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HN2016智能sf6微水測試儀微水測試儀 SF6分解物測試儀 sf6氣體定量檢漏儀 30年經驗
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露點 |
測量範圍 |
－80 ℃～+20 ℃ |
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測量精度 |
±1℃（－80℃～＋20℃） |
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測量時間 （＋20℃） |
<3分鐘。 |
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環境溫度 |
－40℃～＋60℃ |
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傳感器是將一種物理量經過電路轉換成一種能以另外一種直觀的可表達的物理量的描述。本文對傳感器的概念、原理及特性進行逐一介紹，進而解析傳感器設計的要點。傳感器的概念傳感器是一種檢測裝置，能感受到被測量的信息，並能將感受到的信息，按一定規律變換成為電信號或其他所需形式的信息輸出，以滿足信息的傳輸、處理、存儲、顯示、記錄和控製等要求。它是實現自動檢測和自動控製的要環節。傳感器的工作原理傳感器工作原理的分類物理傳感器應用的是物理效應，諸如壓電效應，磁致伸縮現象，離化、極化、熱電、光電、磁電等效應。
1、連接SF6設備
將測量管道上螺紋端與開關接頭連接好，用扳手擰緊，關閉測量管道上另一端的針型閥；
再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口；
將排氣管道連接到出氣口。
後將開關接頭與SF6電氣設備測量接口連接好，用扳手擰緊；
2、檢查電量
本儀器優先使用交流電。
使用直流電時，請查看右上角顯示的電池電量，如果電量低於約20％，請關機充電後繼續使用。
3、開始測量
打開儀測量管道上的針型閥，然後用麵板上的流量閥調節流量，把流量調節到0.5L/M左右，開始測量SF6露點。
設備測量時間需要5～10分鐘，其後每台設備需要3～5分鐘。
4、存儲數據
設備測量完成後，可以將數據保存在儀器中，按“確定”鍵調出操作菜單，具體操作方式見下節內容。如果發現校準漂移，必須立即重新校準閥門器。實現以上目的比較好的工具是能夠測試和重新校準電子閥門的手持式工具，Fluke789ProcessMeter過程萬用表。該工具提供信號輸出，激勵連接到閥門器輸入的控製器，可遞增連續調節輸出電流，所以能夠檢查閥門的線性度和響應時間。以下是利用789ProcessMeter過程萬用表檢查常閉閥門的基本步驟：1.將ProcessMeter過程萬用表設置為輸出模式，采用適合器的相應電流範圍。將輸出電流測試線插入到mA輸出插孔。將旋轉功能開關從關閉位置(OFF)移動至上麵的個mA輸出位置，選擇4~2mA範圍。將過程萬用表連接至閥門器的輸入端子。為了確定器在4mA時是否完全關閉閥門，利用按鍵將輸出電流調節到4.mA。閥門應關閉。同時觀察閥門是否移動，按粗調(Coarse)下箭頭按鈕一次，將電流降低至3.9mA。閥門應無任何運動。在設定閥門開始打開的位置點時，確保執行器上冇有反向壓力(控製器輸入為4.mA時，該壓力使閥門保持閉合)。
5、測量其他設備
一台設備測量後，關閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調節閥。將轉接頭從SF6電氣設備上取下。如果需要繼續測量其他設備，按照上麵步驟繼續測量下一台設備。
6、測量結束
所有設備測量結束後，關閉儀器電源。
一、 菜單操作
在測量狀態，通過確定鍵可以進入功能菜單，如圖1。
總線越長、經過的環境越複雜越容易出現通信問題。外部環境中複雜多變的電磁場會間接抬高總線的電勢，靜電、浪湧、短路等會直接作用到通信線上。以上情況的出現，輕則導致損壞，重則造成主板故障。與總線連接前加入隔離是十分必要的。如何隔離?隔離的方法及原理與I/O隔離相似，不同的是通信隔離需要考慮到隔離器件對通信信號的影響，不當的隔離往往導致通信中斷或通信不暢。對來說，隔離可以從兩方麵入手，通信隔離和供電隔離。
1、保存數據
在測量狀態，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單，按“確定”鍵，進入保存數據頁麵，保存數據時，可以根據設備進行編號。
設備編號多為六位，可以通過“上”、“下”鍵增加數值大小，“左”、“右”鍵調整數據位數。
輸入編號後，按“確定”鍵，完成保存數據。按“返回”鍵可以返回上一頁，此時不保存數據。
2、查看記錄
在測量狀態，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單，按“確定”鍵，進入查看記錄頁麵。
顯示時從後一個被保存的數據開始。
可以按“上”、“下”鍵翻看數據。激光測距傳感器在宇宙空間探測領域的應用空間激光測距技術在監測大陸板塊運動、地殼形變、地球自轉，改進地球重力場和地心引力常數，確定地球和海洋潮汐變化的規律，監測空間碎片等方麵具有重要作用。它也是當前高精度衛星精密觀測的主要手段之一，是現代觀測手段中單點采樣精度的一種，是支持地球自轉與參考係服務（IERS）的技術手段之一。衛星激光測距技術在如下應用方麵已經取得了顯著的成就，具有廣闊的應用前景。
3、刪除記錄
在測量狀態，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單，按“確定”鍵，可刪除所有數據。
4、修改時間
在測量狀態，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇修改時間，按“確定”鍵，進入修改時間頁麵。
通過“上”、“下”鍵可以增加時間數值，“左”、“右”鍵可以減小時間數值。
輸入小時、分鐘、秒後，按“確定”鍵可以轉到下一個修改域內。
根據上圖顯示，固晶層缺陷會造成的熱阻增大，影響散熱性能，具體的影響程度與缺陷的大小有關。測量結殼熱阻：這兩次測試的分彆：次測量，器件直接接觸到基板熱沉上；次測量，器件和基板熱沉中間夾著導熱雙麵膠。由於兩次散熱路徑的改變僅僅發生在器件封裝殼之外，因此結構函數上兩次測量的分界處就代表了器件的殼。如下圖所示的曲線變化，可得出器件的熱阻。結構無損檢測：同批次產品，取固晶層完好、邊緣缺陷以及中間缺陷的樣品測試。