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HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗係統 三回路配電箱溫升試驗裝置HNDL 大電流衝擊試驗裝置 容量大 5年保修
聯係人車高平13608980122/15689901059用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術性能需滿足根據GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關櫃進行試驗的要求。所以,非製冷紅外焦平麵探測器是CMOS-MEMS單體集成的大陣列器件。非晶矽紅外探測器結構應用領域非製冷紅外探測器在**和商用領域具有非常廣泛的應用:**領域**領域應用包括熱觀瞄(TWS)、便攜式視覺增強、車載視覺增強(DVE)、遠程站(RWS)、無人機(U)、無人駕駛地麵車輛、觀察指揮車、火控和製導等,如所示。非製冷紅外探測器在**領域的主要應用熱像測溫領域熱像測溫用於預防性檢測,對電力輸電線路、發電設備、機械設備等通過紅外熱像儀檢測異常發熱區域,可以預防重大停機以及事故的發生。
1.2 技術參數要求
恒流輸出電流:AC範圍 0到額定電流,連續可調, 且該輸出電流為真有效值(指負載被試開關櫃及相關標準規定的試驗附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩定輸出時間應滿足工作時間要求)
輸出波形:標準正弦波
輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)
輸出電壓:0-6V,且連續可調
工作時間:大電流輸出不少於24小時
輸出相數:三相 多路
而對於支撐端到端傳輸的基礎網絡而言,低延時(微秒級)、無損(lossless)則是重要的指標。低延時網絡轉發延時主要產生在設備節點(這裡忽略了光電傳輸延時和數據串行延時),設備轉發延時包括以下三部分:存儲轉發延時:芯片轉發線處理延遲,每個hop會產生1微秒左右的芯片處理延時(業界也有嘗試使用cut-through模式,單跳延遲可以降低到0.3微秒左右);Buffer緩存延時:當網絡擁塞時,報文會被緩存起來等待轉發。
1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)
序號 |
名稱 |
數量 |
1 |
3回路三相0-100A電流調節器 |
1 |
2 |
3回路三相0-400A電流調節器 |
1 |
3 |
3回路三相0-630A電流調節器 |
1 |
4 |
3回路三相0-800A電流調節器 |
1 |
