HN2016智能sf6微水測試儀冷鏡式露點儀 密度繼電器校驗儀 sf6冷鏡法露點測試儀 定製定做

露點	測量範圍	－80 ℃～+20 ℃
	測量精度	±1℃（－80℃～＋20℃）
	測量時間 （＋20℃）	<3分鐘。
環境溫度	－40℃～＋60℃

在考慮上述問題之後就能確定選用何種類型的傳感器，然後再考慮傳感器的具體性能指標。頻率響應特性五金傳感器的頻率響應特性決定了被測量的頻率範圍，必須在允許頻率範圍內保持不失真的測量條件，實際上傳感器的響應總有—定延遲，希望延遲時間越短越好。傳感器的頻率響應高，可測的信號頻率範圍就寬，而由於受到結構特性的影響，機械？係統的慣性較大，因有頻率低的傳感器可測信號的頻率較低。在動態測量中，應根據信號的特點（穩態、瞬態、隨機等）響應特性，以免產生過火的誤差靈敏度的選擇通常，在傳感器的線性範圍內，希望傳感器的靈敏度越高越好。1、連接SF₆設備

將測量管道上螺紋端與開關接頭連接好，用扳手擰緊，關閉測量管道上另一端的針型閥；

再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口；

將排氣管道連接到出氣口。

後將開關接頭與SF₆電氣設備測量接口連接好，用扳手擰緊；

2、檢查電量

本儀器優先使用交流電。

使用直流電時，請查看右上角顯示的電池電量，如果電量低於約20％，請關機充電後繼續使用。

3、開始測量

打開儀測量管道上的針型閥，然後用麵板上的流量閥調節流量，把流量調節到0.5L/M左右，開始測量SF₆露點。

設備測量時間需要5～10分鐘，其後每台設備需要3～5分鐘。

4、存儲數據

設備測量完成後，可以將數據保存在儀器中，按“確定”鍵調出操作菜單，具體操作方式見下節內容。點測溫與區域測溫測量一個區域內的溫度，而非逐個點、逐個點的進行測溫，可以幫助研究人員和工程師對其正在測試的係統做出更好的知情決策。由於熱電偶和熱敏電阻都需要通過接觸才能進行測溫，因此它們隻能一次提供一個位置的溫度數據。而且，小的測試目標一次隻能安裝少數熱電偶。貼在其上，實際上熱電偶會散熱，而可能改變溫度讀數。傳統熱電偶的熱圖像非接觸式的測溫可能采用點溫儀（也稱為紅外測溫儀），但如同熱電偶一樣，點溫儀隻能測量單點的溫度。

5、測量其他設備

一台設備測量後，關閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調節閥。將轉接頭從SF₆電氣設備上取下。如果需要繼續測量其他設備，按照上麵步驟繼續測量下一台設備。

6、測量結束

所有設備測量結束後，關閉儀器電源。

一、 菜單操作

在測量狀態，通過確定鍵可以進入功能菜單，如圖1。

1、保存數據

在測量狀態，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單，按“確定”鍵，進入保存數據頁麵，保存數據時，可以根據設備進行編號。

設備編號多為六位，可以通過“上”、“下”鍵增加數值大小，“左”、“右”鍵調整數據位數。

輸入編號後，按“確定”鍵，完成保存數據。按“返回”鍵可以返回上一頁，此時不保存數據。

2、查看記錄

在測量狀態，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單，按“確定”鍵，進入查看記錄頁麵。

顯示時從後一個被保存的數據開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數據。世界半導體工業界，這種進步至少仍將持續10到15年。麵對現有的晶體管模式及技術已經臨近極限，借助芯片設計人員巨大的創造才能，使一個個看似不可逾越的難關化險為夷，矽晶體管繼續著小型化的步伐。近期美國科學家的科技成果顯示，將10納米長的圖案壓印在矽片上的時間為四百萬分之一秒，把矽片上晶體管的密度提高了100倍，同時也大大提高了線生產的速度。這一成果將使電子產品繼續微小化，使摩爾定律繼續適用。

3、刪除記錄

在測量狀態，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單，按“確定”鍵，可刪除所有數據。

4、修改時間

在測量狀態，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇修改時間，按“確定”鍵，進入修改時間頁麵。

通過“上”、“下”鍵可以增加時間數值，“左”、“右”鍵可以減小時間數值。

輸入小時、分鐘、秒後，按“確定”鍵可以轉到下一個修改域內。

 每個示波器都有其輸入阻抗，這個阻抗是特性阻抗，不僅僅是電阻，還包含了電容和電感等。由於引入的額外負載，所以接入被測電路後，會從信號中汲取能量，實際上就會影響被測電路，惡劣的後果就是電路本來是正常工作的，引入示波器後卻不正常了，此時容易得出與事實相反的結論。因此我們在進行測量時必須考慮到的負載特性及測試電路的阻抗匹配。在×1檔位時，信號直接進入示波器，這類在測試點處將其自身的電容（包括電纜的電容）與示波器的輸入阻抗連在了一起，這就是的負載效應。