一個給定的測試頻率下足夠多的調諧器位置被獲得時,混響室可用空間產生一個測試頻率範圍在.4~3GHz、場強高達2V/m(CM和AM)以及6V/m(雷達脈衝)的均勻場。
5、測量其他設備
一台設備測量後,關閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調節閥。將轉接頭從SF6電氣設備上取下。如果需要繼續測量其他設備,按照上麵步驟繼續測量下一台設備。
6、測量結束
所有設備測量結束後,關閉儀器電源。
一、 菜單操作
在測量狀態,通過確定鍵可以進入功能菜單,如圖1。
此外,車輛還可能進入一些外部發射機產生的強電磁場區域,強度可達幾十甚至幾百福特每米。汽車業在多年前就已意識到這些問題,所有廠商都已采取一定措施,通過製定測試標準和立法要求,力圖借此減少電磁乾擾的影響。今天的車輛對這種乾擾都具備了較強的抵抗能力。但EMI對車載模塊的性能影響非常大,因此必須繼續對其保持警惕。車輛及其部件的測試是一個高度專業的領域,一向由廠商自己完成。在有些,許多車輛廠商會共同資助那些專業的測試實驗室。
1、保存數據
在測量狀態,通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進入保存數據頁麵,保存數據時,可以根據設備進行編號。
設備編號多為六位,可以通過“上”、“下”鍵增加數值大小,“左”、“右”鍵調整數據位數。
輸入編號後,按“確定”鍵,完成保存數據。按“返回”鍵可以返回上一頁,此時不保存數據。
2、查看記錄
在測量狀態,通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進入查看記錄頁麵。
顯示時從後一個被保存的數據開始。
可以按“上”、“下”鍵翻看數據。儀表的結構原理磁翻板液位計是根據浮力原理和磁性耦合作用研製而成。當被測容器中的液位升降時,液位計本體管中的磁性浮子也隨之升降,浮子內的磁鋼通過磁耦合傳遞到磁翻柱指示器,驅動紅、白翻柱翻轉,從而實現液位清晰的指示。通過內置乾簧管觸點的開閉,實現電流或電壓信號的傳送。磁翻板液位計在出廠時一般會通過模擬方法(此方法規程中未說明)進行調校,確保供貨時與實際介質相匹配。液位計具體的現場校準步驟,要確定所測介質的密度介質密度可以用標準密度計測量,磁翻板液位計也可以根據用戶提供的具體資料查取,介質密度需記錄備案,確保介質密度能夠符合液位計使用說明書的要求。
3、刪除記錄
在測量狀態,通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數據。
4、修改時間
在測量狀態,通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時間,按“確定”鍵,進入修改時間頁麵。
通過“上”、“下”鍵可以增加時間數值,“左”、“右”鍵可以減小時間數值。
輸入小時、分鐘、秒後,按“確定”鍵可以轉到下一個修改域內。
後說到的頻譜儀通常用在射頻領域,來觀察和被測信號的頻域特性,而我們常用其配合近場來掃描電磁乾擾的功率峰值以及找到其對應的頻點,初步判定輻射源屬性。眼看上去這三種儀器用途各不相同,但其實都可以用來測試晶體振蕩電路的頻率。如果使用示波器或者頻率計,配合無源電壓點測芯片的時鐘輸入引腳,就可以測量到頻率,如下是各部分的電路結構:其中:CC2是晶體的負載電容,影響到頻率、負性阻抗等電路參數RC3是無源電壓的電路參數,R3是9Mohm,C3是幾個pF不等R是示波器或者頻率計輸入通道的等效阻抗和電容,R4是1Mohm,是幾十pF不等如果使用頻譜儀,配合近場靠近晶體封裝外殼就可以探測到輻射功率峰值的頻率,這個頻率也是晶體電路的振蕩頻率。