產品名稱：直流斷路器試驗設備HNDL 大電流衝擊試驗裝置 容量大 定製定做

HNDL20KA型直流開關試驗裝置 直流斷路器試驗設備HNDL 大電流衝擊試驗裝置 容量大 定製定做
利用計算機控製技術和現代電力電子技術研究設計的一種大電流低電壓直生裝置，主要用於直流開關的檢測試驗，如直流開關大電流脫扣定值的校驗、分流器及隔離放大器特性測試、開關動作時間測試等，並自動記錄測試的有關數據。無論是實驗室環境還是生產車間，都需要采用更的半導體測試方法。半導體測試是NI的戰略重點。我們正在擴展我們的軟件平台和PXI功能，以幫助芯片製造商應對他們麵臨的挑戰，這一點通過NI的PXISMU可以完全體現出來。”由於其高吞吐量、高性價比和占地麵積小，NI的半導體測試係統(STS)正在快速應用到芯片生產中。全新的PXIe-4163SMU則進一步增強了這些功能，它能提供更高的直流通道密度，使多站點應用具有更高的並行性，以及在生產中提供實驗室級彆的測量質量。

應用：

    HNDL20KA型直流開關試驗裝置是專門設計用於對地鐵及輕軌用DC1500V、DC750V直流開關及其隔離放大器、保護裝置進行功能試驗的設備，通過模擬輸出故障電流或過負荷電流，測試直流開關的大電流脫扣特性或過熱跳閘特性及延時特性，測試隔離放大器特性和保護裝置特性。MPT1000電機測試平台對於堵轉電流測試，有一套完整的方案。堵轉測試分為常規堵轉測試和國標堵轉測試。常規堵轉測試，是經市場檢驗的易於使用和願意接受的方案，過程簡單，成本較低。當設備準備就緒後，給被測電機以額定電壓，使其運行在空載狀態下，運行穩定後給電機加載並逐漸增加負載，直至被測電機轉速降低並堵轉；或者采用MPT電機測試係統為客戶定製的堵轉件直接將電機堵轉，再給電機施加額定電壓。在電機停轉的短時間內，利用高速、高精度數據采集係統采集被測電機的扭矩、電壓、電流等數據並計算得出關於電機的測量參數和計算參數，並通過功率儀和工控機顯示在屏幕上並儲存下來，所存儲的數據均可方便導出和打印，大大方便電機堵轉數據的。

特點：

智能化及圖形顯示：HNDL20KA型直流開關試驗裝置由嵌入式微機係統控製，輸出電流的波形、幅值可通過人機界麵準確控製。輸出電流在顯示器上以圖形方式顯示，可方便計算、顯示直流開關的動作時間，並能存儲、打印測量結果。

多種輸出波形選擇：理論上輸出波形可有任意多種。本試驗裝置標準波形配置為常用的指數曲線，該曲線的幅值、時間常數可設定。

輸出準確：按預先設定的波形參數輸出，綜合誤差隻有2%。顯示屏的發光一般在380-780nm可見光範圍內，彩色顯示一般通過紅綠藍三基色控製技術得到彩像。對於不同顯示屏，其光譜功率分布（SPD）相差較大（是典型LCD，LEOLED光譜圖），但藍光成分都相對比較突出。藍光是組成白光和其它色光的重要成分，但過高能量的藍光卻會對健康造成影響甚至傷害，對此，相關標準與報告中都有確切的規定以及。幾種典型顯示屏的光譜功率分布（SPD）視網膜藍光危害及其評價參數可見光波段的輻射一般通過眼睛的眼角膜和晶狀體聚焦成像至視網膜上，從而達到視見效果，如所示。

測量及計時精度高：輸出電流、開關接點動作狀態通過測量回路測量並以圖形方式在顯示器上顯示，準確計算有關參數，電流測量精度為2%，時間測量精度為1mS

保護電路完善：HNDL20KA型直流開關試驗裝置有完善的保護電路,如過流速斷保護、過流超時保護等。

接線方便：HNDL20KA型直流開關試驗裝置通過隨裝置提供的電纜與被試開關主觸頭端子相連，注意不得隨意采用其它電纜。

模塊化設計：HNDL20KA型直流開關試驗裝置采用模塊化設計，特彆是2號櫃的降壓整流輸出單元，每一個模塊的輸出電流為5000A，方便維護和使用。根據用戶需要，可定製10000A、15000A、20000A、30000A、40000A等規格的直流開關試驗裝置（HNDL10KA 、HNDL20KA 30KA、 HNDL40KA）也就是說，隻要振鈴、過衝和地電平不導致邏輯跳變，那麼這些模擬特點對MSO就不是問題。與邏輯儀一樣，MSO使用門限電壓，確定信號是邏輯值高還是邏輯值低。MSO4係列可以為每條通道立設置門限，適合調試帶有混合邏輯家族的電路。MSO4在其中一個數字適配夾上測量五個邏輯信號，它同時測量三個TTL(晶體管-晶體管邏輯)信號和兩個LVPECL(低壓正發射器-耦合邏輯)信號。MSO2和MSO3係列則為每個適配夾設置門限(一組8條通道)，因此TTL信號將位於個適配夾上，而LVPECL信號則位於個適配夾上。