HN2016智能sf6微水測試儀sf6露點儀 氣體抽真空充放裝置 sf6冷鏡式露點測試儀 30年經驗

露點	測量範圍	－80 ℃～+20 ℃
	測量精度	±1℃（－80℃～＋20℃）
	測量時間 （＋20℃）	<3分鐘。
環境溫度	－40℃～＋60℃

電子負載，顧名思義，是用電子器件實現的“負載”功能。具體地說，電子負載是通過控製內部功率器件MOSFET或晶體管的導通量，使功率管耗散功率，消耗電能的設備。電子負載類似於可以拉載電流的輸入設備，如同一個可編程的功率電阻。直流電子負載應用領域直流電子負載通過模擬實物負載和負載波形，可以實現對電源供應器規格特性的測試，也可以作為ATE或ATS係統的組成單元，在線對充電器、蓄電池等的壽命特性及功率電子元器件的參數特性進行測試。1、連接SF₆設備

將測量管道上螺紋端與開關接頭連接好，用扳手擰緊，關閉測量管道上另一端的針型閥；

再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口；

將排氣管道連接到出氣口。

後將開關接頭與SF₆電氣設備測量接口連接好，用扳手擰緊；

2、檢查電量

本儀器優先使用交流電。

使用直流電時，請查看右上角顯示的電池電量，如果電量低於約20％，請關機充電後繼續使用。

3、開始測量

打開儀測量管道上的針型閥，然後用麵板上的流量閥調節流量，把流量調節到0.5L/M左右，開始測量SF₆露點。

設備測量時間需要5～10分鐘，其後每台設備需要3～5分鐘。

4、存儲數據

設備測量完成後，可以將數據保存在儀器中，按“確定”鍵調出操作菜單，具體操作方式見下節內容。一直以來，設計中的電磁乾擾（EMI）問題十分令人頭疼，尤其是在汽車領域。為了儘可能的減小電磁乾擾，設計人員通常會在設計原理圖和繪製布局時，通過降低高di/dt的環路麵積以及開關轉換速率來減小噪聲源。有時無論布局和原理圖的設計多麼謹慎，仍然無法將傳導EMI降低到所需的水平。這是因為噪聲不僅取決於電路寄生參數，還與電流強度有關。另外，開關打開和關閉的動作會產生不連續的電流，這些不連續電流會在輸入電容上產生電壓紋波，從而增加EMI。

5、測量其他設備

一台設備測量後，關閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調節閥。將轉接頭從SF₆電氣設備上取下。如果需要繼續測量其他設備，按照上麵步驟繼續測量下一台設備。

6、測量結束

所有設備測量結束後，關閉儀器電源。

一、 菜單操作

在測量狀態，通過確定鍵可以進入功能菜單，如圖1。

1、保存數據

在測量狀態，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單，按“確定”鍵，進入保存數據頁麵，保存數據時，可以根據設備進行編號。

設備編號多為六位，可以通過“上”、“下”鍵增加數值大小，“左”、“右”鍵調整數據位數。

輸入編號後，按“確定”鍵，完成保存數據。按“返回”鍵可以返回上一頁，此時不保存數據。

2、查看記錄

在測量狀態，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單，按“確定”鍵，進入查看記錄頁麵。

顯示時從後一個被保存的數據開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數據。PID（PotentianInducedDegradation）是一種電勢誘導衰減現象，是指組件長期在高電壓下使得玻璃，封裝材料之間存在漏電流，大量電荷聚集在電池表麵。使得電池表麵的鈍化效果惡化，導致填充因子（FF），短路電流（Isc），開路電壓（Voc）降低，使得組件的性能低於設計標準，發電能力也隨之下降。2010年，NREL和Solon證實了無論組件采取何種技術的P型晶矽電池，組件在負偏壓下都有PID的風險。

3、刪除記錄

在測量狀態，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單，按“確定”鍵，可刪除所有數據。

4、修改時間

在測量狀態，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇修改時間，按“確定”鍵，進入修改時間頁麵。

通過“上”、“下”鍵可以增加時間數值，“左”、“右”鍵可以減小時間數值。

輸入小時、分鐘、秒後，按“確定”鍵可以轉到下一個修改域內。

 在該電源接入電網後，會對電網內其他的用電設備產生影響，導致電網內直流電源的輸出紋波較高，無法正常測試。即使移除地線的連接，將交直流源各自分開至很遠的位置，並通過不同的空開接入後，乾擾依舊存在。某電源對電網內直流源輸出乾擾波形而在相同的測試環境使用APM全天科技可編程交流電源後，直流源輸出純淨穩定，無任何影響。APM全天科技可編程交流電源通過嚴苛的EMC測試等級，符合歐盟電磁兼容指令214/3/EU/EN61326-1:213ClassA以及FCCCFR47第15部分的要求。