HN2016智能sf6微水測試儀sf6微水測試儀 SF6氣體回收裝置 sf6冷鏡法露點儀 定製定做

露點	測量範圍	－80 ℃～+20 ℃
	測量精度	±1℃（－80℃～＋20℃）
	測量時間 （＋20℃）	<3分鐘。
環境溫度	－40℃～＋60℃

當總線變為空閒時，若RXD引腳輸出低電平，則可能導致MCU接收到錯誤數據或MCU在正常數據後誤接收1個000。RSM485PCHT門限電平數據發生了什麼變化?如所示，1在AB差分電壓處於±200mV門限電平之內時輸出高電平，2在AB差分電壓處於±200mV門限電平之內時輸出低電平，可以看出，2可能導致MCU接收到錯誤的數據，並且在數據後誤接收到1個000數據。數據後多000如所示，若總線上持續存在數據信號或連續發送多個字節數據，在數據之間存在的空閒狀態可能會被2識彆為1個起始位，從而導致數據連續錯誤。1、連接SF₆設備

將測量管道上螺紋端與開關接頭連接好，用扳手擰緊，關閉測量管道上另一端的針型閥；

再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口；

將排氣管道連接到出氣口。

後將開關接頭與SF₆電氣設備測量接口連接好，用扳手擰緊；

2、檢查電量

本儀器優先使用交流電。

使用直流電時，請查看右上角顯示的電池電量，如果電量低於約20％，請關機充電後繼續使用。

3、開始測量

打開儀測量管道上的針型閥，然後用麵板上的流量閥調節流量，把流量調節到0.5L/M左右，開始測量SF₆露點。

設備測量時間需要5～10分鐘，其後每台設備需要3～5分鐘。

4、存儲數據

設備測量完成後，可以將數據保存在儀器中，按“確定”鍵調出操作菜單，具體操作方式見下節內容。半導體材料研究和器件測試通常要測量樣本的電阻率和霍爾電壓。半導體材料的電阻率主要取決於體摻雜，在器件中，電阻率會影響電容、串聯電阻和閾值電壓。霍爾電壓測量用來推導半導體類型(n還是p)、自由載流子密度和遷移率。為確定半導體範德堡法電阻率和霍爾電壓，進行電氣測量時需要一個電流源和一個電壓表。為自動進行測量，一般會使用一個可編程開關，把電流源和電壓表切換到樣本的所有側。A-SCS參數儀擁有4個源測量單元(SMUs)和4個前置放大器(用於高電阻測量)，可以自動進行這些測量，而不需可編程開關。

5、測量其他設備

一台設備測量後，關閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調節閥。將轉接頭從SF₆電氣設備上取下。如果需要繼續測量其他設備，按照上麵步驟繼續測量下一台設備。

6、測量結束

所有設備測量結束後，關閉儀器電源。

一、 菜單操作

在測量狀態，通過確定鍵可以進入功能菜單，如圖1。

1、保存數據

在測量狀態，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單，按“確定”鍵，進入保存數據頁麵，保存數據時，可以根據設備進行編號。

設備編號多為六位，可以通過“上”、“下”鍵增加數值大小，“左”、“右”鍵調整數據位數。

輸入編號後，按“確定”鍵，完成保存數據。按“返回”鍵可以返回上一頁，此時不保存數據。

2、查看記錄

在測量狀態，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單，按“確定”鍵，進入查看記錄頁麵。

顯示時從後一個被保存的數據開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數據。磁致伸縮液位計磁致伸縮液位計的傳感器工作時，傳感器的電路部分將在波導絲上激勵出脈衝電流，該電流沿波導絲傳播時會在波導絲的周圍產生脈衝電流磁場。在磁致伸縮液位計的傳感器測杆外配有一浮子，此浮子可以沿測杆隨液位的變化而上下移動。在浮子內部有一組磁環。當脈衝電流磁場與浮子產生的磁環磁場相遇時，浮子周圍的磁場發生改變從而使得由磁致伸縮材料做成的波導絲在浮子所在的位置產生一個扭轉波脈衝，這個脈衝以固定的速度沿波導絲傳回並由檢出機構檢出。

3、刪除記錄

在測量狀態，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單，按“確定”鍵，可刪除所有數據。

4、修改時間

在測量狀態，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇修改時間，按“確定”鍵，進入修改時間頁麵。

通過“上”、“下”鍵可以增加時間數值，“左”、“右”鍵可以減小時間數值。

輸入小時、分鐘、秒後，按“確定”鍵可以轉到下一個修改域內。

 安裝原則1）發射麵到液位的距離，應小於選購儀表的量程。發射麵到液位的距離，應大於選購儀表的盲區。的發射麵應該與液體表麵保持平行。的安裝位置應儘量避開正下方進、出料口等液麵劇烈波動的位置。若池壁或罐壁不光滑，儀表安裝位置需離開池壁或罐壁.3m以上。若發射麵到液位的距離小於選購儀表的盲區，需加裝延伸管，延伸管管徑大於12mm，長度.35m～.5m，垂直安裝，內壁光滑，罐上開孔應大於延伸管內徑。