HN2016智能sf6微水測試儀sf6微量水分測試儀 SF6分解產物測試儀 sf6氣體定量檢漏儀 30年經驗

露點	測量範圍	－80 ℃～+20 ℃
	測量精度	±1℃（－80℃～＋20℃）
	測量時間 （＋20℃）	<3分鐘。
環境溫度	－40℃～＋60℃

另外，LM71-Q1可以監測TCU模塊的總體溫度，當溫度處於-40°C和+150°C之間時，測量精度可達+3/-2°C。如前所述，TCU采用來自變速箱的溫度數據，作為其決策過程的一部分。LMT01-Q1是采用雙引腳引線封裝的一種易用型數字溫度傳感器，您可以把它安裝在變速箱上。將導線與LMT01-Q1封裝的引線壓接在一起，即可把這些導線連接至TCU電路板。LMT01-Q1通過發送脈衝來傳輸溫度數據，MCU/處理器會為脈衝計數。1、連接SF₆設備

將測量管道上螺紋端與開關接頭連接好，用扳手擰緊，關閉測量管道上另一端的針型閥；

再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口；

將排氣管道連接到出氣口。

後將開關接頭與SF₆電氣設備測量接口連接好，用扳手擰緊；

2、檢查電量

本儀器優先使用交流電。

使用直流電時，請查看右上角顯示的電池電量，如果電量低於約20％，請關機充電後繼續使用。

3、開始測量

打開儀測量管道上的針型閥，然後用麵板上的流量閥調節流量，把流量調節到0.5L/M左右，開始測量SF₆露點。

設備測量時間需要5～10分鐘，其後每台設備需要3～5分鐘。

4、存儲數據

設備測量完成後，可以將數據保存在儀器中，按“確定”鍵調出操作菜單，具體操作方式見下節內容。當兩個重載輸出時，電流在整個1-D周期持續流動，輸出電壓平衡良好。然而，當一個重載輸出和另一個輕載輸出時，輕載輸出上的輸出電容傾向於從該基座電壓發生峰值充電；因為電流迅速回升到零，其輸出二極管將停止導通，。請參見中的波形。這些寄生電感的峰值充電交叉調節影響通常比整流器正向壓降單引起的要差得多。當對兩個輸出施加重載時，在整個1-D周期內，次級繞組電流在兩個次級繞組中流動。您可以看到上方紅色跡線上的基座電壓。

5、測量其他設備

一台設備測量後，關閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調節閥。將轉接頭從SF₆電氣設備上取下。如果需要繼續測量其他設備，按照上麵步驟繼續測量下一台設備。

6、測量結束

所有設備測量結束後，關閉儀器電源。

一、 菜單操作

在測量狀態，通過確定鍵可以進入功能菜單，如圖1。

1、保存數據

在測量狀態，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單，按“確定”鍵，進入保存數據頁麵，保存數據時，可以根據設備進行編號。

設備編號多為六位，可以通過“上”、“下”鍵增加數值大小，“左”、“右”鍵調整數據位數。

輸入編號後，按“確定”鍵，完成保存數據。按“返回”鍵可以返回上一頁，此時不保存數據。

2、查看記錄

在測量狀態，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單，按“確定”鍵，進入查看記錄頁麵。

顯示時從後一個被保存的數據開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數據。時間交錯技術可使用多個相同的ADC（文中雖然僅討論了ADC，但所有原理同樣適用於DAC的時間交錯特性），並以比每一個單數據轉換器工作采樣速率更高的速率來處理常規采樣數據序列。簡單說來，時間交錯（IL）由時間多路複用M個相同的ADC並聯陣列組成。如圖1所示。這樣可以得到更高的淨采樣速率fs（采樣周期Ts=1/fs），哪怕陣列中的每一個ADC實際上以較低的速率進行采樣（和轉換），即fs/M。舉例而言，通過交錯四個10位/100MSPSADC，理論上可以實現10位/400MSPSADC。

3、刪除記錄

在測量狀態，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單，按“確定”鍵，可刪除所有數據。

4、修改時間

在測量狀態，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇修改時間，按“確定”鍵，進入修改時間頁麵。

通過“上”、“下”鍵可以增加時間數值，“左”、“右”鍵可以減小時間數值。

輸入小時、分鐘、秒後，按“確定”鍵可以轉到下一個修改域內。

 當外界熱激勵時，缺陷的存在會影響熱傳導，導致表麵溫度分布異常或表麵溫度隨時間的變化異常。采用紅外熱像儀測量被檢複合材料構件表麵溫度變化，通過一定的信號處理，甚至借助於參塊，獲得其表麵或內部缺陷的特征（包括缺陷的位置、大小及性質等）。一般來說，缺陷越大，越靠近被檢表麵，與基體材料的熱性質差彆越大，越容易被檢測出來。1應用特點紅外熱像檢測是無損檢測方法之一，具有直觀、快速、無汙染、一次檢測麵積大等優點，適用於複合材料構件的現場、快速檢測，如器結構的原位檢測。