產品名稱：直流大電流發生器HNDL JP櫃溫升試驗設備 容量大 30年經驗

HNDL20KA型直流開關試驗裝置 直流大電流發生器HNDL JP櫃溫升試驗設備 容量大 30年經驗
利用計算機控製技術和現代電力電子技術研究設計的一種大電流低電壓直生裝置，主要用於直流開關的檢測試驗，如直流開關大電流脫扣定值的校驗、分流器及隔離放大器特性測試、開關動作時間測試等，並自動記錄測試的有關數據。晚上看書的時候電燈突然一閃一閃的？又是閃變在作怪了。那什麼是閃變呢？為什麼會產生閃變呢？下麵我們先從理論的方麵來理性的認識閃變，然後通過一個實際的案例來感性的感受一下閃變在現實生活中的存在。閃變的定義閃變是人眼對燈光亮度變化所引起刺激的不穩定感。即人對亮度變化的不適感。IEC61000-4-15規定了“燈—眼—腦”模型來衡量，反映了大多數人如何受閃爍白熾燈的影響。閃變的影響閃變的產生多數是因為電網電壓變動導致照明亮度發生變化。

應用：

    HNDL20KA型直流開關試驗裝置是專門設計用於對地鐵及輕軌用DC1500V、DC750V直流開關及其隔離放大器、保護裝置進行功能試驗的設備，通過模擬輸出故障電流或過負荷電流，測試直流開關的大電流脫扣特性或過熱跳閘特性及延時特性，測試隔離放大器特性和保護裝置特性。HIOKI冬季新產品，熱流數據采集儀LR8432。該款數采與以往的便攜式數采有著相似的外觀，但在功能上卻有著與不同的地方。“熱流”測量功能，了解何為“熱流。”熱流：即“熱流量”，是一定麵積的物體兩側存在溫差時，單位時間內由導熱、對流、輻射方式通過該物體所傳遞的熱量。通俗來講，溫度變化時，勢必包含熱能的移動。熱能是溫度變化所釋放的能量，與水和電相同由高到低的轉移。這種熱能移動的程度即用“熱流”來表示，單位時間單位麵積流。

特點：

智能化及圖形顯示：HNDL20KA型直流開關試驗裝置由嵌入式微機係統控製，輸出電流的波形、幅值可通過人機界麵準確控製。輸出電流在顯示器上以圖形方式顯示，可方便計算、顯示直流開關的動作時間，並能存儲、打印測量結果。

多種輸出波形選擇：理論上輸出波形可有任意多種。本試驗裝置標準波形配置為常用的指數曲線，該曲線的幅值、時間常數可設定。

輸出準確：按預先設定的波形參數輸出，綜合誤差隻有2%。工業使用的儀器，使用一定時期後，將滿足產品老化，老化的試驗和環境試驗，它可以檢測早期文書的一個潛在故障，準備的解決方案和解決方案，尤其是可以發現的常見故障，所以相同的儀器設備早期通過修改電路和方法恢複，有助於提高耐久性和可靠性的工具。老化測試一般的老化測試時對部分儀器儀表進行長時間通電運行，並測量其平均無故障工作時間，總結這些儀器儀表的故障特點，找出它們的共性問題加以解決。環境試驗環境試驗一般根據儀器儀表的工作環境而確定具體的試驗內容，並按照規定的方法進行試驗。

測量及計時精度高：輸出電流、開關接點動作狀態通過測量回路測量並以圖形方式在顯示器上顯示，準確計算有關參數，電流測量精度為2%，時間測量精度為1mS

保護電路完善：HNDL20KA型直流開關試驗裝置有完善的保護電路,如過流速斷保護、過流超時保護等。

接線方便：HNDL20KA型直流開關試驗裝置通過隨裝置提供的電纜與被試開關主觸頭端子相連，注意不得隨意采用其它電纜。

模塊化設計：HNDL20KA型直流開關試驗裝置采用模塊化設計，特彆是2號櫃的降壓整流輸出單元，每一個模塊的輸出電流為5000A，方便維護和使用。根據用戶需要，可定製10000A、15000A、20000A、30000A、40000A等規格的直流開關試驗裝置（HNDL10KA 、HNDL20KA 30KA、 HNDL40KA）無論是實驗室環境還是生產車間，都需要采用更的半導體測試方法。半導體測試是NI的戰略重點。我們正在擴展我們的軟件平台和PXI功能，以幫助芯片製造商應對他們麵臨的挑戰，這一點通過NI的PXISMU可以完全體現出來。”由於其高吞吐量、高性價比和占地麵積小，NI的半導體測試係統(STS)正在快速應用到芯片生產中。全新的PXIe-4163SMU則進一步增強了這些功能，它能提供更高的直流通道密度，使多站點應用具有更高的並行性，以及在生產中提供實驗室級彆的測量質量。